ISO 13095:2014 表面化学分析—原子間力顕微鏡—ナノ構造測定に使用されるAFMプローブシャンクプロファイルのinsitu特性評価の手順

ISO 13095:2014の概要

ISO13095:2014の規格概要

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Surface Chemical Analysis — Atomic force microscopy — Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement

ISO 13095:2014は、AFMプローブチップの形状を特徴付ける2つの方法、具体的にはシャンクとおおよそのチッププロファイルを指定しています。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO13095:2014 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 13095:2014
ISO 国際規格名称
Surface Chemical Analysis — Atomic force microscopy — Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — 原子間力顕微鏡 — ナノ構造測定に使用されるAFMプローブシャンクプロファイルのinsitu特性評価の手順
発行日 (Publication date)
2014-08-05
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2021-06-25
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
25
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 201/SC 9:走査型プローブ顕微鏡 (Scanning probe microscopy)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
71.040.40:化学分析 (Chemical analysis)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40

ISO 13095:2014 関連規格 履歴一覧

ISO13095:2014 対応 JIS 規格一覧

ISO13095:2014 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71:化学技術  > 71.040:分析化学  > 71.040.40:化学分析

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。