ISO 13696:2002 光学および光学機器—光学部品によって散乱された放射線の試験方法

ISO 13696:2002の概要

ISO13696:2002の規格概要

閲覧 情報

Optics and optical instruments — Test methods for radiation scattered by optical components

ISO 13696:2002は、コーティングされた光学面とコーティングされていない光学面による全散乱を決定するための手順を指定しています、光学部品の全散乱に対する前方散乱と後方散乱の寄与を測定するための手順が示されています、ISO13696:2002は、曲率半径が10mを超える光学面を持つコーティングされた光学部品とコーティングされていない光学部品に適用されます、波長範囲には、紫外線、可視、および赤外線のスペクトル領域が含まれます、

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO13696:2002 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 13696:2002
ISO 国際規格名称
Optics and optical instruments — Test methods for radiation scattered by optical components
ISO 規格名称 日本語訳
光学および光学機器 — 光学部品によって散乱された放射線の試験方法
発行日 (Publication date)
2002-08-22
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2019-01-07
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
26
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 172/SC 9:エレクトロオプティカルシステム (Laser and electro-optical systems)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
31.260:オプトエレクトロニクス.レーザー設備 (Optoelectronics. Laser equipment)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 31 > 31.260

ISO 13696:2002 関連規格 履歴一覧

ISO13696:2002 対応 JIS 規格一覧

ISO13696:2002 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 31:エレクトロニクス  > 31.260:オプトエレクトロニクス.レーザー設備

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。