ISO 15367-1:2003 レーザーおよびレーザー関連機器—レーザービーム波面の形状を決定するための試験方法—パート1:用語と基本的な側面

ISO 15367-1:2003の概要

ISO15367-1:2003の規格概要

閲覧 情報

Lasers and laser-related equipment — Test methods for determination of the shape of a laser beam wavefront — Part 1: Terminology and fundamental aspects

ISO 15367-1:2003は、伝搬方向にほぼ垂直な平面を横切る波面の位相の空間分布を測定および解釈することにより、レーザービームの波面のトポグラフィーを測定する方法を指定しています、テストレポートで定量的な波面パラメータとその不確かさを提供するための位相分布データの測定と分析の要件が示されています、ISO15367-1:2003に記載されている方法は、連続波レーザーとパルスレーザーの両方、波面変形を説明するパラメータの定義は、位相分布測定からそれらのパラメータを決定するための方法とともに与えられます、

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO15367-1:2003 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 15367-1:2003
ISO 国際規格名称
Lasers and laser-related equipment — Test methods for determination of the shape of a laser beam wavefront — Part 1: Terminology and fundamental aspects
ISO 規格名称 日本語訳
レーザーおよびレーザー関連機器 — レーザービーム波面の形状を決定するための試験方法 — Part 1: 用語と基本的な側面
発行日 (Publication date)
2003-10-10
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2020-11-27
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
20
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 172/SC 9:エレクトロオプティカルシステム (Laser and electro-optical systems)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
31.260:オプトエレクトロニクス.レーザー設備 (Optoelectronics. Laser equipment), 01.040.31:エレクトロニクス(用語集) (Electronics (Vocabularies))
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 31 > 31.260

ISO 15367-1:2003 関連規格 履歴一覧

ISO15367-1:2003 対応 JIS 規格一覧

ISO15367-1:2003 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 31:エレクトロニクス  > 31.260:オプトエレクトロニクス.レーザー設備

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。