ISO 15472:2010 表面化学分析— X線光電子分光計—エネルギースケールの校正 | ページ 2

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

序文

ISO (国際標準化機構) は、各国の標準化団体 (ISO メンバー団体) の世界的な連合です。国際規格の作成作業は、通常、ISO 技術委員会を通じて行われます。技術委員会が設立された主題に関心のある各会員団体は、その委員会に代表される権利を有します。 ISOと連携して、政府および非政府の国際機関もこの作業に参加しています。 ISO は、電気技術の標準化に関するすべての問題について、国際電気標準会議 (IEC) と緊密に協力しています。

国際規格は、ISO/IEC 指令で指定された規則に従って起草されます。 2.

技術委員会の主な任務は、国際規格を準備することです。技術委員会によって採択されたドラフト国際規格は、投票のためにメンバー団体に回覧されます。国際規格として発行するには、投票するメンバー団体の少なくとも 75% による承認が必要です。

このドキュメントの要素の一部が特許権の対象となる可能性があることに注意してください。 ISO は、そのような特許権の一部または全部を特定する責任を負わないものとします。

ISO 15472 は、技術委員会 ISO/TC 201, 表面化学分析、小委員会 SC 7, X 線光電子分光法によって作成されました。

この第 2 版は、第 1 版 (ISO 15472:2001) を取り消し、置き換えます。これは、第 5.8.1.2 節のみに影響するマイナーな改訂を構成します。 ISO 15472:2001 を使用した結果、ゼロ強度を超えるピーク強度の 87% から 95% の範囲の強度でユーザーが開始および終了するように制限する 5.8.1.2 の制約は、過度に慎重であることが明らかになりました。金のような狭いピークの場合、必要な数のデータ ポイントを含めるには、より多くのピークを含める必要があります。これは、5.8.1.2 の新しいテキストに示されているように、精度を損なうことなく実行できます。

Foreword

ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical committee has been established has the right to be represented on that committee. International organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of electrotechnical standardization.

International Standards are drafted in accordance with the rules given in the ISO/IEC Directives, 2.

The main task of technical committees is to prepare International Standards. Draft International Standards adopted by the technical committees are circulated to the member bodies for voting. Publication as an International Standard requires approval by at least 75 % of the member bodies casting a vote.

Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights.

ISO 15472 was prepared by Technical Committee ISO/TC 201, Surface chemical analysis, Subcommittee SC 7, X-ray photoelectron spectroscopy.

This second edition cancels and replaces the first edition (ISO 15472:2001), of which it constitutes a minor revision affecting only Subclause 5.8.1.2. As a result of use of ISO 15472:2001, it became clear that the constraint in 5.8.1.2 limiting users to start and finish at intensities in the range 87 % to 95 % of the peak intensity above zero intensity was over-cautious. For a narrow peak, such as that for gold, it is necessary to include more of the peak to include the required number of data points. This can be done as indicated in the new text of 5.8.1.2 without compromising the accuracy.