ISO 15472:2010 表面化学分析— X線光電子分光計—エネルギースケールの校正 | ページ 5

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

2 参考文献

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  • ISO 18115-1, 表面化学分析 - 語彙 - 1: 一般用語と分光法で使用される用語。

参考文献

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[25]Wagner 、CD, Gale 、LH およびRaymond 、RH 二次元化学状態プロット - X 線光電子分光法による化学状態の識別に使用する標準化されたデータ セット、 Analytical Chemistry 、1979 年 4 月、第 51 巻、No. 4, pp.466-482
[26]Wagner 、CD Photoelectron and Auger energies and the Auger parameter - A data set - Appendix 5, in Practical Surface Analysis - Vol. 1: Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy 、Wiley, Chichester, 1990, pp. 595-634
[27]Klauber , C. Refinement of Magnesium and Aluminium Kα X-ray Source Functions, Surface and Interface Analysis 、1993 年 7 月、Vol. 20, No. 8, pp.703-715
[28]S eah , MP 電子分光計の AES エネルギー校正 - IV: 基準エネルギーの再評価、 Journal of Electron Spectroscopy 、12 月。 1998年、Vol.97, No. 3, pp.235-241

2 Normative references

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  • ISO 18115-1, Surface chemical analysis - Vocabulary - 1: General terms and terms used in spectroscopy.

Bibliography

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[4]Seah, M.P., Jones, M.E. and Anthony, M.T. Quantitative XPS - The calibration of spectrometer intensity/energy response functions - 2: Results of interlaboratory measurements for commercial instruments, Surface and Interface Analysis, Oct. 1984, Vol. 6, No. 5, pp. 242-254
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[6]Wagner, C.D., Riggs, W.M., Davis, L.E., Moulder, J.F. and Muilenberg, G.E. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy, Perkin Elmer Corp, Eden Prairie, MN, 1979
[7]Ikeo, N., Iijima, Y., Niimura, N., Sigematsu, M., Tazawa, T., Matsumoto, S., kojima, K. and nagasawa, Y. Handbook of X-ray Photoelectron Spectroscopy, JEOL, Tokyo, 1991
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[11]Seah, M.P., Gilmore, I.S. and Beamson, G. XPS - Binding-energy calibration of electron spectrometers - 5: Re-evaluation of the reference energies, Surface and Interface Analysis, Aug. 1998, Vol. 26, No. 9, pp. 642-649
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[14]Seah, M.P. and Smith, G.C. Spectrometer energy scale calibration, Appendix 1, in Practical Surface Analysis - Vol. 1: Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, Wiley, Chichester, 1990, pp. 531-540
[15]Savitzky, A. and Golay, M.J.E. Smoothing and differentiation of data by simplified least-squares procedures, Analytical Chemistry, July 1964, Vol. 36, No. 8, pp. 1627-1639
[16]Anthony, M.T. and Seah, M.P. XPS - Energy calibration of electron spectrometers - 2: Results of an interlaboratory comparison, Surface and Interface Analysis, Jun. 1984, Vol. 6, No. 3, pp. 107-115
[17]Seah, M.P. Measurement - AES and XPS, Journal of Vacuum Science and Technology A, May/June 1985, Vol. 3, No. 3, pp. 1330-1337
[18]ISO 7870-1, Control charts - 1: General guidelines
[19]ISO 7873, Control charts for arithmetic average with warning limits
[20]Cumpson, P.J., Seah, M.P. and Spencer, S.J. Simple procedure for precise peak maximum estimation for energy calibration in AES and XPS, Surface and Interface Analysis, Sept. 1996, Vol. 24, No. 10, pp. 687-694
[21]Seah, M.P. and Brown, M.T. Validation and accuracy of software for peak synthesis in XPS, Journal of Electron Spectroscopy, Aug. 1998, Vol. 95, No. 1, pp. 71-93
[22]Cumpson, P.J. and Seah, M.P. Random uncertainties in AES and XPS - 1: Uncertainties in peak energies, intensities and areas derived from peak synthesis, Surface and Interface Analysis, May 1992, Vol. 18, No. 5, pp. 345-360
[23]Schweppe, J., Deslattes, R.D., Mooney, T. and Powell, C.J. Accurate measurement of Mg and Al Kα1,2 X-ray energy profiles, Journal of Electron Spectroscopy, June 1994, Vol. 67, No. 3, pp. 463-478
[24]Wagner, C.D. Auger parameter in electron spectroscopy for the identification of chemical species, Analytical Chemistry, June 1975, Vol. 47, No. 7, pp. 1201-1203
[25]Wagner, C.D., Gale, L.H. and Raymond, R.H. Two-dimensional chemical state plots - A standardized data set for use in identifying chemical states by X-ray photoelectron spectroscopy, Analytical Chemistry, April 1979, Vol. 51, No. 4, pp.466-482
[26]Wagner, C.D. Photoelectron and Auger energies and the Auger parameter - A data set - Appendix 5, in Practical Surface Analysis - Vol. 1: Auger and X-ray Photoelectron Spectroscopy, Wiley, Chichester, 1990, pp. 595-634
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