ISO 16129:2018 表面化学分析— X線光電子分光法—X線光電子分光計の日々の性能を評価するための手順

ISO 16129:2018の概要

ISO16129:2018の規格概要

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Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer

このドキュメントは、ユーザーがX線光電子分光計のいくつかの重要なパラメータを定期的に評価できるように作成されています。

徹底的な性能チェックを提供することを目的としていませんが、代わりに頻繁に実行できる一連の迅速なテストを提供します。

このドキュメントの対象となる機器の動作の側面には、真空、導電性または非導電性の試験片のスペクトルの測定、およびX線源の現在の状態。

機器の性能の他の重要な側面(横方向の解像度など)は、このドキュメントの範囲外です。

このドキュメントは、単色化されたAlKαX線源または単色化されていないAlまたはMgを備えた市販のX線光電子分光計での使用を目的としています。

KαX線源。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO16129:2018 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 16129:2018
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for assessing the day-to-day performance of an X-ray photoelectron spectrometer
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — X線光電子分光法 — X線光電子分光計の日常の性能を評価するための手順
発行日 (Publication date)
2018-11
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2023-10-15
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
2
PDF ページ数 (Number of pages)
18
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 201/SC 7 (Electron spectroscopies)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
71.040.40:化学分析 (Chemical analysis)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40

ISO 16129:2018 関連規格 履歴一覧

ISO16129:2018 対応 JIS 規格一覧

ISO16129:2018 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71:化学技術  > 71.040:分析化学  > 71.040.40:化学分析

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。