この規格ページの目次
ISO 17123-4:2001の概要
ISO17123-4:2001の規格概要
閲覧 情報
Optics and optical instruments — Field procedures for testing geodetic and surveying instruments — Part 4: Electro-optical distance meters (EDM instruments)
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
ISO17123-4:2001 国際規格 情報
- ISO 国際規格番号
- ISO 17123-4:2001
- ISO 国際規格名称
- Optics and optical instruments — Field procedures for testing geodetic and surveying instruments — Part 4: Electro-optical distance meters (EDM instruments)
- ISO 規格名称 日本語訳
- 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 4: 電気光学距離計(EDM機器)
- 発行日 (Publication date)
- 2001-12
- 廃止日:撤回日 (Abolition date,Withdrawal date)
- 2012-05-23
- 状態 (Status)
- 撤回されました (Withdrawn)
- 改訂 (Edition)
- 1
- PDF ページ数 (Number of pages)
- 15
- TC(専門委員会):Technical Committee
- ISO/TC 172/SC 6 測地および測量機器:(Geodetic and surveying instruments)
- ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
- 17.180.30:Optical measuring instruments,
- ISO 対応 JIS 規格
- 測量機器の現場試験手順―第1部:理論, 測量機器の現場試験手順―第4部:光波測距儀, 測量機器の現場試験手順―第5部:トータルステーション, 測量機器の現場試験手順―第6部:回転レーザ, 測量機器の現場試験手順―第8部:GNSS(RTK),
- ICS 対応 JIS 規格
- 17.180.30
ISO 17123-4:2001 関連規格 履歴一覧
- ISO 17123-1:2002
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 1: 理論
- ISO 17123-1:2010
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 1: 理論
- ISO 17123-1:2014
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート1:理論
- ISO 17123-2:2001
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート2:レベル
- ISO 17123-3:2001
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート3:セオドライト
- ISO 17123-4:2012
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート4:電気光学距離計(反射板へのEDM測定)
- ISO 17123-5:2005
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 5: 電子タキオメーター
- ISO 17123-5:2012
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 5: トータルステーション
- ISO 17123-5:2018
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート5:トータルステーション
- ISO 17123-6:2003
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 6: 回転レーザー
- ISO 17123-6:2012
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート6:回転レーザー
- ISO 17123-6:2022
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順— Part 6: 回転レーザー
- ISO 17123-7:2005
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート7:光学配管機器
- ISO 17123-8:2007
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 8: リアルタイムキネマティック(RTK)でのGNSS現場測定システム
- ISO 17123-8:2015
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート8:リアルタイムキネマティック(RTK)でのGNSS現場測定システム
- ISO 17123-9:2018
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート9:地上レーザースキャナー
ISO17123-4:2001 対応 JIS 規格一覧
- JIS B 7912-1:2014:測量機器の現場試験手順―第1部:理論
- JIS B 7912-4:2016:測量機器の現場試験手順―第4部:光波測距儀
- JIS B 7912-5:2016:測量機器の現場試験手順―第5部:トータルステーション
- JIS B 7912-6:2007:測量機器の現場試験手順―第6部:回転レーザ
- JIS B 7912-8:2018:測量機器の現場試験手順―第8部:GNSS(RTK)
ISO17123-4:2001 ICS 対応 JIS 規格
ICS > 17:度量衡及び測定.物理的現象 > 17.180:光学及び光学的測定 > 17.180.30:光学測定機器
ISO 17123-4:2001 修正 一覧 (Amendments)
ISO 17123-4:2001 正誤表 一覧 (Corrigenda)
ISO 17123-4:2001 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 95) 撤回、削除
サブステージコード 95.99 国際規格の撤回 (Withdrawal of International Standard)
ISO 17123-4:2001 持続可能な開発目標 SDGS
この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。
- 17の目標 : [Sustainable Development Goal]
SDGsとは、「Sustainable Development Goals(持続可能な開発目標)」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。