この規格ページの目次
ISO 17123-5:2005の概要
ISO17123-5:2005の規格概要
閲覧 情報
Optics and optical instruments — Field procedures for testing geodetic and surveying instruments — Part 5: Electronic tacheometers
ISO 17123-5:2005 は、建築や測量の測定に使用される電子タキオメーター (トータル ステーション) およびその付属機器の精度 (再現性) を決定および評価する際に採用される現場手順を指定しています。これらのテストは主に、当面のタスクに対する特定の機器の適合性を現場で検証し、他の規格の要件を満たすことを目的としています。これらは、本質的により包括的な受け入れまたはパフォーマンス評価のためのテストとして提案されるものではありません。
ISO 17123-5:2005 は、測定 (より具体的には測定量) の不確かさを評価するプロセスの最初のステップの 1 つと考えることができます。測定結果の不確実性は、さまざまな要因に依存します。これらには、測定における不確実性の表現に関する ISO ガイド (GUM)で規定されている、再現性、再現性 (日間の再現性)、および考えられるすべての誤差原因の徹底的な評価が含まれます。
これらの現場手順は、特別な補助機器を必要としない現場での用途に特化して開発されており、大気の影響を最小限に抑えるように意図的に設計されています。
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
ISO17123-5:2005 国際規格 情報
- ISO 国際規格番号
- ISO 17123-5:2005
- ISO 国際規格名称
- Optics and optical instruments — Field procedures for testing geodetic and surveying instruments — Part 5: Electronic tacheometers
- ISO 規格名称 日本語訳
- 光学および光学機器 — 測地機器および測量機器をテストするための現場手順 — Part 5:電子タキオメーター
- 発行日 (Publication date)
- 2005-04
- 廃止日：撤回日 (Abolition date,Withdrawal date)
- 2012-12-11
- 状態 (Status)
- 撤回されました (Withdrawn)
- 改訂 (Edition)
- 1
- PDF ページ数 (Number of pages)
- 18
- TC（専門委員会）:Technical Committee
- ISO/TC 172/SC 6 測地および測量機器：(Geodetic and surveying instruments)
- ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
- 17.180.30：Optical measuring instruments,
- ISO 対応 JIS 規格
- 測量機器の現場試験手順―第1部:理論, 測量機器の現場試験手順―第4部:光波測距儀, 測量機器の現場試験手順―第5部:トータルステーション, 測量機器の現場試験手順―第6部:回転レーザ, 測量機器の現場試験手順―第8部:GNSS(RTK),
- ICS 対応 JIS 規格
- 17.180.30
ISO 17123-5:2005 関連規格 履歴一覧
- ISO 17123-1:2002
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 1: 理論
- ISO 17123-1:2010
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 1: 理論
- ISO 17123-1:2014
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート1：理論
- ISO 17123-2:2001
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート2：レベル
- ISO 17123-3:2001
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート3：セオドライト
- ISO 17123-4:2001
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 4: 電気光学距離計（EDM機器）
- ISO 17123-4:2012
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート4：電気光学距離計（反射板へのEDM測定）
- ISO 17123-5:2012
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 5: トータルステーション
- ISO 17123-5:2018
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート5：トータルステーション
- ISO 17123-6:2003
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 6: 回転レーザー
- ISO 17123-6:2012
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート6：回転レーザー
- ISO 17123-6:2022
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順— Part 6: 回転レーザー
- ISO 17123-7:2005
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート7：光学配管機器
- ISO 17123-8:2007
(W) 光学および光学機器 — 測地および測量機器をテストするための現場手順 — Part 8: リアルタイムキネマティック（RTK）でのGNSS現場測定システム
- ISO 17123-8:2015
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート8：リアルタイムキネマティック（RTK）でのGNSS現場測定システム
- ISO 17123-9:2018
光学および光学機器—測地および測量機器をテストするための現場手順—パート9：地上レーザースキャナー
ISO17123-5:2005 対応 JIS 規格一覧
- JIS B 7912-1:2014：測量機器の現場試験手順―第1部:理論
- JIS B 7912-4:2016：測量機器の現場試験手順―第4部:光波測距儀
- JIS B 7912-5:2016：測量機器の現場試験手順―第5部:トータルステーション
- JIS B 7912-6:2007：測量機器の現場試験手順―第6部:回転レーザ
- JIS B 7912-8:2018：測量機器の現場試験手順―第8部:GNSS(RTK)
ISO17123-5:2005 ICS 対応 JIS 規格
ICS > 17：度量衡及び測定．物理的現象 > 17.180：光学及び光学的測定 > 17.180.30：光学測定機器
ISO 17123-5:2005 修正 一覧 (Amendments)
ISO 17123-5:2005 正誤表 一覧 (Corrigenda)
ISO 17123-5:2005 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 95) 撤回、削除
サブステージコード 95.99 国際規格の撤回 (Withdrawal of International Standard)
ISO 17123-5:2005 持続可能な開発目標 SDGS
この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。
- 17の目標 : [Sustainable Development Goal]
SDGsとは、「Sustainable Development Goals（持続可能な開発目標）」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。