ISO 17636-2:2022 溶接部の非破壊検査 — 放射線検査 — Part 2: デジタル検出器を使用した X 線およびガンマ線技術 | ページ 5

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

3 用語と定義

このドキュメントの目的のために、ISO 5576 および以下に記載されている用語と定義が適用されます。

ISO および IEC は、次のアドレスで標準化に使用する用語データベースを維持しています。

3.1

コンピュータX線撮影

cr

ストレージ蛍光体イメージングプレート(IP)(3.2)と,IP からの情報をデジタル画像に変換する対応する読み出しユニット(スキャナ又はリーダー)からなる完全なシステム。

3.2

ストレージ蛍光体イメージングプレート

知財

光刺激性発光材料:試験される材料の放射線潜像を保存することができ、適切な波長の赤色光源による刺激により、吸収された放射線に比例した発光を生成する材料。

注記 1: コンピュータ X 線撮影 (3.1) を実施する場合、フィルムの代わりに IP が使用される。 線源サイズ (3.20) または焦点形状に関連する技術を確立する場合、IP は検出器、つまり 線源から検出器までの距離 (3.21) と呼ばれます。

3.3

デジタル検出器アレイ

DDA

電離放射線または透過放射線をアナログ信号の離散配列に変換する電子装置。この信号は、その後デジタル化され、コンピュータに転送されて、装置の入力領域に与えられた放射線エネルギー パターンに対応するデジタル画像として表示されます。

3.4

構造ノイズ

<イメージングプレート>感応層(構造、粒状性)およびイメージングプレート表面の不均一性による局部的な感度変動

注記 1:露出したイメージング プレートをスキャンした後、不均一性はデジタル画像に固定パターン ノイズが重なって表示されます。

注記 2:このノイズは、デジタル CR 画像の達成可能な最大画質を制限し、フィルム画像の粒状性と比較することができます。

3.5

構造ノイズ

<デジタル検出器アレイ> 検出素子 (ピクセル) の特性の違いによる局所的な感度変動

注記1露光された補正されていないデジタル検出器アレイ(DDA) (3.3) 画像の読み出し後、DDA の不均一性は、デジタル画像に固定パターン ノイズが重なって表示されます。したがって、すべての DDA には、読み出し後にソフトウェア ベースの画像補正が必要です (ソフトウェアとガイドラインは製造元から提供されます)適切な補正手順により、構造ノイズが減少します。

注記 2:画像補正は、他の文書では「キャリブレーション」とも呼ばれます。

3.6

グレー値

gv

デジタル画像のピクセルの数値

注記 1:これは通常、「ピクセル値」、「検出器応答」、「アナログ - デジタル単位」、および「検出器信号」という用語と互換性があります。

注記 2:詳細については、附属書 E を参照してください。

3.7

線形化されたグレー値

検出器の露出線量に正比例するピクセルの数値。検出器が露出されていない場合は値がゼロ

注記 1:これは通常、「線形化されたピクセル値」および「線形化された検出器信号」という用語と互換性があります。

3.8

デジタル検出器の基本空間分解能

srb検出器

デジタル画像で測定された検出器の不鮮明さの半分。これは有効なピクセル サイズに対応し、1 倍の倍率でデジタル検出器で解決できる最小の幾何学的詳細を示します。

注記 1この測定では,二重ワイヤ IQI を デジタル検出器アレイ(3.3) またはイメージングプレート上に直接配置する。

注記 2:不鮮明度の測定は、ISO 19232-5 に記載されています。 ASTM E1000 および ASTM E2736 も参照してください。

3.9

デジタル画像の基本的な空間解像度

srb画像

デジタル画像で測定された画像の不鮮明さの半分。これは有効なピクセル サイズに対応し、デジタル画像で解決できる最小の幾何学的詳細を示します。

注記 1:この測定では、二重ワイヤ IQI を対象物 (ソース側) に直接配置します。

注記 2:不鮮明度の測定は、ISO 19232-5 に記載されています。 ASTM E1000 および ASTM E2736 も参照してください。

3.10

信号対雑音比

SNR

デジタル画像の特定 の関心領域(3.25) における線形化されたグレー値(ノイズ)の標準偏差に対する 線形化されたグレー値(3.7) の平均値の比率

3.11

正規化された信号対雑音比

SNR N

信号対雑音比 (3.10) は、デジタル画像srbimage基本的な空間分解能 (3.9) によって正規化され、測定された信号対雑音比から次のように計算されます。

注記 1二重ワイヤ IQI が試験対象なしで検出器に直接配置されている場合、 srb画像は測定されたsrb検出器に等しく、 srb画像の代わりに使用できます。

3.12

コントラスト対ノイズ比

CNR

信号レベルの平均標準偏差に対する 2 つの画像領域間の平均信号レベルの差の比

注記 1:信号レベルは、 グレー値 (3.6) or 線形化されたグレー値 (3.7) で測定されます。

注記 2:コントラスト対ノイズ比は画質の構成要素を表しており、X 線写真の減衰係数と SNR の積にほぼ依存します。適切な CNR に加えて、デジタル X 線写真が適切な不鮮明度または基本的な空間分解能を備えて、関心のある目的の特徴を解決することも必要です。

3.13

正規化されたコントラスト対ノイズ比

CNR N

対物側で二重ワイヤ IQI を使用してデジタル画像で直接測定し、測定したコントラストから計算した、デジタル画像の基本空間分解能srbimage (3.9) によって正規化された コントラスト対ノイズ比 (3.12) 。対雑音比、CNR, すなわち

3.14

エイリアシング

入力の空間周波数が出力の空間周波数よりも高い場合に画像に現れるアーティファクトが再現可能

注記 1:エイリアシングは、線のギザギザや階段状のセクション、またはモアレ パターンとして現れることがよくあります。

3.15

クラスタ カーネル ピクセル

CKP

5 つ以上の良好な近傍ピクセルを持たない 不良ピクセル (3.29)

注記 1:不良ピクセルと CKP の詳細については、ASTM E2597 を参照してください。

3.16

呼び厚さ

t

製造公差を考慮する必要がない母材の厚さのみ

3.17

溶け込み厚さの変化

t

ビーム角による 公称厚さ(3.16) に対する 貫通厚さ(3.18) の変化

3.18

貫入厚さ

w

すべての貫通壁の 公称厚さ(3.16) に基づいて計算された,放射ビームの方向における材料の厚さ。

3.19

物体から検出器までの距離

b

放射線ビームの中心軸に沿って測定された、テスト オブジェクトの放射線撮影部分の放射線側と検出器の感応層との間の最大 (最大) 距離

注記 1略語 ODD は他の文書で使用されている。

3.20

ソースサイズ

d

放射線源のサイズまたは焦点サイズ

注記 1: EN 12543 または EN 12679 を参照。

3.21

光源から検出器までの距離

SD D

ビームの方向で測定した、放射線源と検出器の間の距離。

1年生から入学まで:SDD = f + b

どこ
fis 光源から物体までの距離 (3.22) です。
bis 物体から検出器までの距離 (3.19) です。

3.22

光源から物体までの距離

f

放射線ビームの中心軸に沿って測定した、放射線源と試験対象物の線源側との間の距離。

注記1略語SODは他の文書で使用されている。

3.23

外径

De

パイプの外径の公称値

3.24

幾何学的倍率

v

線源から検出器までの距離(3.21) to 線源から物体までの距離(3.22)と の比。

3.25

関心領域

ROI

測定値または統計値、またはその両方を導出できるピクセルの定義済みグループ

3.26

評価する溶接領域

和江

X線写真で評価する領域。両側に溶接部と 熱影響部(3.30) が含まれます。

3.27

関心のある分野

あおい

X線写真で評価する必要があり、溶接部、両側の 熱影響部(3.30) 、およびすべてのリード文字、マーカー、および画質インジケータ(IQI)を含む最小領域

3.28

生画像

補正が行われている場合は,画像補正後に デジタル検出器アレイ(3.3) 又はコンピュータX線撮影(3.1)システムで取得した画像。

3.29

不良ピクセル

デジタル検出器アレイ(3.3) の検出素子(ピクセル)の性能が低い。

注記 1:不良ピクセルは ASTM E2597 に記載されています。

3.30

熱影響部

HAZ

溶接の加熱および冷却プロセスによって影響を受ける溶接部の横の領域。溶接部の横の 2 つの領域と見なされ、それぞれが溶接キャップと同じ幅であるが、評価のために考慮される少なくとも 10 mm の幅を持つ

参考文献

[1]ISO 5579, 非破壊検査 — フィルムと X 線またはガンマ線を使用した金属材料の放射線透過試験 — 基本規則
[2]ISO 5580, 非破壊検査 - 工業用放射線撮影照明器 - 最小要件
[3]ISO 1067, 溶接部の非破壊検査 — 放射線検査の許容レベル
[4]ISO 16371-2, 非破壊検査 — ストレージ フォスファー イメージング プレートを使用した産業用コンピュータ X 線撮影 — 2: X 線およびガンマ線を使用した金属材料の試験の一般原則
[5]ISO 17636-1, 溶接部の非破壊検査 — 放射線透過試験 — 1: フィルムによる X 線およびガンマ線技術
[6]ISO 19232-3, 非破壊検査 — X線写真の画質 — 3: 画質クラス
[7]ISO/TS 25107:2019, 非破壊検査 - NDT トレーニング シラバス
[8]EN 1268, 創設 — 放射線検査
[9]EN 14784-2, 非破壊検査 — ストレージ蛍光体イメージング プレートを使用した産業用コンピュータ X 線撮影 — 2: X 線およびガンマ線を使用した金属材料の試験の一般原則
[10]EN 25580, 非破壊検査 - 産業用放射線撮影照明器 - 最小要件
[11]ASTM E1000, 放射線検査の標準ガイド
[12]ASTM E2002, X線撮影および放射線透視における画像の不鮮明度および基本的な空間解像度を決定するための標準的な方法
[13]ASTM E2445, コンピュータ放射線システムの認定および長期安定性に関する標準プラクティス
[14]ASTM E2446, コンピュータ放射線システムの分類に関する標準プラクティス
[15]ASTM E2597, デジタル検出器アレイの製造キャラクタリゼーションの標準プラクティス
[16]ASTM E2698, デジタル検出器アレイを使用した放射線検査の標準プラクティス
[17]ASTM E2736, デジタル検出器アレイ放射線学の標準ガイド
[18]ASTM E2737, デジタル検出器アレイの性能評価および長期安定性に関する標準プラクティス

3 ​Terms and definitions

For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 5576 and the following apply.

ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:

3.1

computed radiography

cr

complete system comprising a storage phosphor imaging plate (IP) (3.2) and a corresponding read-out unit (scanner or reader), which converts the information from the IP into a digital image

3.2

storage phosphor imaging plate

IP

photostimulable luminescent material capable of storing a latent radiographic image of a material being tested and which, upon stimulation by a source of red light of appropriate wavelength, generates luminescence proportional to radiation absorbed

Note 1 to entry: When performing computed radiography (3.1) , an IP is used in lieu of a film. When establishing techniques related to source size (3.20) or focal geometries, the IP is referred to as a detector, i.e. source-to-detector distance (3.21) .

3.3

digital detector array

DDA

electronic device converting ionizing or penetrating radiation into a discrete array of analogue signals which are subsequently digitized and transferred to a computer for display as a digital image corresponding to the radiologic energy pattern imparted upon the input region of the device

3.4

structure noise

<imaging plate> local sensitivity variations due to inhomogeneities in the sensitive layer (structure, graininess) and surface of an imaging plate

Note 1 to entry: After scanning of the exposed imaging plate, the inhomogeneities appear as overlaid fixed pattern noise in the digital image.

Note 2 to entry: This noise limits the maximum achievable image quality of digital CR images and can be compared with the graininess in film images.

3.5

structure noise

<digital detector array> local sensitivity variations due to different properties of detector elements (pixels)

Note 1 to entry: After read-out of the exposed uncorrected digital detector array (DDA) (3.3) image, the inhomogeneities of the DDA appear as overlaid fixed pattern noise in the digital image. Therefore, all DDAs require, after read-out, a software-based image correction (software and guidelines are provided by the manufacturer). A suitable correction procedure reduces the structure noise.

Note 2 to entry: The image correction is also called “calibration” in other documents.

3.6

grey value

gv

numeric value of a pixel in a digital image

Note 1 to entry: This is typically interchangeable with the terms “pixel value”, “detector response”, “analogue-to-digital unit” and “detector signal”.

Note 2 to entry: For further information, see Annex E.

3.7

linearized grey value

numeric value of a pixel which is directly proportional to the detector exposure dose, having a value of zero if the detector was not exposed

Note 1 to entry: This is typically interchangeable with the terms “linearized pixel value” and “linearized detector signal”.

3.8

basic spatial resolution of a digital detector

srbdetector

half of the measured detector unsharpness in a digital image, which corresponds to the effective pixel size and indicates the smallest geometrical detail which can be resolved with a digital detector at magnification equal to one

Note 1 to entry: For this measurement, the duplex wire IQI is placed directly on the digital detector array (3.3) or imaging plate.

Note 2 to entry: The measurement of unsharpness is described in ISO 19232-5. See also ASTM E1000 and ASTM E2736.

3.9

basic spatial resolution of a digital image

srbimage

half of the measured image unsharpness in a digital image, which corresponds to the effective pixel size and indicates the smallest geometrical detail which can be resolved in a digital image

Note 1 to entry: For this measurement, the duplex wire IQI is placed directly on the object (source side).

Note 2 to entry: The measurement of unsharpness is described in ISO 19232-5. See also ASTM E1000 and ASTM E2736.

3.10

signal-to-noise ratio

SNR

ratio of mean value of the linearized grey values (3.7) to the standard deviation of the linearized grey values (noise) in a given region of interest (3.25) in a digital image

3.11

normalized signal-to-noise ratio

SNRN

signal-to-noise ratio (3.10) normalized by the basic spatial resolution of a digital image, srbimage , (3.9) and calculated from the measured signal-to-noise ratio by:

Note 1 to entry: If the duplex wire IQI is positioned directly on the detector without a test object, srbimage is equal to the measured srbdetector, which can be used instead of srbimage.

3.12

contrast-to-noise ratio

CNR

ratio of the difference of the mean signal levels between two image areas to the averaged standard deviation of the signal levels

Note 1 to entry: Signal levels are measured in grey values (3.6) or linearized grey values (3.7) .

Note 2 to entry: The contrast-to-noise ratio describes a component of image quality and depends approximately on the product of radiographic attenuation coefficient and SNR. In addition to adequate CNR, it is also necessary for a digital radiograph to possess adequate unsharpness or basic spatial resolution to resolve desired features of interest.

3.13

normalized contrast-to-noise ratio

CNRN

contrast-to-noise ratio (3.12) normalized by the basic spatial resolution of a digital image, srbimage, (3.9), as measured directly in the digital image with the duplex wire IQI on the object side and calculated from the measured contrast-to-noise ratio, CNR, i.e.

3.14

aliasing

artefacts that appear in an image when the spatial frequency of the input is higher than the output is capable of reproducing

Note 1 to entry: Aliasing often appears as jagged or stepped sections in a line or as moiré patterns.

3.15

cluster kernel pixel

CKP

bad pixel (3.29) which does not have five or more good neighbourhood pixels

Note 1 to entry: See ASTM E2597 for details of bad pixels and CKP.

3.16

nominal thickness

t

thickness of the parent material only where manufacturing tolerances do not have to be considered

3.17

penetration thickness change

Δt

change of penetrated thickness (3.18) relative to the nominal thickness (3.16) due to beam angle

3.18

penetrated thickness

w

thickness of material in the direction of the radiation beam, calculated on the basis of the nominal thicknesses (3.16) of all penetrated walls

3.19

object-to-detector distance

b

largest (maximum) distance between the radiation side of the radiographed part of the test object and the sensitive layer of the detector, measured along the central axis of the radiation beam

Note 1 to entry: The abbreviated term ODD is used in other documents.

3.20

source size

d

size of the radiation source or focal spot size

Note 1 to entry: See EN 12543 or EN 12679.

3.21

source-to-detector distance

SDD

distance between the source of radiation and the detector, measured in the direction of the beam

Note 1 to entry:SDD = f + b

where
fis source-to-object distance (3.22) ;
bis object-to-detector distance (3.19) .

3.22

source-to-object distance

f

distance between the source of radiation and the source side of the test object, measured along the central axis of the radiation beam

Note 1 to entry: The abbreviated term SOD is used in other documents.

3.23

external diameter

De

nominal value of the external diameter of the pipe

3.24

geometric magnification

v

ratio of source-to-detector distance (3.21) to source-to-object distance (3.22)

3.25

region of interest

RoI

defined group of pixels from which measurements or statistics, or both, can be derived

3.26

weld area to evaluate

WAE

area to be evaluated on the radiograph, which contains the weld and the heat-affected zone (3.30) on both sides

3.27

area of interest

AoI

minimum area which should be evaluated on the radiograph and which contains the weld, the heat-affected zone (3.30) on both sides and all lead letters, markers and image quality indicators (IQIs)

3.28

raw image

image acquired with digital detector arrays (3.3) or computed radiography (3.1) systems after image correction, if a correction has been performed

3.29

bad pixel

underperforming detector element (pixel) of a digital detector array (3.3)

Note 1 to entry: Bad pixels are described in ASTM E2597.

3.30

heat affected zone

HAZ

area beside the weld influenced by the heating and cooling process of the welding, which is considered as the two areas beside the weld, each with the same width as the weld cap but at least 10 mm width to be considered for evaluation

Bibliography

[1]ISO 5579, Non-destructive testing — Radiographic testing of metallic materials using film and X- or gamma rays — Basic rules
[2]ISO 5580, Non-destructive testing — Industrial radiographic illuminators — Minimum requirements
[3]ISO 10675 (all parts), Non-destructive testing of welds — Acceptance levels for radiographic testing
[4]ISO 16371-2, Non-destructive testing — Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates — 2: General principles for testing of metallic materials using X-rays and gamma rays
[5]ISO 17636-1, Non-destructive testing of welds — Radiographic testing — 1: X- and gamma-ray techniques with film
[6]ISO 19232-3, Non-destructive testing — Image quality of radiographs — 3: Image quality classes
[7]ISO/TS 25107:2019, Non-destructive testing — NDT training syllabuses
[8]EN 12681 (all parts), Founding — Radiographic testing
[9]EN 14784-2, Non-destructive testing — Industrial computed radiography with storage phosphor imaging plates — 2: General principles for testing of metallic materials using X-rays and gamma rays
[10]EN 25580, Non-destructive testing — Industrial radiographic illuminators — Minimum requirements
[11]ASTM E1000, Standard Guide for Radioscopy
[12]ASTM E2002, Standard Practice for Determining Total Image Unsharpness and Basic Spatial Resolution in Radiography and Radioscopy
[13]ASTM E2445, Standard Practice for Qualification and Long-Term Stability of Computed Radiology Systems
[14]ASTM E2446, Standard Practice for Classification of Computed Radiology Systems
[15]ASTM E2597, Standard Practice for Manufacturing Characterization of Digital Detector Arrays
[16]ASTM E2698, Standard Practice for Radiological Examination Using Digital Detector Arrays
[17]ASTM E2736, Standard Guide for Digital Detector Array Radiology
[18]ASTM E2737, Standard Practice for Digital Detector Array Performance evaluation and Long-Term Stability