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ISO 19668:2017の概要
ISO19668:2017の規格概要
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Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
ISO 19668:2017は、X線光電子分光法 (XPS) の元素検出限界を、一般的な分析状況での特定のサンプルのデータから推定して報告できる手順を指定しています。
このドキュメントは均質な材料に適用可能であり、要素の深さ分布が技術の情報深度内で不均質である場合には適用されません。
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
ISO19668:2017 国際規格 情報
- ISO 国際規格番号
- ISO 19668:2017
- ISO 国際規格名称
- Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Estimating and reporting detection limits for elements in homogeneous materials
- ISO 規格名称 日本語訳
- 表面化学分析 — X線光電子分光法 — 均質材料中の元素の検出限界の推定と報告
- 発行日 (Publication date)
- 2017-08
- 更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
- 2022-12-05
- 状態 (Status)
- 公開中,公開済み (Published)
- 改訂 (Edition)
- 1
- PDF ページ数 (Number of pages)
- 24
- TC（専門委員会）:Technical Committee
- ISO/TC 201/SC 7：電子分光法 (Electron spectroscopies)
- ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
- 71.040.40：化学分析 (Chemical analysis)
- ISO 対応 JIS 規格
- ICS 対応 JIS 規格
- ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40
ISO 19668:2017 関連規格 履歴一覧
ISO19668:2017 対応 JIS 規格一覧
ISO19668:2017 ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71：化学技術 > 71.040：分析化学 > 71.040.40：化学分析
正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)
改訂 一覧 (Revised)
SDGs 情報
この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。
- 目標 7 手ごろな価格でクリーンなエネルギー (Affordable and Clean Energy)
- 目標 9 産業、イノベーション、インフラストラクチャ (Industry, Innovation and Infrastructure)
- 目標 8 まともな仕事と経済成長 (Decent Work and Economic Growth)
- 17の目標 : [Sustainable Development Goal]
SDGsとは、「Sustainable Development Goals（持続可能な開発目標）」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。
17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。