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ISO 29301:2017の概要
ISO29301:2017の規格概要
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Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures
ISO 29301:2017 は、透過型電子顕微鏡 (TEM) で広い倍率範囲にわたって記録された画像に適用できるキャリブレーション手順を規定しています。
校正に用いる標準物質は、回折格子のレプリカ、半導体の超格子構造やX線分析用の分光結晶、炭素や金、シリコンなどの結晶格子像などの周期構造を持っています。
このドキュメントは、写真フィルムまたはイメージング プレートに記録された TEM 画像の倍率、またはデジタル カメラに組み込まれたイメージ センサーによって検出された TEM 画像の倍率に適用されます。
このドキュメントでは、スケール バーのキャリブレーションについても言及しています。
本書は、測長専用TEM (CD-TEM) および走査型透過電子顕微鏡 (STEM) には適用されません。
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
ISO29301:2017 国際規格 情報
- ISO 国際規格番号
- ISO 29301:2017
- ISO 国際規格名称
- Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures
- ISO 規格名称 日本語訳
- マイクロビーム解析 — 分析電子顕微鏡法 — 周期構造を持つ標準物質を使用して画像倍率を較正する方法
- 発行日 (Publication date)
- 2017-12
- 更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
- 2022-10-15
- 状態 (Status)
- 公開中,公開済み (Published)
- 改訂 (Edition)
- 2
- PDF ページ数 (Number of pages)
- 44
- TC（専門委員会）:Technical Committee
- ISO/TC 202/SC 3：分析電子顕微法 (Analytical electron microscopy)
- ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
- 37.020：光学設備 (Optical equipment)
- ISO 対応 JIS 規格
- ICS 対応 JIS 規格
- ICS > 37 > 37.020
ISO 29301:2017 関連規格 履歴一覧
- ISO 29301:2010
- ISO 29301:2017
ISO29301:2017 対応 JIS 規格一覧
ISO29301:2017 ICS 対応 JIS 規格
ICS > 37：映像技術 > 37.020：光学設備
正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)
改訂 一覧 (Revised)
SDGs 情報
この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。
- 目標 9 産業、イノベーション、インフラストラクチャ (Industry, Innovation and Infrastructure)
- 17の目標 : [Sustainable Development Goal]
SDGsとは、「Sustainable Development Goals（持続可能な開発目標）」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。
17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。