この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
このドキュメントの目的のために、ISO 3534-1, ISO 3534-2, ISO 2859-1, および ISO 3951-1 に記載されている用語と定義、および以下が適用されます。
3.1
変数による検査
アイテムの特性の大きさを測定することによる検査
[出典:ISO 3534-2]
3.2
抜き取り検査
検討中のグループ内の選択された項目の検査
[出典:ISO 3534-2]
3.3
受け入れサンプリング
サンプリング後、サンプル結果に基づいて、ロット、または製品、材料、またはサービスの他のグループを受け入れるかどうかの決定が行われます
[出典:ISO 3534-2]
3.4
変数別抜取検査
受入抜取り(3.3) ロットからのサンプルにおける各項目の指定された品質特性に関する測定値から、プロセスの合格性が統計的に決定される検査。
[出典:ISO 3534-2]
3.5
プロセス平均
プロセスによって不適合アイテムが生成される割合
3.6
受け入れ品質限界
AQL
最悪の許容品質レベル
[出典:ISO 3534-2]
注記 1この概念は、ISO 2859-1, ISO 3951-1, または ISO 3951 のこの部分など、切り替えと中止の規則を伴うサンプリング方式が使用される場合にのみ適用されます。
注記2許容品質限界と同程度の品質を持つ個々のロットはかなり高い確率で受け入れられる可能性がありますが、許容品質限界の指定は、これが望ましい品質レベルであることを示唆するものではありません。 ISO 2859-1, ISO 3951-1, または ISO 3951 のこの部分などの国際規格に見られるサンプリング スキームは、サンプリング検査の切り替えと中止の規則とともに、AQL より一貫して優れたプロセス平均値をサプライヤーに提供するように設計されています。 .そうしないと、検査の厳しさが、ロット合格の基準がより厳しくなる厳しい検査に切り替わる危険性が高くなります。検査が強化されると、プロセスを改善するための措置が講じられない限り、そのような改善が行われるまでサンプリング検査の中止を要求する規則が発動される可能性が非常に高くなります。
3.7
品質レベル
不適合ユニットの発生率として表される品質
3.8
不適合
要件の不履行
[出典:ISO 3534-2]
3.9
不適合ユニット
1 つ以上の不適合があるユニット
[出典:ISO 3534-2]
3.10
「 σ 」法受入抜取計画
シグマ法
工程標準偏差の推定値を用いた変数による抜取計画
注記1: ISO 3534-2から適応。
3.11
仕様限界
特性に対して規定された限界値
[出典:ISO 3534-2]
3.12
下側規格限界
L
下限値を定義する 仕様限界(3.11) 。
[出典:ISO 3534-2]
3.13
仕様上限
U
上限値を定める 規格限界(3.11) 。
[出典:ISO 3534-2]
3.14
複合 AQL 要件
品質特性の上限と下限の両方が指定され、2 つの制限を超えた不適合率の合計に適用される AQL が指定されている場合の要件
注記 1:組み合わせた AQL 要件の使用は、いずれかの仕様限界を超える不適合が、製品の完全性の欠如と同等、または少なくともほぼ同等の重要性を持つと考えられることを意味します。
3.15
別の AQL 要件
品質特性の上限と下限の両方が指定され、各制限に適用される個別の AQL が指定されている場合の要件
注記 1:個別の AQL 要件を使用することは、いずれかの仕様限界を超える不適合が、製品の完全性の欠如に対して異なる重要性を持つと考えられるか、またはそれらを個別に管理することが望まれることを意味します。
3.16
最大工程標準偏差
MPSD
σmax_
任意のサンプルサイズのコード文字と 許容品質限界 (3.6) に対する最大の工程標準偏差。プロセスの変動性が知られている
注記 1 MPSD は、二重仕様限界が結合された、個別の、または複雑な管理下にあるかどうかに依存しますが、検査の厳しさには依存しません。
注記 2: ISO 3534-2 から適応。
3.17
切り替えルール
実証された品質履歴に基づいて、サンプリングの重大度が高いまたは低い別のサンプリング計画に変更するための、サンプリング計画内の指示。
注記 1:通常の、検査の強化または縮小、または検査の中止は、「サンプリングの厳しさ」の例です。
[出典:ISO 3534-2]
3.18
測定値
量の値を決定する目的を持つ一連の操作
[出典:ISO 3534-2]
3.19
余裕
アイテムの測定値から得られる量
注記1規格下限が1重の場合及び規格限界が2重の場合は,測定値から規格下限の数値を引いた値を余裕度とする。上限規格値の場合は、上限規格値の数値から測定値を差し引いた値が余裕度となります。
3.20
累積余裕
検査の開始から最後に検査された項目までの余裕を合計して計算された値。
3.21
累積サンプルサイズ
検査の開始から最後に検査された項目までを含む、検査された項目の総数
3.22
順次サンプリングの許容値
サンプリング計画の指定されたパラメータと累積サンプルサイズから導出された値
注記 1ロットがまだ受け入れられるかどうかは、累積余裕と受け入れ値を比較することによって決定されます。
3.23
順次サンプリングの棄却値
サンプリング計画の指定されたパラメータと累積サンプルサイズから導出された値
注記 1ロットがまだ許容できないとみなされるかどうかは、累積余裕と不合格値を比較することによって決定されます。
3.24
責任機関
ISO 3951 のこの部分の中立性を維持するために使用される概念 (主に仕様の目的で)最初、2 番目、または 3 番目の当事者によって呼び出されるか適用されるかに関係なく
- a)供給者の組織内の品質部門(第一者);
- b)購入者または調達組織(第二者);
- c)独立した検証または認証機関 (第三者) へ。
参考文献
| [1] | Wald 、A. Sequential Analysis, ワイリー、ニューヨーク、1947 |
| [2] | ジョンソン、NL シーケンシャル分析 — 調査、 J. ロイ。追加。社会、 A124 、1961年、pp.372-411 |
| [3] | Ghosh 、統計仮説の BK 逐次検定、Addison-Wesley, ニューヨーク、1970 年 |
| [4] | ISO 31-11:1992, 数量および単位 — 11: 物理科学および技術で使用するための数学的記号および記号 |
| [5] | ISO 2854:1976, データの統計的解釈 - 平均と分散に関する推定と検定の手法 |
| [6] | ISO 2859-2, 属性による検査のためのサンプリング手順 — 2: 分離ロット検査のための限界品質 (LQ) によって索引付けされたサンプリング計画 |
| [7] | ISO 2859-5:2005, 属性による検査のためのサンプリング手順 — 5: ロットごとの検査のための受け入れ品質限界 (AQL) によって索引付けされた順次サンプリング計画のシステム |
| [8] | ISO 2859-10: — 1) 、属性による検査のためのサンプリング手順 — 10: ISO 2859 シリーズの属性サンプリング標準の概要 |
| [9] | ISO 5479:1997, データの統計的解釈 — 正規分布からの逸脱の検定 |
| [10] | ISO 5725-2:1994, 測定方法と結果の正確さ (真実性と精度) — 2:標準的な測定方法の再現性と再現性を決定するための基本的な方法 |
| [11] | ISO 7870:1993, 管理図 — 一般的なガイドと紹介 |
| [12] | ISO 8258:1991, シューハート管理図 |
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 3534-1, ISO 3534-2, ISO 2859-1, and ISO 3951-1 and the following apply.
3.1
inspection by variables
inspection by measuring the magnitude(s) of the characteristic(s) of an item
[SOURCE: ISO 3534-2]
3.2
sampling inspection
inspection of selected items in the group under consideration
[SOURCE: ISO 3534-2]
3.3
acceptance sampling
sampling after which decisions are made to accept or not to accept a lot, or other grouping of product, material or service, based on sample results
[SOURCE: ISO 3534-2]
3.4
acceptance sampling inspection by variables
acceptance sampling (3.3) inspection in which the acceptability of a process is determined statistically from measurements on specified quality characteristics of each item in a sample from a lot
[SOURCE: ISO 3534-2]
3.5
process average
rate at which nonconforming items are generated by a process
3.6
acceptance quality limit
AQL
worst tolerable quality level
[SOURCE: ISO 3534-2]
Note 1 to entry: This concept only applies when a sampling scheme with rules for switching and for discontinuation, such as in ISO 2859-1, ISO 3951-1 or this part of ISO 3951 is used.
Note 2 to entry: Although individual lots with quality as bad as the acceptance quality limit may be accepted with fairly high probability, the designation of an acceptance quality limit does not suggest that this is a desirable quality level. Sampling schemes found in International Standards such as ISO 2859-1, ISO 3951-1 or this part of ISO 3951, with their rules for switching and for discontinuation of sampling inspection, are designed to encourage suppliers to have process averages consistently better than the AQL. Otherwise, there is a high risk that the inspection severity will be switched to tightened inspection under which the criteria for lot acceptance become more demanding. Once on tightened inspection, unless action is taken to improve the process, it is very likely that the rule requiring discontinuation of sampling inspection pending such improvement will be invoked.
3.7
quality level
quality expressed as a rate of occurrence of nonconforming units
3.8
nonconformity
non-fulfilment of a requirement
[SOURCE: ISO 3534-2]
3.9
nonconforming unit
unit with one or more nonconformities
[SOURCE: ISO 3534-2]
3.10
“σ” method acceptance sampling plan
sigma method
acceptance sampling plan by variables using the presumed value of the process standard deviation
Note 1 to entry: Adapted from ISO 3534-2.
3.11
specification limit
limiting value stated for a characteristic
[SOURCE: ISO 3534-2]
3.12
lower specification limit
L
specification limit (3.11) that defines the lower limiting value
[SOURCE: ISO 3534-2]
3.13
upper specification limit
U
specification limit (3.11) that defines the upper limiting value
[SOURCE: ISO 3534-2]
3.14
combined AQL requirement
requirement when both upper and lower limits are specified for the quality characteristic and an AQL is given which applies to the combined percent nonconforming beyond the two limits
Note 1 to entry: The use of a combined AQL requirement implies that nonconformities beyond either specification limit are believed to be of equal, or at least roughly equal, importance to the lack of integrity of the product.
3.15
separate AQL requirement
requirement when both upper and lower limits are specified for the quality characteristic and separate AQLs are given which apply to each limit
Note 1 to entry: The use of separate AQL requirements implies that nonconformities beyond either specification limit are either believed to be of different importance to the lack of integrity of the product or it is desired to control them separately.
3.16
maximum process standard deviation
MPSD
σmax
largest process standard deviation for a given sample-size code letter and acceptance quality limit (3.6) for which it is possible to satisfy the acceptance criterion for the combined control of double specification limits under all inspection severities (i.e. normal, tightened and reduced) when the process variability is known
Note 1 to entry: The MPSD depends on whether the double specification limits are under combined, separate or complex control, but does not depend on the inspection severity.
Note 2 to entry: Adapted from ISO 3534-2.
3.17
switching rule
instruction within an acceptance sampling scheme for changing from one acceptance sampling plan to another of greater or lesser severity of sampling based on demonstrated quality history
Note 1 to entry: Normal, tightened or reduced inspection, or discontinuation of inspection, are examples of “severity of sampling”.
[SOURCE: ISO 3534-2]
3.18
measurement
set of operations having the object of determining a value of a quantity
[SOURCE: ISO 3534-2]
3.19
leeway
quantity derived from a measured value of an item
Note 1 to entry: In the case of a single lower specification limit and in the case of double specification limits, the leeway is obtained by subtracting the numerical value of the lower specification limit from the measured value. In the case of an upper specification limit, the leeway is obtained by subtracting the measured value from the numerical value of the upper specification limit.
3.20
cumulative leeway
value calculated by summing the leeways obtained from the start of the inspection up to, and including, that of the item last inspected
3.21
cumulative sample size
total number of inspected items, counting from the start of the inspection up to, and including, the item last inspected
3.22
acceptance value for sequential sampling
value derived from the specified parameters of the sampling plan and the cumulative sample size
Note 1 to entry: Whether the lot may yet be accepted is determined by comparing the cumulative leeway with the acceptance value.
3.23
rejection value for sequential sampling
value derived from the specified parameters of the sampling plan and the cumulative sample size
Note 1 to entry: Whether the lot may yet be considered unacceptable is determined by comparing the cumulative leeway with the rejection value.
3.24
responsible authority
concept used to maintain the neutrality of this part of ISO 3951 (primarily for specification purposes), irrespective of whether it is being invoked or applied by the first, second or third party
- a) the quality department within a supplier's organization (first party);
- b) the purchaser or procurement organization (second party);
- c) an independent verification or certification authority (third party).
Bibliography
| [1] | Wald, A. Sequential Analysis, Wiley, New York, 1947 |
| [2] | Johnson, N.L. Sequential analysis — A survey, J. Roy. Statist. Soc., A124 , 1961, pp. 372-411 |
| [3] | Ghosh, B.K. Sequential Tests of Statistical Hypothesis, Addison-Wesley, New York, 1970 |
| [4] | ISO 31-11:1992, Quantities and units — 11: Mathematical signs and symbols for use in the physical sciences and technology |
| [5] | ISO 2854:1976, Statistical interpretation of data — Techniques of estimation and tests relating to means and variances |
| [6] | ISO 2859-2, Sampling procedures for inspection by attributes — 2: Sampling plans indexed by limiting quality (LQ) for isolated lot inspection |
| [7] | ISO 2859-5:2005, Sampling procedures for inspection by attributes — 5: System of sequential sampling plans indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection |
| [8] | ISO 2859-10:— 1) , Sampling procedures for inspection by attributes — 10: Introduction to the ISO 2859 series of attribute sampling standards |
| [9] | ISO 5479:1997, Statistical interpretation of data — Tests for departure from the normal distribution |
| [10] | ISO 5725-2:1994, Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results — 2: Basic methods for the determination of repeatability and reproducibility of a standard measurement method |
| [11] | ISO 7870:1993, Control charts — General guide and introduction |
| [12] | ISO 8258:1991, Shewhart control charts |