この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
この文書の目的のために、ISO 1101, ISO 14978, および ISO/IEC Guide 99 および以下に記載されている用語と定義が適用されます。
ISO と IEC は、標準化に使用する用語データベースを次のアドレスで維持しています。
3.1 一般用語
3.1.1
回転軸形状測定器
回転軸を持ち、円筒座標系で抽出された積分面からの局所的な形状の偏差を定量化する測定器
3.1.2
センタリング
回転軸に垂直な平面内で、ワークピースの中心点の位置が機器の回転軸と一致するように調整する。
注記 1: 図 1 を参照。
図1 —センターリング
a)シリンダーのセンタリング
b)球のセンタリング
Key
| 1 | 回転軸 | 5 | センタリング後の中心点 | |
| 2 | センタリング前の回転ワークピース | 6 | センタリング後の回転ワークピース | |
| 3 | センタリング前の中心点 | 7 | 回転軸に直交する軸 | |
| 4 | センタリング変位 |
3.1.3
レベリング
ワークピースの中心線が回転軸と平行になるように調整する、またはワークピースの平面フィーチャーに対する法線ベクトルが回転軸と平行になるように調整する
注記 1: 図 2 を参照。
注記 2: レベリングは、工作物の軸を機器の回転軸と同軸にするために、センタリングと組み合わされるか、その後にセンタリングが行われることがよくあります。
図 2 —レベリング
Key
| 1 | 回転軸 | 4 | 角変位 |
| 2 | レベリング前の回転ワークの中心線 | 5 | レベリング後の回転ワークの中心線 |
| 3 | レベリング前の回転ワークピース | 6 | レベリング後の回転ワーク |
3.2 プローブシステムに関する用語
3.2.1
スタイラス
先端とアームからなる機械装置
参考文献
| 1 | ISO 1, 幾何学的製品仕様書 (GPS) — 幾何学的および寸法特性の仕様のための標準基準温度 |
| 2 | ISO 230-7:2015, 工作機械のテストコード — Part 7: 回転軸の幾何学的精度 |
| 3 | ISO 3274:1996, 幾何製品仕様書 (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法 — 接触 (スタイラス) 機器の公称特性 |
| 4 | ISO 3650, 幾何製品仕様書 (GPS) — 長さの標準 — ゲージブロック |
| 5 | ISO 5436-1:2000, 幾何製品仕様書 (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法。測定基準 — Part 1: 材料の測定 |
| 6 | ISO 5436-2:2012, 幾何製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: プロファイル法。測定基準 — Part 2: ソフトウェア測定基準 |
| 7 | ISO 8015, 幾何製品仕様 (GPS) — 基礎 — 概念、原則および規則 |
| 8 | ISO 9493, 幾何製品仕様書（GPS） — 寸法測定器：ダイヤルテストインジケーター（レバー式） — 設計および計測特性 |
| 9 | ISO 12180-1, 幾何製品仕様 (GPS) — 円筒度 — Part 1: 円筒形の語彙とパラメータ |
| 10 | ISO 12180-2, 幾何積仕様 (GPS) — 円筒度 — Part 2: 仕様演算子 |
| 11 | ISO 12181-1:2011, 幾何製品仕様 (GPS) — 真円度 — Part 1: 真円度の語彙とパラメータ |
| 12 | ISO 12181-2, 幾何製品仕様 (GPS) — 真円度 — Part 2: 仕様演算子 |
| 13 | ISO 12780-1, 幾何製品仕様 (GPS) — 真直度 — Part 1: 真直度の語彙とパラメーター |
| 14 | ISO 12780-2, 幾何製品仕様 (GPS) — 真直度 — Part 2: 仕様演算子 |
| 15 | ISO 14253-1, 幾何学的製品仕様書 (GPS) — ワークおよび測定機器の測定による検査 — 第 1 Part: 仕様への適合または不適合を検証するための決定ルール |
| 16 | ISO/TR 14253-6:2012, 幾何製品仕様書 (GPS) — ワークピースおよび測定機器の測定による検査 — Part 6: 機器およびワークピースの合否に関する一般化された決定ルール |
| 17 | ISO 14638:2015, 幾何製品仕様 (GPS) — マトリックス モデル |
| 18 | ISO 25178-6:2010, 幾何製品仕様 (GPS) — 表面性状: 面積 — Part 6: 表面性状の測定方法の分類 |
| 19 | ISO 25178-601:2010, 幾何製品仕様 (GPS) — 表面テクスチャ: 面積 — Part 601: 接触 (スタイラス) 機器の公称特性 |
| 20 | ISO/IEC Guide 98-3:2008, 測定の不確かさ — Part 3: 測定における不確かさの表現に関するガイド (GUM:1995) |
| 21 | RR Donaldson: A Simple Method for Separating Spindle Error from Test Ball 真円度エラー、Annuals of the CIRP, Vol.21/I (1972) |
| 22 | DJ ホワイトハウス:表面計測における誤差分離技術の理論的側面、J.Phys.E:Sci.Instrum, 9 (1976) 531 |
| 23 | Cao Linxiang:誤差分離技術における多段階法の測定精度、J.Phys.E:Sci.Instrum, 22 (1989) 903 |
| 24 | Cao Linxiang 他:全高調波誤差分離技術、Meas.Sci.Technol.、3 (1992) 1129 |
| 25 | Christpher J. Evans, Robert J. Hocken, William T. Etler: Self-Calibration: Reversal, Redundancy, Error Separation, および「Absolute Testing」 、Annuals of CIRP Vol.45, 2 (1996) |
| 26 | Henrik S. Nielsen, Mark C. Malburg:真円度測定におけるトレーサビリティと相関関係、精密工学、19 (1996) 175-179 |
| 27 | William T. Estler, Christopher J. Evans, LZ Shao:多位置形状誤差計測の不確かさ推定、精密工学、21 (1997) 72-82 |
| 28 | Michael Neugebauer:ガラス半球の測定例による真円度測定の不確かさ分析、Mea科学。技術、12 (2001) |
| 29 | R. タルマン、J. スピラー、A. クン、O. ジャスコ、フリック標準の校正、MacroScale 2011 |
| 30 | W iśniewska M.、Z ebrowska -L ucyk S.フリック標準を使用した形状測定機変位センサー特性の決定、XXI IMEKO 世界会議「研究と産業における測定」 2015 年 8 月 30 日～9 月 4 日、プラハ、チェコ共和国 |
| 31 | Thalmann R.、 Spiller J.一次真円度測定機、トレーサブルな寸法測定の最近の発展 III 、Proceedings SPIE, Vol. 5879 (2005) |
| 32 | Haitjema, H.マルチステップ手法の再考: 誤差分離の強化と測定量の削減(2015) CIRP 年報 - 製造技術、6, 491-494 ページ |
| 33 | R. Thalmann, 「最高精度の真円度測定の基礎」、Simpio de Metrología, 2006 年。 |
| 34 | O. Jusko ら、「形状計測における感度標準の比較 - EURAMET プロジェクト 649 の最終結果」、Mea科学。テクノロジー。 2012 年 23 日 |
| 35 | ハイジェマH. 「ナノメートル精度によるμm 領域の動的プローブ校正」 、精密工学、第 19 巻、第 2 ～ 3 号、1996 年、98 ～ 104 ページ、ISSN 0141-6359 |
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 1101, ISO 14978 and ISO/IEC Guide 99 and the following apply.
ISO and IEC maintain terminology databases for use in standardization at the following addresses:
3.1 General terms
3.1.1
rotary axis form-measuring instrument
measuring instrument having a rotary axis and quantifying local form deviations from extracted integral surfaces in a cylindrical coordinate system
3.1.2
centring
adjusting, in a plane perpendicular to the axis of rotation, the position of the centre point of the workpiece to be coincident to the axis of rotation of the instrument
Note 1 to entry: See Figure 1.
Figure 1 — Centring
a)Cylinder centring
b)Sphere centring
Key
| 1 | axis of rotation | 5 | centre point after centring | |
| 2 | revolute workpiece before centring | 6 | revolute workpiece after centring | |
| 3 | centre point before centring | 7 | orthogonal axis to the axis of rotation | |
| 4 | centring displacement |
3.1.3
levelling
adjusting the centre line of the workpiece to be parallel to the axis of rotation or adjusting the normal vector to a plane feature of the workpiece to be parallel to the axis of rotation
Note 1 to entry: See Figure 2.
Note 2 to entry: Levelling is often combined with, or followed by, centring in order to bring the axis of the workpiece to be coaxial with the rotary axis of the instrument.
Figure 2 — Levelling
Key
| 1 | axis of rotation | 4 | angular displacement |
| 2 | centre line of revolute workpiece before levelling | 5 | centre line of revolute workpiece after levelling |
| 3 | revolute workpiece before levelling | 6 | revolute workpiece after levelling |
3.2 Terms relating to probe system
3.2.1
stylus
mechanical device consisting of a tip and an arm
Bibliography
| 1 | ISO 1, Geometrical product specifications (GPS) — Standard reference temperature for the specification of geometrical and dimensional properties |
| 2 | ISO 230-7:2015, Test code for machine tools — Part 7: Geometric accuracy of axes of rotation |
| 3 | ISO 3274:1996, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Nominal characteristics of contact (stylus) instruments |
| 4 | ISO 3650, Geometrical Product Specifications (GPS) — Length standards — Gauge blocks |
| 5 | ISO 5436-1:2000, Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Measurement standards — Part 1: Material measures |
| 6 | ISO 5436-2:2012, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Profile method; Measurement standards — Part 2: Software measurement standards |
| 7 | ISO 8015, Geometrical product specifications (GPS) — Fundamentals — Concepts, principles and rules |
| 8 | ISO 9493, Geometrical product specifications (GPS) — Dimensional measuring equipment: Dial test indicators (lever type) — Design and metrological characteristics |
| 9 | ISO 12180-1, Geometrical product specifications (GPS) — Cylindricity — Part 1: Vocabulary and parameters of cylindrical form |
| 10 | ISO 12180-2, Geometrical product specifications (GPS) — Cylindricity — Part 2: Specification operators |
| 11 | ISO 12181-1:2011, Geometrical product specifications (GPS) — Roundness — Part 1: Vocabulary and parameters of roundness |
| 12 | ISO 12181-2, Geometrical product specifications (GPS) — Roundness — Part 2: Specification operators |
| 13 | ISO 12780-1, Geometrical product specifications (GPS) — Straightness — Part 1: Vocabulary and parameters of straightness |
| 14 | ISO 12780-2, Geometrical product specifications (GPS) — Straightness — Part 2: Specification operators |
| 15 | ISO 14253-1, Geometrical product specifications (GPS) — Inspection by measurement of workpieces and measuring equipment — Part 1: Decision rules for verifying conformity or nonconformity with specifications |
| 16 | ISO/TR 14253-6:2012, Geometrical product specifications (GPS) — Inspection by measurement of workpieces and measuring equipment — Part 6: Generalized decision rules for the acceptance and rejection of instruments and workpieces |
| 17 | ISO 14638:2015, Geometrical product specifications (GPS) — Matrix model |
| 18 | ISO 25178-6:2010, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 6: Classification of methods for measuring surface texture |
| 19 | ISO 25178-601:2010, Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 601: Nominal characteristics of contact (stylus) instruments |
| 20 | ISO/IEC Guide 98-3:2008, Uncertainty of measurement — Part 3: Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM:1995) |
| 21 | R. R. Donaldson: A Simple Method for Separating Spindle Error from Test Ball Roundness Error, Annuals of the CIRP, Vol.21/I (1972) |
| 22 | D. J. Whitehouse: Some theoretical aspects of error separation techniques in surface metrology, J.Phys.E:Sci.Instrum, 9 (1976) 531 |
| 23 | Cao Linxiang: The measuring accuracy of the multistep method in the error separation technique, J.Phys.E:Sci.Instrum, 22 (1989) 903 |
| 24 | Cao Linxiang et al: Full-harmonic error separation technique, Meas.Sci.Technol., 3 (1992) 1129 |
| 25 | Christpher J. Evans, Robert J. Hocken, William T. Etler: Self-Calibration: Reversal, Redundancy, Error separation, and 'Absolute Testing', Annuals of CIRP Vol.45, 2 (1996) |
| 26 | Henrik S. Nielsen, Mark C. Malburg: Traceability and correlation in roundness measurement,Precision Engineering, 19 (1996) 175-179 |
| 27 | William T. Estler, Christopher J. Evans, L. Z. Shao: Uncertainty estimation for multiposition form error metrology, Precision Engineering, 21 (1997) 72-82 |
| 28 | Michael Neugebauer: Uncertainty analysis for roundness measurements by the example of measurements on a glass hemisphere, Meas. Sci. Technol., 12 (2001) |
| 29 | R. Thalmann, J. Spiller, A. Kung, O. Jusco, Calibration of flick standards, MacroScale 2011 |
| 30 | Wiśniewska M., Zebrowska-Lucyk S. Determination of form measuring machine displacement sensor characteristics with a use of flick standard, XXI IMEKO World Congress “Measurement in Research and Industry” August 30-September 4, 2015, Prague, Czech Republic |
| 31 | Thalmann R., Spiller J. A primary roundness measuring machine, Recent Developments in Traceable Dimensional Measurements III, Proceedings SPIE, Vol. 5879 (2005) |
| 32 | Haitjema, H. Revisiting the multi-step method: Enhanced error separation and reduced amount of measurements (2015) CIRP Annals - Manufacturing Technology, 64 (1), pp. 491-494 |
| 33 | R. Thalmann, “Basics of highest accuracy roundness measurement”, Simposio de Metrología, 2006. |
| 34 | O. Jusko, et al, “A comparison of sensitivity standards in form metrology—final results of the EURAMET project 649”, Meas. Sci. Technol. 23, 2012 |
| 35 | Haitjema H. “Dynamic probe calibration in the μm region with nanometric accuracy”, Precision Engineering, Volume 19, Issues 2–3, 1996, Pages 98-104, ISSN 0141-6359 |