ISO 6342:2003 顕微鏡写真—アパーチャカード—堆積領域の厚さを測定する方法

ISO 6342:2003の概要

ISO6342:2003の規格概要

閲覧 情報

Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area

ISO 6342:2003は、製造および検査の目的で、アパーチャカード(カメラおよびコピーカード)の堆積領域の厚さを測定する方法を指定しています。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO6342:2003 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 6342:2003
ISO 国際規格名称
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
ISO 規格名称 日本語訳
顕微鏡写真 — アパーチャカード — 堆積領域の厚さを測定する方法
発行日 (Publication date)
2003-07
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2021-02-12
状態 (Status)
公開済み (Published)
改訂 (Edition)
2
PDF ページ数 (Number of pages)
3
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 171 ドキュメント管理アプリケーション:(Document management applications)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
37.080:Document imaging applications,
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格

ISO 6342:2003 関連規格 履歴一覧

ISO6342:2003 対応 JIS 規格一覧

ISO6342:2003 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 37:映像技術 > 37.080:文書画像アプリケーション

ISO 6342:2003 修正 一覧 (Amendments)

ISO 6342:2003 正誤表 一覧 (Corrigenda)

ISO 6342:2003 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 90) 見直

サブステージコード 90.93 国際標準を確認 (International Standard confirmed)

ISO 6342:2003 持続可能な開発目標 SDGS

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。