※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
3 用語と定義
このドキュメントでは、次の用語と定義が適用されます。
注記静磁気特性の定義は、もともと IEC 50-221 (IEC 60050-221 に置き換えられた) および ISO 31-5:1992 (IEC 80000-6 に置き換えられた) から派生したものです。
3.1
試験方法
国際規格への準拠を確認する目的で身分証明書の特性をテストする方法
3.2
確実に機能する
- a)カード上に存在する磁気ストライプは、基本標準に準拠した露光前後の信号振幅の関係を示します
- b)カード内に存在する集積回路は、基本規格に準拠したリセット応答1への応答を示し続けます。
- c)カード内に存在する集積回路に関連する接点は、基本規格に適合する電気抵抗とインピーダンスを示し続けます。
- d)カード内に存在する光学メモリは、基本規格に適合する光学特性を示し続けます。
- e)カード内の非接触集積回路が意図したとおりに動作し続ける
3.3
反り
平面度のずれ
3.4
ミリメートルあたりのフラックス遷移
フィート/mm
磁気ストライプ上のトラックに適用される線記録密度
3.5
録音
ISO/ IEC 10373のこの部分で指定されたすべての適用可能なテストパラメーターの値で指定されたテスト方法に従って磁束反転のトラックを作成する
3.6
エンコーディング
データを表すために、コーディング方式に従って間隔が変更されたフラックス反転のトラックを作成する
3.7
表面粗さ
さまざまな解像度の決定要因と計算方法を参照して国際規格で認定された、表面の領域の表面トポロジー
3.8
振幅測定
<磁気ストライプ> ISO/IEC 10373 のこのパートで指定されたテスト方法に従って、適用可能なすべてのテスト パラメータの値を指定して、リードバック信号振幅を測定
3.9
磁束遷移間隔の変動
エンコードされたトラックの中心線に平行な線に沿った隣接する磁束遷移間の距離の測定値の公称値からの偏差
3.10
磁気ストライプ接着
磁気ストライプとカード間の接着強度
3.11
通常使用
ISO/IEC 7810 に準拠した ID カードとしての使用。カード技術に適した機器プロセスと、機器プロセス間の個人文書としての保管を含みます。
3.12
静的飽和M(H)ループ
通常のヒステリシス ループ。ループが変化率の影響を受けないほど低い変化率で、磁場強度が極端な − Hmaxから + Hmaxの間で循環します。
3.13
保磁力
H'cM = H'cJ
ストライプの縦軸に平行に測定された反対方向に、以前に飽和した状態から磁化をゼロに減少させる、連続的に印加される磁場。
3.14
残留保磁力
rH
ストライプの縦軸に平行に測定された反対方向に、以前に飽和した状態から材料をゼロ磁化状態に戻す印加磁場。
3.15
エルステッド
大江さん
磁気記録業界で一般的に使用される磁場強度のガウス CGS 単位で、約 79.578 A/m に相当します。
3.16
静的消磁
S_
反対磁場の影響下での磁化の減少。 [ Mr − M + (-160)] ÷ Mrで特徴付けられます。 H = 0 とH = -160 kA/m の磁場強度値の間の静的飽和M ( H ) ループの「減磁」象限の平均勾配
3.17
直角度
sq
静飽和M ( H ) ループから得られたHmaxでの磁化の値M ( Hmax ) に対する、ゼロ磁場強度 ( H = 0) での磁化 ( M ) の値Mrの比。
3.18
縦方向の直角度
sq||
磁気ストライプの縦軸に平行に測定した媒体の直角度。
3.19
垂直直角度
磁気ストライプ面に対して垂直に測定した媒体の直角度
3.20
微分によるフィールドの切り替え
SFDD
微分静磁化曲線の半値幅M ( H ) を同じ曲線の保磁力で割った値
3.21
スロープによるフィールドの切り替え
SFS
0.5 MrのM ( H ) と -0.5 MrのM ( H ) の静磁化M ( H ) ループの交点での磁場値の差を保磁力で割った値
3.22
最大直角の角度
Θ ( sq最大)
直角度の最大値が見つかった方向と磁気ストライプの縦軸との間の角度
3.23
解決
特定の高記録密度での平均信号振幅を、特定の低記録密度での平均信号振幅で割り、100 を掛けてパーセンテージで表したもの
3.24
Ufi
ストライプの波形全体のフーリエスペクトルの指定された周波数における個々の要素の大きさ
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the following terms and definitions apply.
NOTE Static magnetic characteristics definitions were originally derived from IEC 50–221 (which has been replaced by IEC 60050–221) and ISO 31-5:1992 (which has been replaced by IEC 80000–6).
3.1
test method
method for testing characteristics of identification cards for the purpose of confirming their compliance with International Standards
3.2
testably functional
- a) any magnetic stripe present on the card shows a relationship between signal amplitudes before and after exposure that is in accordance with the base standard
- b) any integrated circuit(s) present in the card continue to show an Answer to Reset response 1 which conforms to the base standard
- c) any contacts associated with any integrated circuit(s) present in the card continue to show electrical resistance and impedance which conform to the base standard
- d) any optical memory present in the card continues to show optical characteristics which conform to the base standard
- e) any contactless integrated circuit(s) in the card continue to operate as intended
3.3
warpage
deviation from flatness
3.4
flux transitions per millimetre
ft/mm
linear recording density applied to a track on a magnetic stripe
3.5
recording
creating a track of flux reversals according to a test method given in this part of ISO/IEC 10373, with the values of all applicable test parameters specified
3.6
encoding
creating a track of flux reversals whose spacing is modified, according to a coding scheme, to represent data
3.7
surface roughness
surface topology of an area of surface, qualified in the International Standards by reference to various resolution determinants and methods of calculation
3.8
amplitude measurements
<magnetic stripe> measurement of read-back signal amplitude according to a test method given in this part of ISO/IEC 10373, with the values of all applicable test parameters specified
3.9
flux transition spacing variation
deviation from nominal of measured values of the distance between adjacent flux transitions along a line parallel to the centreline of the encoded track
3.10
magnetic stripe adhesion
strength of the bond between the magnetic stripe and the card
3.11
normal use
use as an identification card according to ISO/IEC 7810, involving equipment processes appropriate to the card technology and storage as a personal document between equipment processes
3.12
static saturation M(H) loop
normal hysteresis loop for which the magnetic field strength is cycled between the extremes −Hmax to +Hmax at such a low rate of change that the loop is not influenced by the rate of change
3.13
coercivity
H'cM = H'cJ
continuously applied magnetic field which reduces the magnetization to zero from a previously saturated state in the opposite direction, measured parallel to the longitudinal axis of the stripe
3.14
remanent coercivity
Hr
applied magnetic field which when removed returns the material to a zero magnetization state from a previously saturated state in the opposite direction, measured parallel to the longitudinal axis of the stripe
3.15
Oersted
Oe
Gaussian CGS unit of magnetic field strength which is commonly used in the magnetic recording industry, equal to approximately 79,578 A/m
3.16
static demagnetization
S160
reduction in magnetization under the influence of an opposing magnetic field; characterised by [Mr − M + (−160)] ÷ Mr; the average slope of the “demagnetization” quadrant of the static saturation M(H) loop between magnetic field strength values of H = 0 and H = −160 kA/m
3.17
squareness
sq
ratio of Mr, the value of magnetization (M) at zero magnetic field strength (H = 0), to M(Hmax), the value of magnetization at Hmax obtained from the static saturation M(H) loop
3.18
longitudinal squareness
sq||
squareness of the medium measured parallel to the longitudinal axis of the magnetic stripe
3.19
perpendicular squareness
squareness of the medium measured perpendicular to the plane of the magnetic stripe
3.20
switching field by derivative
SFD
width at half height of the differentiated static magnetization curve M(H) divided by the coercivity from the same curve
3.21
switching field by slope
SFS
difference between the field values at the intercept of the static magnetization M(H) loop, M(H) of 0,5Mr and M(H) of −0,5Mr, divided by the coercivity
3.22
angle of maximum squareness
Θ(sqmax)
angle between the direction at which the maximum value of squareness is found and the longitudinal axis of the magnetic stripe
3.23
resolution
average signal amplitude at some specified higher recording density divided by the average signal amplitude at some specified lower recording density, multiplied by 100 and expressed as a percentage
3.24
Ufi
magnitude of the individual element at specified frequency of the Fourier spectrum of the entire waveform of the stripe