この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
1 スコープ
ISO/IEC 10373 シリーズは、ISO/IEC 7810 で与えられた定義に従って、ID カードの特性のテスト方法を定義します。各テスト方法は、ISO/IEC 7810 または 1 つ以上の基本規格の 1 つ以上と相互参照されています。身分証明書アプリケーションで使用される情報ストレージ技術を定義する補足規格の。
注記 1許容基準は、ISO/IEC 10373 シリーズの一部ではありませんが、上記の国際規格に記載されています。
このドキュメントは、ISO/IEC 14443-1, ISO/IEC 14443-2, ISO/IEC 14443-3, および ISO/IEC 14443 で定義されている、近接カードおよびオブジェクト、近接結合デバイス、および近接拡張デバイスに固有のテスト方法を定義しています。 4.
注記 2このドキュメントで定義されているテスト方法は、個別に実行されることを意図しています。特定の近接カードまたはオブジェクト、近接結合デバイスまたは近接拡張デバイスは、すべてのテストを順番に通過する必要はありません。
ISO/IEC 10373-1 は、1 つまたは複数の集積回路カード技術に共通するテスト方法を定義し、ISO/IEC 10373 シリーズの他の部分は、他の技術固有のテストを扱います。
附属書 O で定義されているコンフォーマンス テスト計画は、ISO/IEC 14443 シリーズの各部分に適用可能なテストのリストを指定します。
1 Scope
The ISO/IEC 10373 series defines test methods for characteristics of identification cards according to the definition given in ISO/IEC 7810. Each test method is cross‑referenced to one or more base standards, which can be ISO/IEC 7810 or one or more of the supplementary standards that define the information storage technologies employed in identification card applications.
NOTE 1 Criteria for acceptability do not form part of the ISO/IEC 10373 series, but can be found in the International Standards mentioned above.
This document defines test methods which are specific to proximity cards and objects, proximity coupling devices and proximity extended devices, defined in ISO/IEC 14443-1, ISO/IEC 14443-2, ISO/IEC 14443-3 and ISO/IEC 14443-4.
NOTE 2 Test methods defined in this document are intended to be performed separately. A given proximity card or object, proximity coupling device or proximity extended device, is not required to pass through all the tests sequentially.
ISO/IEC 10373-1 defines test methods which are common to one or more integrated circuit card technologies and other parts in the ISO/IEC 10373 series deal with other technology‑specific tests.
The conformance test plan defined in Annex O specifies the list of tests applicable for each part of the ISO/IEC 14443 series.