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ISO/TR 18392:2005 表面化学分析— X線光電子分光法—バックグラウンドを決定するための手順

ISO/TR 18392:2005の概要

ISO/TR18392:2005の規格概要

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Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for determining backgrounds

ISO/TR 18392:2005は、X線光電子スペクトルのバックグラウンドを決定するためのガイダンスを提供します。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO/TR18392:2005 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO/TR 18392:2005
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for determining backgrounds
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — X線光電子分光法 — バックグラウンドを決定するための手順
発行日 (Publication date)
2005-11-17
更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
2017-09-23
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
11
TC（専門委員会）:Technical Committee
ISO/TC 201/SC 7：電子分光法 (Electron spectroscopies)
ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
71.040.40：化学分析 (Chemical analysis)
ISO 対応 JIS 規格
TR K 0014:2012 (MOD),
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40

ISO/TR 18392:2005 関連規格 履歴一覧

ISO/TR18392:2005 対応 JIS 規格一覧

  • TRK0014:2012(MOD)

ISO/TR18392:2005 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71：化学技術  > 71.040：分析化学  > 71.040.40：化学分析

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。