この規格 プレビューページの目次
※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。
2 規範的参照
この文書を適用するためには、以下の参照文書が不可欠です。日付が記載された参考文献については、引用された版のみが適用されます。日付のない参照については、参照文書の最新版 (修正を含む) が適用されます。
- ISO 22493:2008, マイクロビーム分析 – 走査型電子顕微鏡 – 用語
- ISO/TS 80004-3, ナノテクノロジー — 語彙 — Part 3: カーボンナノオブジェクト
2 Normative references
The following referenced documents are indispensable for the application of this document. For dated references, only the edition cited applies. For undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
- ISO 22493:2008, Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary
- ISO/TS 80004-3, Nanotechnologies — Vocabulary — Part 3: Carbon nano-objects