34
A 1962 : 2015
A1
6
現行規格(JIS A 1962:2015) 旧規格(JIS A 1962:2005) 改正理由
9
箇条番号 内容 箇条番号 内容
62
及び題名 及び題名
: 2
9.1 サン 9.1 サン
当初の流量と停止直前の流量が“10 %”以上違ってい ISO規格での変更に合わせ
当初の流量と停止直前の流量が“15 %”以上違ってい
0 15
プリング プリング
る場合には,サンプリングされた試料は疑わしいもの て変更。
る場合には,サンプリングされた試料は疑わしいもの
として記録する必要がある。 として記録する必要がある。
標準条件(温度・湿度)に濃度を換算する必要がある − ISO規格での追加に合わせ
場合は,サンプリング中の温湿度を測定しておくべき て追加。
である。
分析されるまでの冷蔵期間は30日を超えてはならな 以前のISO規格でも30日。
分析されるまでの冷蔵期間は2週間を超えてはならな
い。 い。 ISO規格にそろえる形で30
日に変更。
q1 q2 ...qn qA q1 q2 qn / (1) ISO規格での修正に合わせ
qV (1)
n ここに, qA : 平均流量,mL/min て修正。
ここで, q :
V 平均流量,mL/min q1,q2,···qn : サンプリングの開始
q1,q2,···qn : サンプリングの開始 点,中間点,終了点で
点,中間点,終了点で 測定された流量
測定された流量 n : 平均に用いられる点
n : 平均に用いられる点 の数
の数 全サンプル体積は,次の式を用いて計算される。
全サンプル体積は,次の式(2)を用いて計算される。 Vm T2 T1 qA 1/ 000 (2)
t2 t1 qV ここに, Vm : 測定時の温度及び圧力で
Vm (2)
1 000 のサンプリング体積(L)
ここで, Vm : 測定時の温度及び圧力で T2 : 終了時刻(min)
のサンプリング体積(L) T1 : 開始時刻(min)
t2 : 終了時刻(min) T2−T1 : 合計のサンプリング時間
t1 : 開始時刻(min) (min)
t2−t1 : 合計のサンプリング時間 qA : 平均流量(mL/min)
(min)
q :
V 平均流量(mL/min)
9.2 プロ 9.2 プロ
“10試料”より多い試料セットについては,分析され “1020試料”より多い試料セットについては,分析ISO規格での変更に合わせ
セスブラ た試料の少なくとも10 %を現場ブランクとする。 セスブラ て変更。
された試料の少なくとも10 %を現場ブランクとする。
ンク ンク
9.3.1 試料 9.3.1 試料
サンプリングと分析との間の期間は“30日”を超えて 以前のISO規格でも30日。
サンプリングと分析の間の期間は“2週間”を超えて
の調製 はならない。 の調製 はならない。 ISO規格にそろえる形で30
日に変更。
――――― [JIS A 1962 pdf 36] ―――――
35
A 1962 : 2015
現行規格(JIS A 1962:2015) 旧規格(JIS A 1962:2005) 改正理由
箇条番号 内容 箇条番号 内容
及び題名 及び題名
9.3.2 試料 9.3.2 試料
“PTFE”で内張したセプタムをつけたサンプル瓶に, ISO規格での修正に合わせ
“フルオロカーボン”で内張したセプタムをつけたサ
の抽出 ピペットで一部を移す。 の抽出 ンプル瓶に,ピペットで一部を移す。 て修正。
9.3.4 ホル 9.3.4 ホル
オクタデシルシランカラム(長さ10 cm,内径5 mm, − ISO規格での規定の追加に
ムアルデ 充剤粒子径10 μm)を用い,移動相にメタノール70 %
ムアルデ 合わせて追加。
ヒドの (vol)+水30 % (vol)を用いた場合,DNPH-ホルムアル
ヒドの
HPLC分 HPLC分
デヒドと可能性のある干渉物質を適切に分離できる。
析 析
グラジエント及びアイソクラティックのプログラムを
組むこともできる。また,アセトニトリル60 % (vol)
+水40 % (vol)のアイソクラティックの移動相条件も
適切である。そのパラメータについて,次に示す。
− カラム C 18(長さ25 cm,内径4.6 mm,又は同 カラム C 18(長さ25 cm,内径4.6 mm,又は同等のISO規格での規定の追加に
等のもの),必要があれば,より正確なカラム温度 合わせて追加。
もの),カラム恒温槽をつけるのが望ましい。
のために,カラム恒温槽をつけることができる。 移動相 アセトニトリル60 %/水40 %(vol/vol),イソ
− 移動相 アセトニトリル60 % (vol)+水40 % クラティック方式
(vol),イソクラティック方式,温度40 ℃
“PTFE” “フルオロカーボン” ISO規格での規定の変更・
追加に合わせて変更・追加。
− 以前はJISだけでの規定だ
また,他の脱気方法としては超音波法や減圧膜式オン
ライン方式などを用いてもよい。 ったが,ISO規格で注記に
追加されたため,注記に移
動。
また,槽の温度を40 ℃にする。 − ISO規格での規定の追加に
合わせて追加。
9.3.5.2 他 9.3.5.2 他
ホルムアルデヒド,アセトアルデヒド,アセトン,プ ISO規格での削除に合わせ
ホルムアルデヒド,アセトアルデヒド,アセトン,プ
のカルボ ロピオンアルデヒド,ベンズアルデヒド,そして,o-,
のカルボ て削除。
ロピオンアルデヒド,“クロトンアルデヒド”,ベンズ
ニル化合 m-,p-トルアルデヒドは高い信頼性で同定できる。ニル化合 アルデヒド,そして,o-,m-,p-トルアルデヒドは高
物の試料 物の試料 い信頼性で同定できる。
分析 分析
ただし,アクロレインとクロトンアルデヒドに関して − ISO規格での追加に合わせ
は,特別な予防措置を講じることで,許容範囲内の定 て追加。
A1
量ができる可能性がある[11]。
962 : 2
0 15
6
――――― [JIS A 1962 pdf 37] ―――――
36
A 1962 : 2015
A1
6
現行規格(JIS A 1962:2015) 旧規格(JIS A 1962:2005) 改正理由
9
箇条番号 内容 箇条番号 内容
62
及び題名 及び題名
: 2
10 計算 各試料の分析対象成分(DNPH誘導体)の捕集された10. 計算 各試料の分析対象成分(DNPH誘導体)の合計質量は,
0 15
合計質量は,次の式(3)式(5)によって算出する。 次の式によって算出する。
md=ms−mb (3) md=ms−mb (3)
ここに, md : カートリッジから抽出さ ここに, md : カートリッジから抽出され
れたDNPH誘導体の補正 たDNPH誘導体の補正質量
質量(μg) (μg)
ms : 試料カートリッジ上の補 ms : 試料カートリッジ上の補正
正していない質量(μg) していない質量(μg)
ms As std
Vs ds (4) =As×(cstd/Astd)×Vs×ds (4)
ISO規格での修正に合わせ
Astd mb : ブランクカートリッジ上の て修正。
mb : ブランクカートリッジ上 分析対象成分質量(μg)
の分析対象成分質量(μg) =Ab×(cstd/Astd)×Vb×db (5)
std ここに, As : 面積カウント,試料カートリ
mb Ab Vb db (5)
Astd ッジからの溶出物
ここに, As : 面積カウント,試料カートリ Ab : 面積カウント,ブランクカー
ッジからの溶出物 トリッジからの溶出物
Ab : 面積カウント,ブランクカー Astd : 面積カウント,標準
トリッジからの溶出物 cstd : 毎日の校正標準液中の分析
Astd : 面積カウント,標準 対象成分濃度(μg/mL)
γstd : 毎日の校正標準液中の分析 Vs : 試料カートリッジの溶出液
対象成分濃度(μg/mL) の全量(mL)
Vs : 試料カートリッジの溶出液 Vb : ブランクカートリッジの溶
の全量(mL) 出液の全量(mL)
Vb : ブランクカートリッジの溶 ds : 試料カートリッジ溶出液に
出液の全量(mL) 対する希釈係数
ds : 試料カートリッジ溶出液に 試料が再希釈されない場合
対する希釈係数 =1
試料が再希釈されない場合 試料を検出器の直線範囲内
=1 に入るように再度希釈した
試料を検出器の直線範囲内 場合=Vd/Va
に入るように再度希釈した
場合=Vd/Va
――――― [JIS A 1962 pdf 38] ―――――
37
A 1962 : 2015
現行規格(JIS A 1962:2015) 旧規格(JIS A 1962:2005) 改正理由
箇条番号 内容 箇条番号 内容
及び題名 及び題名
10 計算 Vd : 再希釈液の体積(mL) 10. 計算 Vd : 再希釈液の体積(m)
(続き) Va : 再希釈のために使われた量 (続き) Va : 再希釈のために使われた量
(mL) (mL)
db : ブランクカートリッジ溶出 db : ブランクカートリッジ溶出
液の希釈係数=1.0 液の希釈係数=1.0
次の式(6)によって最初の試料中のカルボニル化合物 次の式によって最初の試料中のカルボニル化合物濃度
濃度を算出する。 を算出する。
Mc 1 000 Mc 1 000
md (6)
A
Mder Vm CA md (6)
Mder Vm
ここに, γA : 最初の試料中のカルボニル
ここに, CA : 最初の試料中のカルボニル
化合物濃度(ng/L)
化合物濃度(ng/L)
Vm : 室内条件での空気試料の全
Vm : 室内条件での空気試料の全
体積(L),9.1による
体積(L),9.1による
Mc : カルボニル化合物の分子量
Mc : カルボニル化合物の分子量
(ホルムアルデヒド=30
(ホルムアルデヒド=30)
g/mol)
Mder : DNPH誘導体の分子量(ホル
Mder : DNPH誘導体の分子量(ホル
ムアルデヒド=210)
ムアルデヒド=210 g/mol)
次の式(7)によって,カルボニル化合物の濃度をppm 次の式によって,カルボニル化合物の濃度をppm(10
−6)に変換する。
(10−6)に変換する。
γAs24.3 244. (7)
As
(7) CA CAs μg/ L
Mc Mc
ここに, φAs : (10−6での体積分率)=カル ここに, CA : (10−6での体積分率)=カル
ボニル化合物の体積による ボニル化合物の体積による
ppm濃度 ppm濃度
γAs : 101.3 kPa(Vs),23 ℃で補正 ISO規格での25 ℃から
CAs : 101.3 kPa(Vs),25 ℃で補正
された空気体積(Vs)を用い された空気体積(Vs)を用い23 ℃への変更に合わせて
て計算された最初の試料中 て計算された最初の試料中 変更。
A1
のカルボニル化合物濃度 のカルボニル化合物濃度
(μg/L)
9
(μg/L)
62
24.3 : 23 ℃で補正された理想気体 24.4 : 25 ℃で補正された理想気体
: 2
の体積(μL/μmol) の体積(μL/μmol)
0 15
6
――――― [JIS A 1962 pdf 39] ―――――
38
A 1962 : 2015
A1
6
現行規格(JIS A 1962:2015) 旧規格(JIS A 1962:2005) 改正理由
9
箇条番号 内容 箇条番号 内容
62
及び題名 及び題名
: 2
10 計算 10. 計算
次の式(8)によって23 ℃,101.3 kPaにおいて補正され 次の式によって25 ℃,101.3 kPaにおいて補正された
0 15
(続き) た空気体積が換算できる。 (続き) 空気体積が換算できる。
Vm p 296.15 PA 298
Vs (8) Vs Vm (8)
1013.273.15 T 1013. 273 TA
ここに, Vm : 23 ℃,101.3 kPaの気圧にお
ここに, Vs : 25 ℃,101.3 kPaの気圧にお
ける試料体積の合計(L)
ける試料体積の合計(L)
p : 室内気圧の平均(kPa)
PA : 室内気圧の平均(kPa)
T : 室内温度の平均(℃)
TA : 室内温度の平均(℃)
これらの表現で標準状態と比較するために,標準条件 ISO規格での25 ℃から
これらの表現で標準状態と比較するために,標準条件
下(“23 ℃”,101.3 kPa)ppm表示で濃度結果を得る 23 ℃への変更に合わせて
下(“25 ℃”,101.3 kPa)ppm表示で濃度結果を得る
ことを望むなら,サンプル量に温度及び圧力補正を行 変更。
ことを望むなら,サンプル量に温度や圧力補正を行わ
わないほうがよい。 ないほうがよい。
11.1 概要 利用者はJIS Q 17025に従うべきである。 11.1 概要 ISO規格での修正に対応し
利用者はJIS Z 9900:1994,ISO 9000-2:1997,JIS Q
17025:2000及びEN 45001:1989に従うべきである。 て修正。
11.3 HPLC n : HPLCシステムにおけるカラム効率(理論段数) 11.3 HPLC n : カラム効率(理論段数) ISO規格での修正に対応し
システム システム て修正。
の性能 の性能
――――― [JIS A 1962 pdf 40] ―――――
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JIS A 1962:2015の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 16000-3:2011(MOD)
JIS A 1962:2015の国際規格 ICS 分類一覧
- 13 : 環境.健康予防.安全 > 13.040 : 気質 > 13.040.20 : 雰囲気
JIS A 1962:2015の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISK8180:2015
- 塩酸(試薬)
- JISK8180:2021
- 塩酸(試薬)
- JISK8223:2016
- 過塩素酸(試薬)
- JISK8480:2020
- 2,4-ジニトロフェニルヒドラジン(試薬)
- JISK8872:2008
- ホルムアルデヒド液(試薬)
- JISQ17025:2018
- 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項