JIS B 3502:2011 プログラマブルコントローラ―装置への要求事項及び試験 | ページ 3

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B 3502 : 2011
    IEC 61000-4-18:2006,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-18: Testing and measurement techniques
        −Damped oscillatory wave immunity test
    IEC 61000-4-29:2000,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-29: Testing and measurement techniques
        −Voltage dips, short interruptions and voltage variations on d.c. input power port immunity test
    IEC 61000-6-4:2006,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 6-4: Generic standards−Emission standard
        for industrial environments
    IEC 61131-3:2003,Programmable Controllers−Part 3: Programming languages
    IEC/TR 61131-4:2004,Programmable controllers−Part 4: User guidelines
    CISPR 14-1:2005,Electromagnetic compatibility−Requirements for household appliances, electric tools and
        similar apparatus−Part 1: Emission
    CISPR 16-1-2:2003,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
        1-2: Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Ancillary equipment−Conducted
        disturbances
    CISPR 16-1-4:2004,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
        1-4: Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Ancillary equipment−Radiated disturbances
    CISPR 16-2-1:2005,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
        2-1: Methods of measurement of disturbances and immunity−Conducted disturbance measurements
    CISPR 16-2-3:2006,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
        2-3: Methods of measurement of disturbances and immunity−Radiated disturbance measurements

2 形式試験

  この箇条の目的は,この規格の要求事項に関して,PLC及び関連周辺装置の適合性を検証する方法を定
義することである。この適合性検証には,次を含む。
a) 形式試験(箇条6,箇条9及び箇条12参照)による検証。
b) 適切な試験,外観検査及び/又は測定による検証。
  これらの試験は,PLCの適用に関する試験ではなく,機器の適合性検証である。この規格の範囲による
と,a) 及びb) の適合性検証は,使用者が意図した自動化システムの要求事項を満足させるPLCシステム
の能力を検証するものではない。この規格で規定していない特別な試験が必要な場合は,受渡当事者間に
よって協定する。
  なお,定常試験は,箇条13で規定する。
    注記 PLCシステムと同じ環境で用いる周辺装置は,PLCシステムと同じ要求事項を満たすことが望
          ましい。

2.1 EUT[equipment under test(供試品)]

  PLCシステムは,独立形の製品からモジュール構造の製品までの範囲にわたる。これは,実際に使用者
が組み立てるPLCシステム構成の種類が無限にあることを意味する。現実的には,ほとんどの場合,使用
者が構築するPLCシステムと同じEUTで形式試験を行うことはできない。このため,設計上の判断が必
要になる。したがって,製造業者は,EUTを定義して,次の原則を満たす試験計画及び試験プログラムを
文書化しなければならない。
  試験·EUT·試験プログラムの組合せは,合理的に考えて,次のようでなければならない。
− 製造業者の仕様及び設置説明書に従って使用者が組み立てた,いかなる構成においても,同じ試験に

――――― [JIS B 3502 pdf 11] ―――――

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    は問題なく合格して再現性を確保できる。
− その構成は,通常使用状態を反映することを意図した試験であるので,その状態で正常に機能する。
  この規格でほかに規定がない場合には,製造業者は,所定の形式試験の目的を達成するために,様々な
EUTを用いてもよい。
  基本PLC又はリモートI/O[Remote Inputs / Outputs (RIOS)]のEUTがモジュール構成の場合,次の最小
限の要求を満たさなければならない。
− 全ての種類のモジュールは,許容する組合せの一つ以上のEUTの中になければならない。
− 全ての種類のモジュールは,EUTの中に配置し,そして,少なくとも一度は試験しなければならない。
      注記 多数の入出力(例えば,100以上)の場合には,サンプルに基づいた統計的な基準を適用し
            てもよい。
  一つのEUTの中に含めるにはあまりにも多くのファミリがある場合には,製造業者は,次のように幾つ
かのEUTを定義してもよい。
− 非常に似かよったモジュール(すなわち,同じ回路及び同じ基本的な製造方法を用いた,主に入出力
    点数などが違う程度)をもつファミリの形式試験の場合には,製造業者は,このファミリモジュール
    の中から選択した任意の1モジュールだけを,基本PLCシステムの中に含ませてもよい。形式試験が
    モジュール自体の違いに依存している場合には,ただ一つのモジュールだけをファミリ内から選択す
    るのは望ましくない。
− カタログに記載した電源装置,アプリケーションメモリ,処理装置などにおける特定の任意選択機能
    については,これらを用いて妥当なEUTを構築しなければならない。
− ローカル拡張バスがPLCシステムの一部であり,その最大ケーブル長が3 m以下の場合には,PLCの
    内部バスと考えられる。このような場合,試験をするポートとしてはならない。
− ローカル拡張バスがPLCシステムの一部であり,3 mより長いケーブルで動作する場合には,リンク
    の片端だけはEUTの一部であり,通信ポートであるとみなす。
  この規格に従って,既に十分な試験が完了しているPLCシステムが最初に製品化された後で,新しいユ
ニット又はモジュールを追加する場合には,もともと用いられたものより単純なEUTを用いることができ
る。ただし,もともと試験したEUT中でこれらの新しいユニット又はモジュールを試験したときと同等の
場合で,かつ,製造業者が上記のようなEUT及び関連試験プログラムによって適切な検証が可能な場合に
限り,上記のような単純なEUTを用いてもよい。
  この規格でほかに規定がない場合,製造業者は,新しいEUTで各々の形式試験を実施してもよい。また,
同じEUTで連続して幾つかの形式試験を実施してもよい。
  一つのEUTだけを容易に対象にできる試験もあるが,一連の複数のEUTを組み合せて試験するほうが
よりふさわしい場合がある。EUTは,この必要性を考慮しなければならない。EUTに関する推奨事項につ
いては,試験を規定している各箇条を参照する。

――――― [JIS B 3502 pdf 12] ―――――

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2.2 イミュニティ及びEMCに関する試験の特徴

   インタフェース又はポートは,全ての接続ではなく,主な接続の一例を示す。ほとんどのEUTが,試験中にアクテ
ィブな複数のインタフェース又はポートをもつ。
                                        図1−EUT構成
  図2に示しているPLCシステムの各々の構成部分が,図1のEUT A,B,C,D,E及び/又はFとして
一つのEUTを構成する。各々のEUTの異なったポートを動作させるために,製造業者は,サブシステム
を定義して,別々のEUTを順番に試験してもよい。
  試験は,通常,ただ一つのサブシステムに対して行い,ほかは補助装置とみなす。
  EUT Aの試験の場合には,他のEUTの装置を接続していても試験の対象にはならない。
  PLCシステムの電磁妨害イミュニティを確認する場合の例では,製造業者は,次のいずれかの手段を選
択できる。
a) PADT·TE·RIOSを含む単一で全体的なEUTを構築し,全体の構成を確認する。
b) 例えば,PADT·TE·RIOSを含まないPLCシステム,一つのPADT,一つのRIOS及び一つのTE,
    又は意味があるそれら一組の部分的な組合せのような,より単純な一組のEUTを定義する。そして,
    PADT·TE·RIOSの代用として,各EUTの適切なポートを,試験台の設備部分(EUTを試験するた
    めに必要な実験装置)とともに動作させる。
  便宜上,製造業者は,EUTのポートを動作させるために実際のPADT·TE·RIOSを用いてもよい。
  EUTにあるいずれかの種類のうち少なくとも一つのポート,又は典型的な数のI/Oポートを接続して,
動作することが望ましい。
  PLCの最も典型的な機能しか試験できないことを考慮して,機能モードを選択しなければならない。

――――― [JIS B 3502 pdf 13] ―――――

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2.3 耐力試験

  一般的に,製造業者のカタログに記載したモジュールは,単独で試験することが望ましい。また,複数
のモジュールが混在した状態で試験する場合には,試験の結果に影響してはならない。詳細に関しては,
各々,耐力試験の箇条を参照することが望ましい。

2.4 検証手順

  特に規定しない限り,形式試験は,2.1で定義するEUTに対して実施しなければならない。
  製造業者は,次に従って各々の試験を実施する。
a) 構成の設置方法及び外部との接続方法を指定する。
b) 試験中に実行する適切な試験プログラムを用意する。
c) アナログ入出力における精度及び一時的な偏差の測定方法を含む,正規の操作の検証手順を用意する。
  製造業者が用意する適切な試験プログラム及び正規の機能検証手順は,2.5で規定する要求事項を満たさ
なければならない。
2.5  製造業者が用意する試験プログラム及び正規の機能検証手順[proper functioning verification
procedures (PFVP)]に関する要求事項
  形式試験中に,次のことがあってはならない。
a) 試験で要求する場合を除く,ハードウェアの破壊
b) オペレーティングシステム及び試験プログラムの修正及び/又はそれらの実行の変化
c) 内蔵システム又は外付けシステム,及びアプリケーションデータの,意図的でない変更
d) EUTの異常又は意図しない動作
e) 7.10.2の項目4及び7.11.2の項目3で規定する,アナログ入出力の動作限度を超える偏差
  EUTにおける全ての関連機能及び全構成要素,すなわち,ユニット及びモジュールは,用いている機能
及び構成要素間で情報が伝達するように機能しなければならない。
  EUTの全ての入出力及び通信チャネルが,機能しなければならない。
    注記 多数の入出力(例えば,100以上)の場合には,サンプルに基づいた統計的な基準を適用して
          もよい。
  全ての外部的及び内部的な製品のステータス情報を通知する手段,すなわち,ディスプレイ,ランプ,
警報信号,自己診断結果を格納するレジスタなどが機能していなければならない。試験手順には,関連す
る動作を検証するための条件を含む。
  始動及び停止,コールド,ウォーム,ホットの再始動,“正常運転”,“正常停止”,“PADTによるプログ
ラム·モニタ”など,使用者が行うPLCシステムの重要な全種類の操作モードに関して,性能及び動作を
検証しなければならない。
  始動及び停止が正常であることを確認するため,全てのシステム構成要素の初期化状態及びリセット状
態を検証しなければならない。“運転”,“プログラム”,“モニタ”などの各種モードに関して,その性能及
び動作を検証しなければならない。
  この規格で規定していない場合でも,基本的なPLCシステムの正規な操作に必要な全ての特殊な機能又
は性能については,動作させて試験しなければならない。

2.6 試験に関する一般事項

  試験は,適切な手順に従って実施しなければならない。

――――― [JIS B 3502 pdf 14] ―――――

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  試験は,特に規定しない限り,表1の一般試験条件の下で実施しなければならない。
  特に規定しない限り,形式試験の順序は定めない。
                                       表1−一般試験条件
                            項目                       試験条件
                   装置電源               定格電圧,定格周波数
                   温度                   1535 ℃
                   相対湿度               ≦75 %
                   気圧                   86106 kPa(650800 mmHg)
                   出力負荷               定格負荷
                   汚損度                 汚損度2

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS B 3501によるほか,次による。
3.1
アナログ入力(analog input)
  PLCシステムにおいて,連続信号を,独立した値をもつビットバイナリ値に変換する機器。
3.2
アナログ出力(analog output)
  PLCシステムからの多ビットバイナリ値を,連続信号に変換する機器。
3.3
接触可能(accessible)
  正しい実装状態で,ジョイント試験指又はテストピンによって接触が可能であること(12.1.2,12.1.3及
び附属書C参照)。
3.4
基本PLC(システム)
  少なくともCPU,電源及びI/Oからなる構成(図2参照)。
3.5
電池(battery)
  充電可能又は充電不可能な電気化学的エネルギー源。
3.6
空間距離(clearance)
  二つの導体部間の空間における最小の距離(IEC 60664-1の3.2参照)。
3.7
コーティング(coating)及び保護(protective)
  プリント配線基板の空間距離及び/又は沿面距離の空間を封じ,外気を遮断し,インパルス及び連続し
た電位に耐え得る空間距離及び/又は沿面距離を確保するためにプリント配線基板を覆う適切な絶縁物の
被覆。
    注記 通常,コーティングは,外気の影響を防ぎ,コーティングがない場合には,不十分な空間距離
          及び/又は沿面距離の絶縁耐圧特性を強化するために適用する。不十分なコーティングは,外
          気を防ぐことはあっても,絶縁特性を強化する信頼性はない。

――――― [JIS B 3502 pdf 15] ―――――

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