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B 7184 : 1999
JIS B 7184 投影検査器専門委員会 構成表
氏名 所属
(委員長) 岩 崎 茂 雄 工業技術院計量研究所量子部
紺 野 吉 承 キヤノン株式会社品質標準推進部
成 島 静 枝 セイコー電子工業株式会社品質保証室
増 山 利 勝 ソニー株式会社SPCプロキュアメントセンター
木 下 進 シチズン時計株式会社生産本部生産技術部
片 桐 正 秀 オリンパス光学工業株式会社光学機器開発部
岡 本 興 宣 神港精機株式会社技術部
沖 田 雪 男 株式会社トプコン生産技術部
藪 崎 憲 司 株式会社トプコン産業機器技術部測定機技術G
大 家 清 株式会社ニコンMS企画室
海老沢 秀 侑 株式会社ミツトヨ商品開発部
馬 場 秀 俊 通商産業省機械情報産業局
本 間 清 通商産業省工業技術院標準部
(事務局) 今 城 雅 雄 日本光学測定機工業会
JIS B 7184:1999の国際規格 ICS 分類一覧
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040 : 線及び角度の測定 > 17.040.01 : 線及び角度の測定一般
JIS B 7184:1999の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7181:1993
- 映写レンズの解像力試験標板
- JISB7526:1995
- 直角定規
- JISB7536:1982
- 電気マイクロメータ
- JISB7541:2001
- 標準尺
- JISR6001:1998
- 研削といし用研磨材の粒度