JIS B 7184:1999 測定投影機

JIS B 7184:1999 規格概要

この規格 B7184は、長さ,角度,輪郭などを測定する測定投影機について規定。測定投影機は,投影レンズ,スクリーン,照明装置,載物台又は精密十字動テーブル及びこれらを保持する本体からなる。

JISB7184 規格全文情報

規格番号
JIS B7184 
規格名称
測定投影機
規格名称英語訳
Profile projectors
制定年月日
1954年3月15日
最新改正日
2019年10月21日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

国際規格分類

ICS

17.040.01
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
機械計測 2021
改訂:履歴
1954-03-15 制定日, 1957-03-15 改正日, 1959-12-01 確認日, 1962-12-01 確認日, 1965-06-01 改正日, 1968-03-01 確認日, 1971-02-01 確認日, 1972-03-01 改正日, 1975-03-01 確認日, 1978-02-01 確認日, 1983-07-01 確認日, 1988-09-01 確認日, 1994-02-01 確認日, 1999-03-20 改正日, 2005-03-20 確認日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
ページ
JIS B 7184:1999 PDF [11]
B 7184 : 1999

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。これによってJIS B 7184 : 1972は改正され,この規格に置き換えられる。

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS B 7184 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
B 7184 : 1999

測定投影機

Profile projectors

序文 この規格は,日本工業規格(日本産業規格)の独自のものであり,対応する国際規格はない。
1. 適用範囲 この規格は,長さ,角度,輪郭などを測定する測定投影機について規定する。測定投影機
は,投影レンズ,スクリーン,照明装置,載物台又は精密十字動テーブル及びこれらを保持する本体から
なる(付図1,付図2,付図3参照)。
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版を適用する。
JIS B 7181 映写レンズの解像力試験標板
JIS B 7526 直角定規
JIS B 7536 電気マイクロメータ
JIS B 7541 標準尺
JIS R 6001 研削といし用研磨材の粒度
3. 定義 この規格に用いる主な用語の定義は,次による。
a) 軸 投影面で左右方向に移動する精密十字動テーブルの軸
b) 軸 投影面でY軸に直交する方向に移動する精密十字動テーブルの軸
c) 測定精度 実際の測定状態において,測定投影機で標準器を測定した際に得られる精度
4. 性能 性能は,表1による。ただし,許容値は,20℃におけるものとする。
5. 表示 測定投影機の本体には,製造業者名又はその略号及び製造番号を,投影レンズには呼び倍率を
表示しなければならない。

――――― [JIS B 7184 pdf 2] ―――――

2
B 7184 : 1999
表1 性能
番号 項目 測定方法 説明図 測定用具 許容値
1 テーブルのX軸移動方 テーブル上面にテー
(4.5+0.06L)
付図4 直角定規(JIS B 7526 下
向とY軸移動方向との ブルのX軸移動方向 に規定されたI形1 ここに,L : テーブル移動量 (mm)
直角度 と平行に直角定規の 級)又はこれと同等で測定範囲全域について適用す
使用面を置き,他辺 の性能をもつもの。る。
の使用面に投影レン 電気マイクロメータ
ズ取付部などに固定 (JIS B 7536に規定
した電気マイクロメ されたもの)又はこ
ータなどを当てて, れと同等の性能をも
テーブルをY軸方向 つもの。
に移動させたときの
指示の振れの最大値
を求める。
2 投影レンズ X軸方向 テーブル上面に標準 標準尺(JIS B 7541呼び倍率の±0.15%
の透過照明 尺を置き,その投影 に規定された01級
による倍率 像をスクリーン*の 又は1 度で校
精度 中心を原点として, 正されたもの)又は
読取り用の標準尺で これと同等の性能を
Y軸方向 測定して得られた倍 もつもの。読取り用
率と呼び倍率との誤 標準尺(JIS B 7541
差を百分率で表す。 に規定された3級)
又はこれと同等の性
能をもつもの。
3 投影レンズ X軸方向 テーブル上面に標準付図5 標準尺(JIS B 7541 呼び倍率の±0.25%
の反射照明 尺を置き,その投影 に規定された01級
による倍率 像をスクリーン*の 又は1 度で校
精度 中心を原点として, 正されたもの)又は
読取り用の標準尺で これに準じる性能を
測定して得られた倍 もつもの。読取り用
率と呼び倍率との誤 標準尺(JIS B 7541
差を百分率で表す。 に規定された3級)
なお,このとき透過 又はこれと同等の性
Y軸方向 照明装置と標準尺と 能をもつもの。拡散
の間に,標準尺から 板(JIS R 6001によ
20mm離れた位置に る粒度#800の砂を
拡散板を置き,拡散 用いて板ガラスを砂
光によって照明を行 ずりしたもの)。
う。また,半透過鏡
のあるものは,これ
を付けて測定を行
う。

――――― [JIS B 7184 pdf 3] ―――――

                                                                                              3
B 7184 : 1999
番号 項目 測定方法 説明図 測定用具 許容値
4 投影レンズの透過照明
テーブル上面に解像 解像力検査用チャー 単位 本/mm
による解像力 力検査用チャートを ト(JIS B 7181に規
置き,スクリーン*
(リレーレンズ方式を 定されたもの)又は
除く) 中心部で最も像が鮮 これと同等の性能を
明になるように焦点 もつもの。
を合わせ,認識でき
る最小の図票の値を
測定値とする。図票
の向きは,条線の一
つの方向が視野の中
心から見て放射方向
になるように定め
る。
5 投影レンズの反射照明 付図5 解像力検査用チャー
テーブル上面に解像 単位 本/mm
による解像力 力検査用チャートを ト(JIS B 7181に規
(リレーレンズ方式を置き,スクリーン* 定されたもの)又は
除く) 中心部で最も像が鮮 これと同等の性能を
明になるように焦点 もつもの。
を合わせ,認識でき 拡散板(JIS R 6001
る最小の図票の値を による粒度#800の
測定値とする。図票 砂を用いて板ガラス
の向きは,条線の一 を砂ずりしたもの)。
つの方向が視野の中
心から見て放射方向
になるように定め
る。なお,このとき
透過照明とチャート
との間に,チャート
から20mm離れた位
置に拡散板を置き,
拡散光によって照明
を行う。また,半透
過鏡のあるものは,
これを付けて測定を
行う。
6 回転スクリーン十字線 付図6 十字線チャートなど 0.3mm以下
テーブル上面に十字
の回転中心に対する同線などの指標を置
心度 き,回転スクリーン
に投影し,回転スク
リーンを回転させ,
回転中における回転
スクリーン十字線の
変位の量を読み取
る。
7 回転スクリーンの回転 付図7 30"以下で校正され
テーブル上面に十字 4以下
角度の測定精度 線チャートを置き, た90°の十字線チャ
回転スクリーンに投 ート
影し,回転スクリー
ンでこれの角度を測
定し,その誤差の最
大差を求める。

――――― [JIS B 7184 pdf 4] ―――――

4
B 7184 : 1999
番号 項目 測定方法 説明図 測定用具 許容値
8 各軸の測定 X軸方向 テーブル上面中央に付図8 標準尺(JIS B 7541 (6+0.04
各方向とも L) 下
精度 その移動方向と平行 に規定された01級 ここに,L : 測定長 (mm) で測定
に標準尺を置き,測 又は1 度で校
範囲全域について適用する。
定投影機でこれを測 正されたもの)又は
定しながらテーブル これと同等の性能を
を送り,その全測定 もつもの。
Y軸方向 範囲について測定投
影機の読みと標準尺
の移動した長さとの
差を求め,任意の2
点間 (L) 内の開き
の最大値を求める。
9 倍率変換による像移動 テーブル上面に十字 十字線チャートなど 物体面上で0.5 mm以下
線などの指標を置
き,その測定投影機
で使用する最高倍率
の投影レンズを用い
てスクリーン中央に
合わせ,次に任意の
投影レンズに変倍又
はズーム動作を行い
指標の移動量を求め
る。
10 スクリーン十字線の角 テーブル上面に十字付図9 30"以下で校正され 90°±2以下
度精度 線チャートを置き, た90°の十字線チャ
スクリーンに投影 ート
し,スクリーン十字
線との角度のずれ量
を求める。
注 *透明スクリーンの場合は,適切な透過拡散スクリーンを置く。

――――― [JIS B 7184 pdf 5] ―――――

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JIS B 7184:1999の国際規格 ICS 分類一覧

JIS B 7184:1999の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISB7181:1993
映写レンズの解像力試験標板
JISB7526:1995
直角定規
JISB7536:1982
電気マイクロメータ
JISB7541:2001
標準尺
JISR6001:1998
研削といし用研磨材の粒度