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C 2565-1992
図13 測定原理
M積分方式は,差電圧 非 地晶 ンダクタンスLによって入力側に負帰還する回路方式で
あり,増幅器の利得が十分に大きければ 鉞 ゐ 攀 刀攀
di dB
e2 L ≒e1 N2 A (28)
dt dt
から
Li
B (29)
N2 A
ここに, B : 磁束密度 (T)
L : 相互インダクタンス (H)
i : 電流 (A)
N2 : 二次巻数
A : 試料の断面積 (m2)
となり,電流iを分流し,電圧に変換してXY記録計のY軸に入れ,そのときの磁化電流をX軸に
入れて磁化曲線を自動記録する。
CR積分方式についても同様に増幅器の利得が十分大きければ
dB
e1 N2 A ≒iR (30)
dt
となり
N2 AB R idt RCV (31)
と全磁束変化はコンデンサの両端の電圧Vを測定して求める。実際上はVの代わりにe0を用いても
誤差は無視できるので,e0を用いて式(32)によって磁束密度Bを算出する。
e0CR
B) T( (32)
N2 A
(2) 測定手順 図13に示す原理図をもつ測定器でXY記録計にヒステリシス曲線を描かせて,飽和磁束密
度,残留磁束密度及び保磁力を次によって求める。ただし,磁束密度への換算は個々の計器係数によ
る。
(a) 飽和磁束密度 ヒステリシス曲線の実効飽和化磁界の強さに対応する磁束密度を読み取り,これを
飽和磁束密度とする。
――――― [JIS C 2565 pdf 16] ―――――
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(b) 残留磁束密度 ヒステリシス曲線の飽和磁束密度の状態から,磁界を取り去ったときの磁束密度を
読み取り,これを残留磁束密度とする。
(c) 保磁力 ヒステリシス曲線の飽和磁束密度の状態から磁界を取り去り,更に反対方向に磁化してい
くとき,磁束密度がゼロになる磁界の強さを読み取り,これを保磁力とする。
6. その他の性能試験
6.1 見掛密度
6.1.1 測定試料 特に規定しない。
6.1.2 液中でひょう量する方法 液中でひょう量する方法は,次による。
(1) 測定原理 液体中にある試料は,試料と同体積の液体の重さに等しい浮力を受けているので,空中で
ひょう量し,これらの値と液体の密度から試料の見掛密度を求める。
(2) 測定手順 測定は,次の順序で行う。
(a) 試料をよく乾燥し,ひょう量して4けたまで求める (m1) 。
(b) 試料を溶解したパラフィン中に浸し,十分に含浸させた後,これを取り出して表面に付着したパラ
フィンを十分にぬぐい取る。
(c) パラフィン付試料をひょう量し,4けたまで求める (m2) 。
(d) 試料をつり線で一定温度T (℃) の水中につるす。試料をつり線でつれないときは,つり線の付いた
容器に入れ,水中につるす。
(e) 水中につった試料をひょう量し,4けたまで求める。つり線の付いた容器を用いるときは,試料を
容器に入れ,水中につり,ひょう量して4けたまで求める (m3) 。
(f) つり線又は容器付つり線を水中でひょう量し,4けたまで求める (m4) 。
(3) 算出 見掛密度は,式(33)によって算出する。
m1
dapp S (33)
m2 (m3 m4 )
ここに, dapp : 見掛密度 (g/cm3)
m1 : 試料の空気中での質量 (g)
m2 : パラフィン含浸試料の空気中での質量 (g)
m3 : パラフィン含浸試料の水中での質量 (g)
m4 : つり線又は容器付つり線の水中での質量 (g)
S : 温度T℃の水の密度 (g/cm3)
備考1. つり線は,試料をつるすのに十分な強さをもち,水中に入ったつり線の体積の変化による誤
差が無視できるようなものであること。
2. 水中につってひょう量するときは,すべて泡がないようにしなければならない。
6.1.3 体積から求める方法 試料の体積を幾何学的に計算できる場合は,その体積と質量から見掛密度を
式(34)によって算出する。
m
dapp (34)
V
ここに, dapp : 見掛密度 (g/cm3)
m : 試料の質量 (g)
V : 試料の体積 (cm3)
6.2 曲げ強さ
――――― [JIS C 2565 pdf 17] ―――――
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6.2.1 測定試料 試料の形状及び寸法は,原則として図14に示すとおりとする。ただし,断面が長方形
又はだ円形でもよい。
図14 試料の形状及び寸法
6.2.2 測定 試料を図15に示すように,隔たった2支点間に載せ,両支点間の中央に加圧くさびで荷重
を試料に垂直に一定の速度で加えて,試料が切断破壊する荷重を測定し,式(35)によって曲げ強さ 戀
出する。
2 8 4
)
b3 ( N / m 3
10 (35)
ここに, P : 切断破壊時の荷重 (N)
L : 支点間の距離 (m)
d : 試料の直径 (m)
図15 曲げ強さ試験
備考1. くさびは,鋼製とする。
2. 断面が長方形の場合(図16)は,式(36)によって算出する。
2 3PL
b3 ( N / m
) 愀10 4 (36)
2
2
3. 断面がだ円形の場合(図17)は,式(37)によって算出する。
2 8PL
b3 ( N / m
) 愀104
2
(pdf 一覧ページ番号 )
図16 図17
6.3 ビッカース硬さ
6.3.1 測定試料 試料は,直径10mm以上の円又は一辺の長さ10mm以上の正方形若しくは長方形の断
面をもち,厚さ5mm以上のものとする。
――――― [JIS C 2565 pdf 18] ―――――
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測定断面は,エメリーぺーパ600番を用いて,水冷を行いながら研磨し,必要に応じてバフ研磨を行い,
傷がないものとする。
6.3.2 測定 測定に用いる試験機は,JIS B 7725の規定によって,更にこの測定に必要な検査に合格した
ものとする。
測定は原則として9.8Nの荷重を用いて行う。ただし,9.8Nの荷重では試料に明確な割れ又はくずれを
生じるものは4.9Nの荷重とし,4.9Nの荷重も不適当な場合には0.49Nの荷重を用いる。
ビッカース硬さの測定は,規定がない限り,試料の全体を代表できるように選んだ5か所で行い,その
平均値をもって測定値とする。測定値には,使用した試験荷重を示す。
その他測定に関する事項は,JIS Z 2244による。
6.4 線膨張係数
6.4.1 測定試料 特に規定しない。
6.4.2 測定 圧力一定の下で,試料が温度とともに変化する長さを測定し,式(38)によって線膨張係数 愀
を算出する。
なお,測定記録には,測定温度を付記する。
Lt L0 1( t) (38)
ここに, Lt : t℃での長さ (m)
L0 : 0℃での長さ (m)
at : 線膨張係数 (1/℃)
原案作成メンバー構成表
(順不同)
氏名 所属
(主査) 橋 本 忠 士 東京電気化学工業株式会社
紅 林 秀都司 三菱電機株式会社
高 橋 弘 日本マイクロウェーブ
小笠原 直 幸 東京都立大学
金 木 利 之 日本放送協会
富 島 浩 日本電信電話公社茨城電気通信研究所
乾 哲 司 日本電気株式会社
徳 光 康 之 株式会社富士通研究所
村 田 計 枝 島田理化工業株式会社
田 村 修 二 工業技術院標準部
(事務局) 安 原 吉 郎 電子材料工業会
JIS C 2565:1992の国際規格 ICS 分類一覧
JIS C 2565:1992の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISB7725:2010
- ビッカース硬さ試験―試験機の検証及び校正
- JISB7725:2020
- ビッカース硬さ試験―試験機の検証及び校正
- JISC2501:1955
- ケイ素鋼板
- JISC2501:2019
- 永久磁石試験方法
- JISC3202:2014
- エナメル線
- JISZ2244:2009
- ビッカース硬さ試験―試験方法
- JISZ8703:1983
- 試験場所の標準状態