JIS C 5260-1:2014 電子機器用可変抵抗器―第1部:品目別通則 | ページ 18

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C 5260-1 : 2014 (IEC 60393-1 : 2008)
H.6.7 能力認証試験報告書
IEC QC 001002-3の4.2.6.3に従って,能力認証試験報告書を発行する。この報告書には,日付を付けて
次のa) c)に規定する情報を含める。
a) 共通事項
− 製造業者名及び住所
− 上記と異なる場合の製造場所
− 品目別通則及び品種別通則の規格番号,発行日並びに追補の番号及び発行日
− 能力の記述の版番号及び日付
− 工程管理パラメータ(PCP)/能力認証用可変抵抗器(CQC)仕様書の引用
− 適用する場合の能力認証のための試験計画の引用
− 適切な測定の不確定さ及び一緒に用いる試験装置のリスト
b) [各能力認証用可変抵抗器(CQC)用]試験情報の概要
− 試験
− 試験する試料数
− 許容不適合数
− 検出された不適合数
c) 測定の記録 測定結果の記録は,試験後の要求性能又は最終測定を規定する様々な機械的,環境的及
び耐久性試験の前後に行う。
注記 対応国際規格では,Annex Dを引用しているが,この規格の附属書Dは別の規定で該当がな
く誤りである。そのため,この附属書Hの意図する内容を類似規格(JIS C 5101-1及びJIS C
5201-1)から引用して記載した。
また,この試験報告書には,次の事項も含める。
− 能力マニュアルの発行番号及び発行日
− H.6.6による能力認証用プログラム
− プログラムの実施中に得た全ての試験結果
− 用いた試験方法
− 不適合が発生した場合に実施した是正内容の報告書(H.6.10.1参照)
報告書は,得られた結果の正式文書として管理責任者(DMR)が署名し,能力認証の認可に責任があり,
国内規則で指定した機関[国内監督検査機関(NSI)]に提出する。
H.6.8 能力の概要
能力の概要は,能力認証が認可された後に,品質認証電子部品一覧表(QPL)の中で公表することを意
図する。
注記 対応国際規格では,IEC QC 001005を記載しているが廃止されている。IEC QC 001005に記載
の品質認証電子部品一覧表(QPL)は,IECオンラインサービス(http://certificates.iecq.org/)
で参照できる。
それには,製造業者の能力の簡潔な説明を含めて,認定した製造業者の技術,製造方法及び製品の範囲
の十分な情報を含む。
H.6.9 能力認証に影響を及ぼす変更
能力認証に影響を及ぼすいかなる変更も,IEC QC 001002-3の4.2.11(能力認証に影響を及ぼす変更)
の要求事項を満足する。

――――― [JIS C 5260-1 pdf 86] ―――――

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C 5260-1 : 2014 (IEC 60393-1 : 2008)
H.6.10 初期能力認証
この認証は,次の場合に許可する。
− 能力認証用可変抵抗器(CQC)の選定範囲は,不適合がなく,能力認証用可変抵抗器(CQC)の個別
規格の評価要求事項を全体的に満足している。
− 管理計画を,工程管理体系の中で十分に実施している。
H.6.10.1 不適合になった場合の手順
不適合になった場合の手順は,IEC QC 001002-3の4.2.10(能力認証の維持でCQCの不具合が発生した
場合の手続き)によるほか,次による。
可変抵抗器が,検査要求事項に不適合となった場合には,製造業者は,国内監督検査機関(NSI)に通
知し,次のa)及びb)に規定する処置の一つに従うことを表明する。
a) 製造業者が提案した能力の適用範囲を変更する。
b) 不適合の原因が,次のいずれであるかを確定するために,不適合品の調査を行う。
− 試験そのものの失敗(例えば,試験装置の故障,検査員の誤操作)
− 設計又は工程の不具合
不適合の原因が,試験そのものの失敗として確定した場合には,見かけ上の不適合品又は適切な場合に
は,新しい可変抵抗器のいずれかを,必要な是正処置を行った後に試験プログラムに戻す。新しい可変抵
抗器を用いる場合には,見かけ上不適合となった可変抵抗器と同様に,試験プログラムの一連の全ての試
験を実施する。
不適合の原因が,設計又は工程の不具合として確定した場合には,試験プログラムは,不適合の原因を
根絶して,文書化を含めて全ての是正処置が実施されたことを実証する。これが成し遂げられた場合には,
不適合が発生した一連の試験は,新しい能力認証用可変抵抗器(CQC)を用いて全てやり直す。
是正処置が完了した後,製造業者は,能力認証の試験報告書(H.6.7参照)の中に是正内容の報告書の
写しを含めて国内監督検査機関(NSI)に送付する。
H.6.10.2 工程管理パラメータ(PCP)及び能力認証用可変抵抗器(CQC)の選定の一般的計画
各製造業者は,関連する品種別通則の例に基づいて,工程フローチャートを作成する。製造業者は,フ
ローチャートに含む全ての工程段階に対応する工程管理項目を入れる。
管理項目は,関連する品種別通則で例示するように,製造業者が指定する。
H.6.10.3 工程管理試験計画
試験計画は,製造業者が用いる工程管理体系の一部を構成する。統計的工程管理(SPC)を用いる場合
には,統計的工程管理(SPC)の基本的な要求事項によって実施する。統計的工程管理(SPC)計画は,
工程の重要管理項目での必須管理とする。
生産設備を用いる各工程段階では,製造業者は,定期的に工程パラメータを監視し,製造業者が設定す
る管理範囲と対策範囲とを比較する。
H.6.10.4 能力の範囲を実証するための能力認証用可変抵抗器(CQC)の試験計画
能力範囲を実証するための能力認証用可変抵抗器(CQC)の試験計画は,関連する品種別通則に規定す
る。
H.6.11 能力認証の許可
能力認証は,IEC QC 001002-3の4.2.6(能力の実証及び検証)による手順を十分に満足し,関連する品
種別通則の要求事項を満足した場合には許可する。

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C 5260-1 : 2014 (IEC 60393-1 : 2008)
H.6.12 能力認証の維持
能力認証は,IEC QC 001002-3の4.2.9(能力認証の維持)の要求事項を満足し,関連する品種別通則の
中に規定する維持予定表に従う能力マニュアルで宣言した要求事項を満足することによって維持する。
さらに,能力認証には,次の詳細を適用する。
a) 能力認証は,2年間再試験なしで有効とする。
b) 能力認証用可変抵抗器(CQC)の再試験プログラムは,製造業者によって決定する。工程管理に対し
て,製造業者は,管理体系を確立する。管理プログラムの例は,品種別通則の中の規定に従ってもよ
い。能力の範囲を立証するために,製造業者は,製造業者の能力認証に関するH.6.10.4の全ての試験
計画を少なくとも2年に1度は確実に行う。
c) 出荷のための可変抵抗器の品質確認検査は,関連する能力認証の維持を立証するために用いてもよい。
特に,製造業者が,同じ工程で製造し,かつ,能力認証を保持する能力範囲内にある可変抵抗器の範
囲の品質認証を維持する場合には,工程管理の検査結果及び品質認証から発生する定期的な品質確認
結果を,能力認証の維持を立証するために用いてもよい。
d) 製造業者は,能力認証用可変抵抗器(CQC)の範囲が,出荷品の代表のままであること,更に,関連
の品種別通則の要求事項と一致していることを確実にする。
e) 製造業者は,次のように製造を維持する。
− H.6.9の手順に従って,国内監督検査機関(NSI)が承認したいかなる追加又は削除を除き,能力マ
ニュアルで規定した工程は,変更しない。
− 製造場所及び最終検査を行う場所は,変更しない。
− 製造業者は,6か月を超えて能力認証での生産を中断しない。
f) 製造業者は,常に立証された能力範囲及び規定期間での証明をもつ能力範囲が,証明できるように能
力プログラムの維持の経過を記録する。
H.6.13 能力認証の拡張
製造業者は,拡張できる範囲の種類に関するH.6.10.4の試験計画を実施することによって,製造業者の
能力認証の範囲を拡張してもよい。拡張案が,H.6.10.4に規定する能力範囲から異なる種類の範囲まで引
用する場合には,製造業者は,用いるサンプリング及び試験を提案し,国内監督検査機関(NSI)の承認
を得る。製造業者は,新しい能力範囲のために必要な全ての工程管理を確立する。
能力認証の拡張は,最初の認証と同じ方法で行う。
H.6.14 品質確認検査
品質確認検査の要求事項は,個別規格に規定し,IEC QC 001002-3の4.3.1(品質確認検査)に従って行
う。
H.7 手直し及び修理
H.7.1 手直し
関連する品種別通則によって禁止する場合は,IEC QC 001002-3の4.1.4(手直し)に規定する手直しは
行わない。特定の部品について,手直しの回数を制限する場合には,そのことを関連する品種別通則に規
定する。
全ての手直しは,個別規格の要求によって検査する検査ロットを構成する前に実施する。
手直しの手順は,製造業者が作成する関連文書の中に全て規定する。また,管理責任者(DMR)の直接
管理の下に実施する。手直しは,下請負契約をしない。

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C 5260-1 : 2014 (IEC 60393-1 : 2008)
H.7.2 修理
IEC QC 001002-3の4.1.5(修理)に規定する修理をした可変抵抗器は,IECQ制度の下では出荷しない。
H.8 出荷
個別規格に規定する品質確認検査を実施した後,可変抵抗器は,H.5.6及びIEC QC 001002-3の4.3.2(出
荷及び出荷の妥当性)に従って出荷する。
注記 対応国際規格では,H.2.6と記載しているが明らかにH.5.6の誤りであるため修正した。
H.8.1 品質認証中での群B検査完了前の出荷
全ての群B検査について,IEC 60410のゆるい検査への移行の条件を満足する場合には,製造業者は,
群B検査の完了前に可変抵抗器を出荷できる。
注記 IECQ制度を適用しない場合は,IEC 60410に替えてJIS Z 9015-1を用いてもよい。
H.9 出荷ロット成績証明書
購入者から,出荷ロット成績証明書の要求がある場合には,出荷ロット成績証明書の内容を,個別規格
に規定する。
注記 能力認証では,出荷ロット成績証明書は,能力認証用可変抵抗器(CQC)で行う試験だけを引
用する。
H.10 長期保管後の出荷
ロットの出荷後,2年(品種別通則に規定がない場合)を超えて長期保管した可変抵抗器は,出荷前に
個別規格に規定するはんだ付け性及び電気的特性について再検査する。
製造業者の管理責任者(DMR)が採用する再検査手順は,国内監督検査機関(NSI)が承認したものと
する。
ロットの再検査結果が満足するものである場合には,その品質は,規定する期間再保証する。
H.11 代替試験方法
代替試験方法は,IEC QC 001002-3の3.2.3.7(代替試験方法)によるほか,次による。
判定及び基準に対して疑義がある場合には,規定する方法だけを用いる。
H.12 IECQの国内監督検査機関(NSI)の対象地域外での製造
IEC QC 001002-3の2.5.1.3の要求事項を満足する場合には,関連する技術的な領域に対して,国内監督
検査機関(NSI)がない国に所在する製造業者の工場は,この国がIECQメンバー国であるかどうかにか
かわらず,製造業者は,可変抵抗器の一部又は全ての製造範囲に,その認証を拡張してもよい。
H.13 規定していないパラメータ
個別規格に規定があって,試験の対象になった可変抵抗器のパラメータだけが規定の範囲内であるとみ
なす。規定していないいかなるパラメータも,ある可変抵抗器から別の可変抵抗器まで不変のままとはみ
なさない。いかなる理由があっても,一つ以上の追加パラメータを管理する必要がある場合には,新たに,
更に広範囲にわたる規格を用いる。
追加の試験方法は,十分な規定内容,適切な規定値,抜取検査方式及び検査水準を規定する。

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C 5260-1 : 2014 (IEC 60393-1 : 2008)
H.14 技術認証手順
H.14.1 一般事項
可変抵抗器の技術認証は,全ての技術プロセスを対象とする。既存の品質認証及び能力認証の概念に次
の原則を付加し,技術認証の必須要件として拡張する。
a) 工程管理手法の使用,例えば,統計的管理手法(SPC)
b) 継続的な品質改善の戦略
c) 総合的な技術及び作業の監視
d) 品質管理システム及び市場要求に適合する実施面での柔軟性
e) 迅速な認証又は認証の拡張を可能にするための製造業者の作業文書の承認。
H.14.2 技術認証を取る資格
製造業者は,IEC QC 001002-3の6.2.1(技術認証を得る資格)に従う。
H.14.3 技術認証の申請
製造業者は,IEC QC 001002-3の6.2.2(技術認証の申請)に従う。
H.14.4 技術認証の記述
技術は,IEC QC 001002-3の6.4に従って,技術認証申請書(TADD)及び技術認証スケジュール(TAS)
に記述する。
H.14.5 技術の実証及び証明
製造業者は,IEC QC 001002-3の6.4(技術認証の要求事項)及び6.5(検証)に従って,技術の実証及
び証明をする。
H.14.6 技術認証の許可
技術認証は,IEC QC 001002-3の6.7.3(内部監査)による手順を完全に満足する場合には認可する。
H.14.7 技術認証の維持
技術認証は,IEC QC 001002-3の6.7.5(技術認証の妥当性確認)の要求事項を満足することによって維
持する。
H.14.8 品質確認検査
品質確認検査の試験項目及び要求事項は,関連する個別規格及び技術認証スケジュールに従って行う。
H.14.9 故障率水準の決定及び認可
故障率水準の決定及び認可は,下位規格に規定する。
H.14.10 出荷品質水準
出荷品質水準の要求事項は,受渡当事者間の協定による。

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JIS C 5260-1:2014の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 60393-1:2008(IDT)

JIS C 5260-1:2014の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 5260-1:2014の関連規格と引用規格一覧

規格番号
規格名称
JISC5005-2:2010
品質評価システム―第2部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
JISC5062:2008
抵抗器及びコンデンサの表示記号
JISC5063:1997
抵抗器及びコンデンサの標準数列
JISC5270:2011
電子機器用コンデンサ及び抵抗器―軸操作形部品の操作軸,取付ねじ及び取付孔の形状並びに推奨寸法
JISC5402-2-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-1部:導通及び接触抵抗試験―試験2a:接触抵抗―ミリボルトレベル法
JISC5402-2-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第2-2部:導通及び接触抵抗試験―試験2b:接触抵抗―規定電流法
JISC60068-2-1:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
JISC60068-2-14:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-14部:温度変化試験方法(試験記号:N)
JISC60068-2-2:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
JISC60068-2-20:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JISC60068-2-21:2009
環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
JISC60068-2-27:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
JISC60068-2-30:2011
環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
JISC60068-2-6:2010
環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
JISZ8000-1:2014
量及び単位―第1部:一般