この規格ページの目次
8
C 5381-12 : 2014 (IEC 61643-12 : 2008)
U
b) 入力端子及び出力端子を備えた1ポートSPD
SPD
c) 1ポートSPDの総括的な図記号
注記 図中のUは,バリスタの図記号を表している。
図1−1ポートSPDの例(続き)
Z
U
a) 3端子の2ポートSPD
Z
U
Z
b) 4端子の2ポートSPD
SPD
c) 2ポートSPDの総括的な図記号
図2−2ポートSPDの例
――――― [JIS C 5381-12 pdf 11] ―――――
9
C 5381-12 : 2014 (IEC 61643-12 : 2008)
電流
0
8 時間(μs)
20
a) 印加電流波形
U 電圧
0
時間(μs)
b) 電圧制限形SPDの応答
電圧
0
時間(μs)
c) 電圧スイッチング形SPDの応答
電圧
U
0
時間(μs)
d) 1ポート複合形SPDの応答
電圧
Z
U
0
時間(μs)
e) 2ポート複合形SPDの応答
図3−コンビネーション波形インパルスに対する1ポートSPD及び2ポートSPDの応答
――――― [JIS C 5381-12 pdf 12] ―――――
10
C 5381-12 : 2014 (IEC 61643-12 : 2008)
Z 電圧
U
0
時間(μs)
f) フィルタ付2ポート電圧制限形SPDの応答
注記 電圧レベルは,単に代表値で実際の値の表示ではない。
図3−コンビネーション波形インパルスに対する1ポートSPD及び2ポートSPDの応答(続き)
3.1.28
電圧制限形SPD(voltage limiting type SPD)
サージを印加していない場合は,高インピーダンスであるが,サージ電流及び電圧が増加するに従い連
続的にインピーダンスが低くなるSPD。
注記1 非線形デバイスとして用いる部品の一般的な例としては,バリスタ及び定電圧ダイオードが
ある。これらのSPDは,“クランピング素子”という場合がある。
注記2 次の注記3を追加して,JIS C 5381-11の3.1.5(電圧制限形SPD)を適用している。
注記3 電圧制限形SPDは,連続的なU−I曲線をもっている。コンビネーション波形発生器によっ
てSPDに印加したインパルスに対する,代表的な電圧制限形SPDの応答を,図3のb)に示
している。
3.1.29
複合形SPD(combination type SPD)
電圧スイッチング形の素子及び電圧制限形の素子の両方を併せもつSPD。印加電圧の特性に応じて,電
圧スイッチング,電圧制限,又は電圧スイッチング及び電圧制限の両方の動作をしてもよい。
注記1 次の注記2を追加して,JIS C 5381-11の3.1.6(複合形SPD)を適用している。
注記2 コンビネーション波形のインパルスに対する,各種の代表的な複合形SPDの応答を,図3の
d)及び図3のe)に示している。
3.1.30
防護モード(modes of protection)
SPDの防護素子が,ライン−ライン,ライン−接地,ライン−中性線若しくは中性線−接地,又はそれ
らの組合せで接続する経路。
[JIS C 5381-11の3.1.8(SPDの防護モード)参照]
3.1.31
続流,If(follow current)
電源系統から供給する,インパルス放電電流の放電後にSPDを流れる電流。続流は連続使用電流Icとは
異なる。
[JIS C 5381-11の3.1.12(続流)参照]。
3.1.32
クラスII試験における最大放電電流,Imax(maximum discharge current for class II test)
クラスII試験における動作責務試験の試験シーケンスに従った8/20の波形及び大きさ。SPDに流れる
電流波高値。ImaxはInよりも大きい。
――――― [JIS C 5381-12 pdf 13] ―――――
11
C 5381-12 : 2014 (IEC 61643-12 : 2008)
[JIS C 5381-11の3.1.48(最大放電電流)参照]
3.1.33
劣化(degradation)
サージ,通常の使用状態又は厳しい使用環境に,SPDをさらしたときのSPDの初期性能値の変化。
注記1 次の注記2を追加して,JIS C 5381-11の3.1.26[劣化(性能の)]を適用している。
注記2 劣化は,SPDが設計耐用年数の条件に耐えるSPDの能力の指標である。劣化に関しての確認
のために,二つの形式試験を適用する。第1は,動作責務試験で,第2は,エージング試験
であるが,これらの二つの試験を組み合わせてもよい。動作責務試験は,規定する電流波形
を規定回数SPDに印加する。SPD特性の許容変化値は,JIS C 5381-11に規定している。エ
ージング試験は,規定する大きさ及び継続時間の電圧,並びに規定した温度で実施する。SPD
特性の許容変化値は,この規格に規定する(この試験は,検討中である)。
劣化のデータは,次の4項目を考慮したSPDの推定設置寿命を決定するために用いること
が望ましい。
− 取替え方針
− 設置場所及び接近性
− 許容故障率
− 動作回数
3.1.34
漏電遮断器,RCD(residual current device)
規定する条件下で,漏電電流又は不平衡電流が規定値に達したときに,接点を開放する機械的遮断装置
又は関連装置。
[JIS C 5381-11の3.1.35(漏電遮断器,RCD)参照]
3.1.35
系統の公称電圧(nominal voltage of the system)
設計した系統又は機器の電圧,かつ,特定の動作特性を満足する電圧(例えば,230 V/400 V)。
注記1 供給電源の端子電圧は,正常な系統条件下で,電源系統の許容範囲の公称電圧と異なること
がある。この規格では許容範囲は±10 %を用いている。
注記2 系統の1ラインと接地との間の公称電圧は,Un(IEC 60038を参照)とする。
注記3 系統のラインと中性線との間の電圧をU0とする。
注記4 系統のライン間電圧をUとする。
3.1.36
インパルス試験の分類(impulse test classification)
次の三つのインパルス試験で表すことができる分類。
3.1.36.1
クラスI試験(class I test)
3.1.9に定義する公称放電電流In,3.1.13に定義する1.2/50電圧インパルス,及び3.1.10に定義するクラ
スI試験のインパルス電流Iimpによって実施する試験。
3.1.36.2
クラスII試験(class II test)
3.1.9に定義する公称放電電流In,3.1.13に定義する1.2/50電圧インパルス,及び3.1.32に定義するクラ
――――― [JIS C 5381-12 pdf 14] ―――――
12
C 5381-12 : 2014 (IEC 61643-12 : 2008)
スII試験の最大放電電流Imaxによって実施する試験。
3.1.36.3
クラスIII試験(class III test)
3.1.11に定義するコンビネーション波形(1.2/50及び8/20)によって実施する試験。
注記 JIS C 5381-11の3.1.34.3(クラスIII試験)を適用している。
3.1.37
定格負荷電流,IL(rated load current)
SPDが防護している出力側に接続した負荷に供給できる最大連続定格の交流電流(実効値)又は直流の
電流。
注記1 次の注記2を追加して,JIS C 5381-11の3.1.13(定格負荷電流)を適用している。
注記2 これは,入力端子及び出力端子が分離しているSPDだけに関連する。
3.1.38
過電流保護(overcurrent protection)
SPDの電源供給側に設置する電気設備の一部分である過電流保護装置(例えば,回路遮断器又はヒュー
ズ)。
3.1.39
SPD設置場所での電力系統の最大連続使用電圧,Ucs[maximum continuous operating voltage of the power
system at the SPD location (Ucs)]
SPDを適用した場所で,SPDが恒久的に使用できる最大の実効交流電圧値又は直流電圧。
注記1 Ucsは,電圧変動,電圧降下又は上昇だけを考慮する。実際の最大系統電圧であり,直接U0
と関連している(図6を参照)。
注記2 この電圧は,高調波,事故,TOV及び過渡現象を考慮していない。
3.1.40
電圧スイッチング形SPDの放電開始電圧(sparkover voltage of a voltage-switching SPD)
SPDのギャップ電極間で,放電を起こす直前の最大電圧値。
注記1 次の注記2を追加してJIS C 5381-11の3.1.36(電圧スイッチング形SPDの放電開始電圧,電
圧スイッチング形SPDのトリガ電圧)を適用している。
注記2 電圧スイッチング形SPDは,ギャップ以外の素子(例えば,シリコン系素子)で構成しても
よい。
3.1.41
雷保護システム,LPS(lightning protection system)
雷の影響を受ける建築物及び内容物を保護するために用いる完全なシステム。
3.1.42
多用途SPD(multiservice SPD)
単一の外郭に,電源,通信,信号などの二つ以上の回線の雷防護を備えるサージ防護デバイス。サージ
侵入時に各回線間の共通接続点を構成する。
3.1.43
漏電電流,IPE(residual current)
製造業者が指定した方法で,SPDに最大連続使用電圧Ucを印加したときPE端子に流れる電流。
[JIS C 5381-11の3.1.40(漏電電流)参照]
――――― [JIS C 5381-12 pdf 15] ―――――
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JIS C 5381-12:2014の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 61643-12:2008(IDT)
JIS C 5381-12:2014の国際規格 ICS 分類一覧
- 29 : 電気工学 > 29.240 : 送電及び配電網 > 29.240.10 : 変電所設備.サージ防止装置
JIS C 5381-12:2014の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0920:2003
- 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
- JISC5381-11:2014
- 低圧サージ防護デバイス―第11部:低圧配電システムに接続する低圧サージ防護デバイスの要求性能及び試験方法
- JISC60364-4-41:2010
- 低圧電気設備―第4-41部:安全保護―感電保護
- JISC60364-4-44:2011
- 低圧電気設備―第4-44部:安全保護―妨害電圧及び電磁妨害に対する保護
- JISC60364-5-53:2006
- 建築電気設備―第5-53部:電気機器の選定及び施工―断路,開閉及び制御
- JISC60664-1:2009
- 低圧系統内機器の絶縁協調―第1部:基本原則,要求事項及び試験
- JISC61000-4-5:2018
- 電磁両立性―第4-5部:試験及び測定技術―サージイミュニティ試験
- JISZ9290-4:2016
- 雷保護―第4部:建築物等内の電気及び電子システム