JIS C 5920-4:2019 光伝送用パワー制御受動部品―第４部：シングルモード光ファイバプラグレセプタクル形固定光減衰器 | ページ 2

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C 5920-4 : 2019
              表1−シングルモード光ファイバプラグレセプタクル形固定光減衰器の定格
               項目         記号          条件                  定格値            単位
         使用温度範囲        Ta            −                   060 a)             ℃
         保存温度範囲       Tstg           −                  −4085              ℃
         使用波長範囲b)     λband         −          Oバンド : 1 2601 360        nm
                                                       Eバンド : 1 3601 460
                                                       Sバンド : 1 4601 530
                                                       Cバンド : 1 5301 565
                                                       Lバンド : 1 5651 625
                                                       Uバンド : 1 6251 675
         最大入力光パワーc)   max   試験波長 : 公称波長             100             mW
         注a) 使用温度範囲における湿度範囲は,図1の一定水蒸気量曲線を含む閉曲線の範囲内とする。
           b) この使用波長範囲はITU-T Recommendation G-series sup.39に記載している。この内容は,
              要求事項ではなく,推奨値である。実際の使用波長範囲は,製造業者が指定する。
           c)   バンド及びLバンドに適用する。それ以外は,受渡当事者間の協定による。
                注a) 温度30 ℃60 ℃の一定水蒸気量曲線は,温度30 ℃かつ相対湿度85 %の
                     条件下と同じ水蒸気量をもつ温度及び相対湿度を示す。
                              図1−温度及び湿度を考慮した環境条件

5 光学特性

  シングルモード光ファイバプラグレセプタクル形固定光減衰器の光学特性に関する試験方法,試験条件
及び要求性能は,表2による。特に規定のない限り,光源及びその他の測定器と供試品とを接続する光フ
ァイバには,JIS C 6820に規定する分類記号SMAの1 310 nmゼロ分散形の1次及び2次被覆のある心線,
並びにケブラー補強付きのコードを用いる。接続に使用する基準コネクタは,附属書Aによる。また,基
本モードだけが,供試品の入力端子及び出力端子から光パワーメータの入力端子までに伝搬するように,
可能な限り測定用光ファイバコード長は2 m以上とする。
  特に規定のない限り,測定はJIS C 61300-1に規定する標準的環境条件下で行う。
  特に規定のない限り,測定波長は製品の公称波長とする。使用波長範囲が表1に記載の複数の波長帯域
(波長バンド)の場合は,受渡当事者間で規定する。

――――― [JIS C 5920-4 pdf 6] ―――――

                                                                                              5
                                                                                 C 5920-4 : 2019
  光学特性試験を行う場合,光コネクタの接続の前に,供試品及び基準コネクタの端面を清掃する。
    注記 光コネクタプラグの清掃方法は,IEC TR 62627-01に記載されている。
            表2−シングルモード光ファイバプラグレセプタクル形固定光減衰器の光学特性
    項目       試験方法                   試験条件                          要求性能
 減衰量    損失測定         供試品の向きを変えて2回(双方向に対し公称値が5 dB以下の場合,公称値と
           (JIS C 61300-3-4て)測定する。                       の差は1.0 dB以下とする。
           の置換法)                                            公称値が5 dBを超える場合,公称値
                            光源は,測定時間又は少なくとも1 hの間,
                            光パワーの変動が±0.05 dB以内とする。との差は1.0 dB以下又は公称値の
                            測定の不確かさa) は,0.1 dB以下とする15 %dB以下とする。
 反射減衰  反射減衰量測定   供試品の向きを変えて2回(双方向に対し等級4 b) : 26 dB以上35 dB未満
 量        (JIS C 61300-3-6て)測定する。                       等級3 b) : 35 dB以上45 dB未満
           の試験1 : OCWR                                         等級2 b) : 45 dB以上60 dB未満
                            測定の不確かさa) は,0.5 dB以下とする。
           測定法)                                              等級1 b) : 60 dB以上
                                                                 ただし,斜めPC(physical contact)
                                                                 端面の場合は,次の要求性能を満足
                                                                 する。
                                                                 等級1 b)(非かん合のとき) : 55 dB
                                                                 以上
 偏光依存  光損失の偏光依存 減衰量にかかわらず,測定の不確かさa) 0.3 dB以下
 性損失    性               は,0.05 dB以下とする。              ただし,斜めPC端面の場合は,受
 (PDL)   (JIS C 61300-3-2                                     渡当事者間で規定する。
           の全偏光状態法)
 最大入力                   試験中は,減衰量をモニタする。
           High optical power                                    試験前及び試験後の減衰量がこの表
 光パワー  (IEC 61300-2-14:入力光パワー : 100 mW                 の要求性能を満足する。
           2012)           試験時間 : 30 min                     試験開始時を基準c) とした試験中
                            環境温度 : 30 ℃±2 ℃                の減衰量の変化は,次の条件を満た
                            環境相対湿度 : 85 %±2 %              す。
                                                                 減衰量1 dB以下 : 0.3 dB以下
                                                                 減衰量1 dB超2 dB以下 : 0.5 dB以
                                                                 下
                                                                 減衰量2 dB超10 dB以下 : 1 dB以下
                                                                 減衰量10 dB超 : 2 dB以下
                                                                試験前及び試験後の反射減衰量は,
                                                                この表の要求性能を満足する。
 注a) 測定の不確かさUは,一定の信頼の水準(例えば95 %)において測定結果が分布すると期待される区間(−
      U,+U)を与える量である。
    b) 反射減衰量の等級は,JIS C 5965-1を参照。
    c) 高光パワーを入力すると減衰量が変化することがIEC/TR 62627-03-03:2013で報告されている。試験直前に供
      試品を接続するときの接続損失ばらつきと区別するため,試験前ではなく試験開始時点の減衰量を基準とす
      る。

6 耐環境性及び耐久性

  屋内環境条件で使用するための耐環境性及び耐久性の試験方法,試験条件及び要求性能は,表3による。
特に規定のない限り,光源及びその他の測定器と供試品とを接続する光ファイバには,JIS C 6820に規定
する分類記号SMAの1 310 nmゼロ分散形の1次及び2次被覆のある心線,並びにケブラー補強付きのコ
ードを用いる。接続に使用する基準コネクタは,附属書Aによる。また,基本モードだけが,供試品の入

――――― [JIS C 5920-4 pdf 7] ―――――

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C 5920-4 : 2019
力端子及び出力端子から光パワーメータの入力端子までに伝搬するように,可能な限り測定用光ファイバ
コード長は2 m以上とする。
  特に規定のない限り,測定はJIS C 61300-1に規定する標準的環境条件下で行う。
  特に規定のない限り,測定波長は製品の公称波長とする。使用波長範囲が表1に記載の複数の波長帯域
(波長バンド)の場合は,受渡当事者間で規定する。
  光学特性試験を行う場合,光コネクタの接続の前に,供試品及び基準コネクタの端面を清掃する。
    注記 光コネクタプラグの清掃方法は,IEC TR 62627-01に記載されている。
       表3−シングルモード光ファイバプラグレセプタクル形固定光減衰器の耐環境性及び耐久性
    項目      試験方法                試験条件                           要求性能
 耐振性     正弦波振動試 振動周波数範囲 : 10 Hz55 Hz         試験中の減衰量の変化は0.5 dB以下を満
            験           振動振幅 : 0.75 mm                  足する。
            (JIS C      振動軸 : 直交3軸                    試験前及び試験後の減衰量及び反射減衰
            61300-2-1)  掃引速度 : 1 oct/min                量は,表2の要求性能を満足する。
                         掃引サイクル数 : 15回(10 Hzから55 Hz
                         に上げ10 Hzに戻して1サイクルとす
                         る。)
                         試験中は,供試品に試験光を入射した状
                         態を維持する。試験中の過渡損失はJIS
                         C 61300-3-28に従って測定する。
 締結強度   かん合部締結 引張力 : 40 N±1 N                  試験中の減衰量の変化は0.5 dB以下を満
            強度試験(軸 印加速度 : 2 N/s                    足する。
            方向引張り) 保持時間 : 60 s                     試験前及び試験後の減衰量及び反射減衰
            (JIS C                                         量は,表2の要求性能を満足する。
                         試験中は,供試品に試験光を入射した状
            61300-2-6)  態を維持する。
 かん合耐   繰返しかん合 脱着回数 : 200回(脱・着を合わせて1 試験中の減衰量の変化は0.5 dB以下を満
 久性       試験         回と数える。)                     足する。
            (JIS C                                         試験前及び試験後の減衰量及び反射減衰
                         プラグ側及びレセプタクル側の両者に対
            61300-2-2)  して試験を行う。                   量は,表2の要求性能を満足する。
                         途中,JIS C 61300-2-2の測定条件Bに記
                         載の脱着回数において,清掃を行った後
                         に減衰量の測定を行う。
 耐落下衝   落下衝撃試験 落下回数 : 5回                      試験前及び試験後の減衰量及び反射減衰
 撃性       (JIS C      落下高さ : 1.5 m                    量は,表2の要求性能を満足する。
            61300-2-12の 試験中,光を入射しない。
            方法A−光コ  試験中,供試品のレセプタクル側に測定
            ード付き落下 用光ファイバコードを接続し,方法Aを
            法)         実施する。その場合,プラグ側はかん合
                         せず,ダストカバーを付ける。
 耐寒性     低温試験     JIS C 61300-3-3に規定する方法及び次の
                                                            試験前後の減衰量の変化は,次の要求性能
            (JIS C      条件に従い,減衰量を測定する。     を満足する。
            61300-2-17) 試験温度 : 0 ℃±2 ℃               0.5 dB以下(公称減衰量 : 5 dB以下の場合)
                         暴露時間 : 96 h                     10 %dB以下(公称減衰量 : 5 dB超の場合)
                         測定間隔 : 1 h以下
                                                            試験前及び試験後の減衰量及び反射減衰
                                                            量は,表2の要求性能を満足する。

――――― [JIS C 5920-4 pdf 8] ―――――

                                                                                              7
                                                                                 C 5920-4 : 2019
   表3−シングルモード光ファイバプラグレセプタクル形固定光減衰器の耐環境性及び耐久性(続き)
    項目      試験方法                試験条件                           要求性能
 耐熱性     高温試験     JIS C 61300-3-3に規定する方法及び次の
                                                            試験前後の減衰量の変化は,次の要求性能
            (JIS C      条件に従い,減衰量を測定する。     を満足する。
            61300-2-18) 試験温度 : 60 ℃±2 ℃              0.5 dB以下(公称減衰量 : 5 dB以下の場合)
                         暴露時間 : 96 h                     10 %dB以下(公称減衰量 : 5 dB超の場合)
                         測定間隔 : 1 h以下
                                                            試験前及び試験後の減衰量及び反射減衰
                                                            量は,表2の要求性能を満足する。
 耐湿性(定 高温高湿試験 JIS C 61300-3-3に規定する方法及び次の
                                                            試験前後及び試験中の減衰量の変化は,次
 常状態)   (JIS C                                         の要求性能を満足する。
                         条件に従い,減衰量の変動を測定する。
            61300-2-19) 温度 : 30 ℃±2 ℃                  0.5 dB以下(公称減衰量 : 5 dB以下の場合)
                         相対湿度 : 85 %±2 %                10 %dB以下(公称減衰量 : 5 dB超の場合)
                         暴露時間 : 96 h
                         試験中の測定間隔は10 min以内とする。
                                                            試験前及び試験後の減衰量及び反射減衰
                                                            量は,表2の要求性能を満足する。
                         試験中は,供試品に試験光を入射した状
                         態を維持する。
 温度サイ   温度サイクル JIS C 61300-3-3に規定する方法及び次の
                                                            試験前後及び試験中の減衰量の変化は,次
 クル       試験                                            の要求性能を満足する。
                         条件に従い,減衰量及び反射減衰量を測
            (JIS C      定する。                           0.5 dB以下(公称減衰量 : 5 dB以下の場合)
            61300-2-22) 高温 : 60 ℃±2 ℃                  10 %dB以下(公称減衰量 : 5 dB超の場合)
                         低温 : 0 ℃±2 ℃                   を満足する。
                         高温/低温保持時間 : 1 h
                         温度変化率 : 1 ℃/min               試験前及び試験後の減衰量及び反射減衰
                         サイクル数 : 5                      量は,表2の要求性能を満足する。
                         測定間隔 : 15 min以下
                         試験中は,供試品に試験光を入射した状
                         態を維持する。
 耐衝撃性   衝撃試験     パルス波形 : 正弦半波               試験前及び試験後の減衰量及び反射減衰
            (JIS C      加速度 : 980 m/s2                   量は,表2の要求性能を満足する。
            61300-2-9)  持続時間 : 5 ms
                         衝撃回数 : 3軸において,1軸当たり2
                         方向,1方向当たり2回の計12回
                         試験中は,供試品への光の入射は行わな
                         い。

7 試料

  プラグ及びレセプタクルのかん合部の寸法,並びにプラグ及びレセプタクルの端面寸法は,それぞれJIS
C 5964規格群及びJIS C 5965規格群に適合する。また,その他の寸法は製造業者が発行した該当する図面
に適合する。
  なお,プラグレセプタクル形固定光減衰器に代表される非弾性構造の接続部をもつ部品では注意する必
要がある。SC形プラグレセプタクル形固定光減衰器での試験結果が報告されている。詳細は,IEC/TR
62627-02:2010の箇条6を参照。

8 試験報告書

  製造業者又は販売業者は,試験を実施し合格した証拠として使用者又は購入業者が受入検査に利用する
ことができるように,試験報告書及びそれを裏付けるデータを使用者又は購入業者に提供する。

――――― [JIS C 5920-4 pdf 9] ―――――

8
C 5920-4 : 2019
  試験報告書には,光学特性に対しては試験条件及び性能値を,耐環境性及び耐久性は試験条件,試料数
及び合格判定数を記載する。

9 表示

  シングルモード光ファイバプラグレセプタクル形固定光減衰器には,次の事項を表示する。ただし,個々
の製品に表示することが困難な場合は,包装に表示してもよい。
a) 形名(製造業者の指定による。)
b) 製造業者名又はその略号
c) 製造年月若しくは製造ロット番号又はそれらの略号
d) 公称減衰量又はその略号

10 包装

  包装は,輸送中及び保管中に,振動,衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように
行う。また,短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には,安全管理及び保管環境条件に関する注
意及び要求事項とともに,有効期限を包装に表示する。

11 安全

  光伝送システム又は光伝送装置に用いる場合,出力端子から人体へ影響を及ぼす光の放射があり得る。
そのため,製造業者は,システム設計者及び使用者に対して,安全性に関する十分な情報及び確実な使用
方法を明示しなければならない。

――――― [JIS C 5920-4 pdf 10] ―――――

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