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C 5953-7 : 2017
A2
A2
タ振幅
入力ジッタ振幅
スロープ=−20
スロープ= -20dB/10倍
dB/10
入力ジッ
A1
A1
f0 ftf 周波数
下り伝送速度(Mbit/s)ft(kHz) f0(kHz) A1(Ulp-p) A2(Ulp-p)
2 488.32 1 000 100 0.075 0.75
注記 この図は,ITU-Tの許可を得て次を基に記載している。
ITU-T G.984.2:2003,Gigabit-capable Passive Optical Networks (G-PON):
Physical Media Dependent (PMD) ayer specification, Figure 5
図4−ONUのジッタ耐力マスク
高光入力レベル
振幅の50 %値
光入力信号
低光入力レベル
信号検知アサート応答時間
高レベル信号検知アサート電圧
信号検知出力信号 振幅の50%値
(正論理の場合)
低レベル信号検知アサート電圧
信号検知デアサート応答時間
図5−信号検知出力信号の応答時間
――――― [JIS C 5953-7 pdf 11] ―――――
10
C 5953-7 : 2017
C5
4
表5−OLT光トランシーバの電気的特性及び光学的特性(送信側特性)
95
項目 クラス 記号 要求値 単位 試験方法及び条件
3-
7
最小値 代表値 最大値
: 2
中心波長 B+,C,C+ λ0 1 480 − 1 500 nm JIS C 5954-4
017
20 dBダウンスペクトル幅 B+,C,C+ Δλ20 dB − − 1 nm JIS C 5954-4
サイドモード抑圧比 B+,C,C+ SMSR 30 − − dB JIS C 5954-3,JIS C 61280-1-3
光出力パワー B+ Pave 1.5 − 5 dBm JIS C 5954-3
C 3 − 7
C+ 3 − 7
光出力パワー(オフ状態) B+ Poff − − −37 dBm JIS C 5954-3
C − − −38
C+ − − −38
消光比 B+,C,C+ ER 8.2 − − dB JIS C 5954-4
信号光ペナルティ B+ OPP − − 0.5 dB JIS C 5954-4
C,C+ − − 1
光反射損失耐力 B+,C,C+ ORLT − − 15 dB JIS C 5954-3
ODN反射減衰量 B+,C,C+ − 32 − − dB OLTとODNとの接続点の条件規定
アイパターンマスク B+,C,C+ − 図6 − JIS C 5954-4
x1,x2,x3,x4,x3-x2,y1,y2=
-,-,-,-,0.2,0.25,0.75
――――― [JIS C 5953-7 pdf 12] ―――――
11
C 5953-7 : 2017
表6−OLT光トランシーバの電気的特性及び光学的特性(受信側特性)
項目 クラス 記号 要求値 単位 試験方法及び条件
最小値 代表値 最大値
中心波長 B+,C λ0 1 260 − 1 360 nm −
C+ 1 290 − 1 330 −
最小受信光入力パワー B+ Pimin − − −28 dBm JIS C 5954-4,
NRZ-PRBS 223-1 信号,誤り率=10-10
C − − −29 JIS C 5954-4,
NRZ-PRBS 223-1 信号,誤り率=10-10
C+ − − −32 JIS C 5954-4,
NRZ-PRBS 223-1 信号,誤り率=10-4
最大受信光入力パワー B+,C Pimax −8 − − dBm JIS C 5954-4,
NRZ-PRBS 223-1 信号,誤り率=10-10
C+ −8 − − JIS C 5954-4,
NRZ-PRBS 223-1 信号,誤り率=10-4
信号検知アサートレベル B+ Passert − − −28 dBm JIS C 5954-4
C − − −29
C+ − − −32
光反射損失耐力 B+,C,C+ ORLT − − 10 dB JIS C 5954-3,
最小受信光入力パワー時だけ
同一符号連続耐性 B+,C,C+ − 72 − − bit JIS C 5954-4,
連続符号を含むテスト信号a),
クラスB+及びCは誤り率=10-10,
クラスC+は誤り率=10-4
注a) テスト信号は1連続符号,NRZ-PRBS 223-1,0連続符号及びNRZ-PRBS 223-1を含むシーケンスで構成され,1連続符号及び0連続符号は同数とする。
C5 953-
7 : 2017
4
――――― [JIS C 5953-7 pdf 13] ―――――
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C 5953-7 : 2017
C5
4
表7−電気インタフェース特性
95
項目 記号 要求値 単位 試験方法及び条件
3-
7
最小値 代表値 最大値
: 2
【送信側特性】
01
バースト・イネーブル電圧(高レベル) VbenL 2 − Vcc V JIS C 5954-3,
7
送信器シャットダウン電圧試験方法に準じる。
バースト・イネーブル電圧(低レベル) VbenH 0 − 0.8 V JIS C 5954-3,
送信器シャットダウン電圧試験方法に準じる。
送信器シャットダウン電圧(低レベル) VdisL 0 − 0.8 V JIS C 5954-3
送信器シャットダウン電圧(高レベル) VdisH 2 − Vcc V JIS C 5954-3
レーザ故障アラーム電圧(低レベル) VldaL 0 − 0.4 V JIS C 5954-3,
信号検知出力電圧試験方法に準じる。
レーザ故障アラーム電圧(高レベル) VldaH 2.4 − Vcc V JIS C 5954-3,
信号検知出力電圧試験方法に準じる。
データ入力電圧(低レベル) VIL-Vcc −1.810 − −1.475 V JIS C 5954-3,
DC結合時(ECL系)
データ入力電圧(高レベル) VIH-Vcc −1.165 − −0.880 V JIS C 5954-3,
DC結合時(ECL系)
最小差動データ入力振幅 Vindiffmin − 400 − mV JIS C 5954-3,
AC結合時,p-p
最大差動データ入力振幅 Vindiffmax − 1 600 − mV JIS C 5954-3,
AC結合時,p-p
差動入力インピーダンス Zindiff 80 100 120 Ω TDR(時間領域反射)法,
AC結合時
【受信側特性】
データ出力電圧(低レベル) VOL-Vcc −1.810 − −1.620 V JIS C 5954-3,
DC結合時(ECL系)
データ出力電圧(高レベル) VOH-Vcc −1.025 − −0.880 V JIS C 5954-3,
DC結合時(ECL系)
最小差動データ出力振幅 Voutdiffmin − 400 − mV JIS C 5954-3,
AC結合時,p-p
最大差動データ出力振幅 Voutdiffmax − 1 600 − mV JIS C 5954-3,
AC結合時,p-p
信号検知出力電圧(低レベル) VSDL 0 − 0.4 V JIS C 5954-4
信号検知出力電圧(高レベル) VSDH 2.4 − Vcc V JIS C 5954-4
――――― [JIS C 5953-7 pdf 14] ―――――
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C 5953-7 : 2017
1+y1
1
y2
振幅 0.5
y1
0
-y1
0 x1 x2 0.5 x3 x4 1
1 UI
注記 この図は,ITU-Tの許可を得て次を基に記載している。
ITU-T G.984.2:2003,Gigabit-capable Passive Optical Networks (G-PON):
Physical Media Dependent (PMD) ayer specification, Figure 2
図6−下り送信信号のアイパターンマスク
6 試験
6.1 試験全般
性能仕様を満足することを確認するための特性評価試験,及び,この性能標準で規定する環境負荷にお
いて,性能仕様を満足することを確認するための性能保証試験を行わなければならない。全試験の温度条
件は,特に指定がない限り(25±2)℃とする。
なお,この性能標準で示す試験は性能検証に関するものであり,性能寿命及び信頼性を保証するための
試験ではない。
6.2 特性評価試験
6.2.1 送信器
送信器の特性評価試験は,表2に示す動作環境において,ONU光トランシーバに関しては表3に,OLT
光トランシーバに関しては表5にそれぞれ規定する各項目が要求値を満足していることを確認する。試験
サンプル数は,異なる3グループ以上の生産ロットから,各ロットにつき必ず1個以上をサンプリングし,
全体で11個以上とする。光トランシーバの設計に何らかの変更を施した場合には,再度,この試験を実施
しなければならない。
6.2.2 受信器
受信器の特性評価試験は,表2に示す動作環境において,ONU光トランシーバに関しては表4に,OLT
光トランシーバに関しては表6にそれぞれ規定する各項目が要求値を満足していることを確認する。試験
サンプル数は,異なる3グループ以上の生産ロットから,各ロットにつき必ず1個以上をサンプリングし,
全体で11個以上とする。光トランシーバの設計に何らかの変更を施した場合には,再度,この試験を実施
しなければならない。
6.3 性能保証試験
特性評価試験の完了後,規定する環境負荷において,性能仕様を満足することを確認するために,性能
――――― [JIS C 5953-7 pdf 15] ―――――
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JIS C 5953-7:2017の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5953-7:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5952-1:2008
- 光伝送用能動部品―パッケージ及びインタフェース標準―第1部:総則
- JISC5953-1:2016
- 光伝送用能動部品―性能標準―第1部:総則
- JISC5954-3:2013
- 光伝送用能動部品―試験及び測定方法―第3部:単心直列伝送リンク用光送・受信モジュール
- JISC5954-4:2017
- 光伝送用能動部品―試験及び測定方法―第4部:GPON用光トランシーバ
- JISC61280-1-3:2017
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第1-3部:中心波長及びスペクトル幅測定
- JISC61280-2-1:2018
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第2-1部:受信感度及びオーバロード測定
- JISC61280-2-3:2013
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第2-3部:ジッタ及びワンダ測定
- JISC61300-2-1:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-1部:正弦波振動試験
- JISC61300-2-17:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-17:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-18:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-18部:高温試験
- JISC61300-2-19:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験(定常状態)
- JISC61300-2-19:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験―定常状態
- JISC61300-2-22:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-22部:温度サイクル試験
- JISC61300-2-27:2014
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-27部:ダスト試験(層流)
- JISC61300-2-46:2011
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-46部:湿熱サイクル試験
- JISC61340-3-1:2010
- 静電気―第3-1部:静電気の影響をシミュレーションする方法―人体モデル(HBM)の静電気放電試験波形
- JISC6802:2014
- レーザ製品の安全基準
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項