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表3−単心直列伝送リンク用光送・受信モジュールの特性評価試験テンプレート(続き)
特性 項目 記号 単位 許容 試験方法
ばらつきa) 試験条件,備考
受信電 差動データ出力 tr/tf ps JIS C 5954-3
気特性 上昇時間/下降時間 20 %80 %にて測定
低レベル信号検知アサート電圧 VSDL V JIS C 5954-3
高レベル信号検知アサート電圧 VSDH V JIS C 5954-3
受信部3 dB電気高域遮断周波数 f-3dB Hz JIS C 5954-3
最大ストレスド受信感度b) Pstress dBm JIS C 5954-3
測定用光源の次の特性を
明示する。
− バーティカル アイ
クロージャ ペナル
ティ(VECP)
− ストレスド アイ ジ
ッタ(J)
デターミニスティックジッタb) DJ ps JIS C 61280-2-2
JIS C 61280-2-3
トータルジッタb) TJ ps JIS C 61280-2-2
JIS C 61280-2-3
ジッタコーナー周波数 fjc MHz JIS C 5954-3
クロック再生回路付きの
場合だけ
受信光 最小受信光入力パワー Pimin dBm JIS C 5954-3
学特性 最大受信光入力パワー Pimax dBm JIS C 5954-3
受信部光反射 RRX dB JIS C 5954-3
信号 信号検知アサートレベル Passert dBm JIS C 5954-3
検知 信号検知デアサートレベル Pde-assert dBm
ヒステリシス dB
Passert-Pde-assert
制御入 低レベル入力信号電流 IIL mA JIS C 5954-3
出力電 高レベル入力信号電流 IIH mA
気特性 低レベル入力信号電圧 VIL V
高レベル入力信号電圧 VIH V
低レベル出力信号電流 IOL mA
高レベル出力信号電流 IOH mA
低レベル出力信号電圧 VOL V
高レベル出力信号電圧 VOH V
制御動 送信部シャットダウンアサート時間 Tdisassert ms オシロスコープによるタ
作タイ 送信部シャットダウンデアサート時間 Tdisde-assert
ms イミング測定
ミング 受信検知アサート時間 TLOSassert ms
受信検知デアサート時間 ms
TLOSde-assert
パワーオン初期化時間 TINIT ms
注記1 空欄には数値を記入する。
注記2 試験方法は推奨であり,必要に応じて別の方法を採用してもよい。ただし,実際に使用する測定方法を明確
にする。
注a) 許容ばらつきは,各項目に対応した値を性能標準で規定する。
b) 適用するシステムの性能規格の要求によって,ジッタ値,又は送信器・分散ペナルティ及びストレスド受信感
度の選択をする。
――――― [JIS C 5955-1 pdf 11] ―――――
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C 5955-1 : 2016
5.4.3 性能保証試験
性能保証試験は,単心直列伝送リンク用光送・受信モジュールが取り付けられる機器の設置環境条件に
対応した環境カテゴリに基づき,JIS C 5953-1の附属書Aに規定する試験項目及び試験条件で実施する。
環境カテゴリ別性能保証試験項目を表4に示す。
なお,低温及び高温試験において,試験試料に通電を行う場合は,通電条件を明記する。試験では,試
料からの発熱を伴うため試験条件に注意する。
試験は,試料をグループ化し,あらかじめ計画するシーケンスに従って実施する。試験の試料数及びシ
ーケンス化に関する要求項目は,表5の試料数,試験順序及びグループ化に関する要求事項テンプレート
に基づき,試験一覧表を附属書で規定する。
各性能保証試験項目実施後の合格又は不合格の基準は,表6の単心直列伝送リンク用光送・受信モジュ
ール性能保証試験の評価基準テンプレートを作成し決定する。必要な場合は,試験項目及び評価基準を追
加してもよい。
表4−単心直列伝送リンク用光送・受信モジュールの環境カテゴリ別性能保証試験項目
試験 カテゴリC カテゴリU カテゴリO カテゴリE 試料
屋内環境 屋外環境 厳しい屋外環境 劣悪環境 数a)
低温 −10 ℃±2 ℃ −25 ℃±2 ℃ − −40 ℃±2 ℃ n
JIS C 61300-2-1796時間保持 96時間保持 96時間保持
高温 +60 ℃±2 ℃ +70 ℃±2 ℃ − +85 ℃±2 ℃ n
JIS C 61300-2-1896時間保持 96時間保持 96時間保持
高温高湿 +40 ℃±2 ℃ +40 ℃±2 ℃ +75 ℃±2 ℃ +40 ℃±2 ℃ n
(定常状態) 相対湿度 (93±2) %相対湿度 (93±2) % 相対湿度 (90±5) % 相対湿度 (93±3) %
JIS C 61300-2-1996時間保持 96時間保持 168時間保持 96時間保持
温度サイクル −10 ℃±2 ℃ 試験Nb 試験Nb 試験Nb n
JIS C 61300-2-22 +60 ℃±2 ℃ −25 ℃±2 ℃ −40 ℃±2 ℃ −40 ℃±2 ℃
最高温度及び最低 +70 ℃±2 ℃ +75 ℃±2 ℃ +85 ℃±2 ℃
温度で60分間保持 最高温度及び最低温 最高温度及び最低温 最高温度及び最低温
変化率1 ℃/分 度で60分間保持 度で60分間保持 度で60分間保持
5サイクル 変化率1 ℃/分 変化率1 ℃/分以上 変化率1 ℃/分
12サイクル 10サイクル 12サイクル
最高/最低温度間で
の+23 ℃での保持
時間を許可
湿熱サイクル − +25 ℃±2 ℃ − − n
JIS C 61300-2-46 +55 ℃±2 ℃,
相対湿度>95 %
(方法1)
96時間保持
温湿度サイクル − − −40 ℃±2 ℃ − n
JIS C 61300-2-48, +85 ℃±2 ℃
方法A 最大温度で相対湿度
(GR-326の試験 (85±5) %
方法に対応する 最大温度及び最小温
場合は方法Bを 度で最短1時間保持
追加する必要あ 変化率1 ℃/分以上
り) 42サイクル
96時間保持
――――― [JIS C 5955-1 pdf 12] ―――――
11
C 5955-1 : 2016
表4−単心直列伝送リンク用光送・受信モジュールの環境カテゴリ別性能保証試験項目(続き)
試験 カテゴリC カテゴリU カテゴリO カテゴリE 試料
屋内環境 屋外環境 厳しい屋外環境 劣悪環境 数a)
振動(正弦波) 10 Hz55 Hz 10 Hz55 Hz 10 Hz55 Hz 10 Hz55 Hz n
JIS C 61300-2-1 15掃引 15掃引 2時間/軸, 15掃引
(10 Hz−55 Hz−10(10 Hz−55 Hz−10 1オクターブ/分 (10 Hz−55 Hz−10
Hz) Hz) 3軸 Hz)
1オクターブ/分 1オクターブ/分 振幅1.52 mm 1オクターブ/分
3軸 振幅0.75 mm 3軸
振幅0.75 mm 振幅0.75 mm
光ファイバクラ − − 光ファイバコードに − n
ンプ強度(繰返し 対しては5 N
曲げ) 30サイクル ±90°
JIS C 61300-2-44
光ファイバクラ − − 光ファイバコードに − n
ンプ強度(ねじ 対して0.1 N/sで5 N
り) 10サイクル ±
JIS C 61300-2-5 180°
光ファイバクラ − − 光ファイバコードに − n
ンプ強度(横方向 対して5 N,5秒保持
引張り) 光ファイバ心線に対
IEC 61300-2-42 して2.3 N,5秒間保
持
互いに直行した2方
向
光ファイバクラ − − 光ファイバコードに − n
ンプ強度(軸方向 対して0.5 N/sで10 N
引張り) ±1 N,120秒間保持
JIS C 61300-2-4 光ファイバ心線に対
して0.5 N/sで5 N±
0.5 N,60秒保持
衝撃試験 − − ピーク加速度5 000 − n
JIS C 61300-2-9 m/s2,3軸,2方向
(光受動部品質 軸当たり2衝撃,全
量≦0.125 kg) 12衝撃
1 ms保持,半正弦パ
ルス
落下衝撃試験 − − M<10の場合,h=100 − n
JIS C 61300-2-12 10≦M<25の場合,
(方法C,自由落 h=75
下) ここに,
M : 供試品の質量(kg)
h : 落下高さ(mm)
ダスト(層流) − 粉じんのサイズ − 粉じんのサイズ n
JIS C 61300-2-27 d<150 μm d<150 μm
粉じん状タルク 粉じん状タルク
+35 ℃ +35 ℃
相対湿度 60 % 相対湿度 60 %
10分間保持 10分間保持
――――― [JIS C 5955-1 pdf 13] ―――――
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C 5955-1 : 2016
表4−単心直列伝送リンク用光送・受信モジュールの環境カテゴリ別性能保証試験項目(続き)
試験 カテゴリC カテゴリU カテゴリO カテゴリE 試料
屋内環境 屋外環境 厳しい屋外環境 劣悪環境 数a)
混合温湿度サイ − − − Z/ADプロファイル n
クル −10 ℃±2 ℃
JIS C 61300-2-21 +65 ℃±2 ℃
最高温度で相対湿度
(93±3) %
最高温度及び最低温
度で3時間保持
腐食性大気 − − − 二酸化硫黄 SO2 n
IEC 61300-2-28 25×10−6(体積比)
+25 ℃±2 ℃かつ
相対湿度 75 %
96時間暴露
塩水噴霧 − − − 塩水 5 % NaCl n
JIS C 61300-2-26 pH 6.57.2
96時間暴露
浸水(任意選択) − − − 浸水深さ(該当する n
JIS C 61300-2-45 性能標準で定義)
水温(該当する性能
標準で定義)
浸水時間(該当する
性能標準で定義)
静電気放電 人体帯電モデル n
IEC 60749-26
JIS C 61340-3-1
試料に通電する場合は条件(電源電圧及び電流値)を明記する。
注a) 試料数nは受渡当事者間の協議によって決定する。
表5−試料数,試験順序及びグループ化に関する要求事項テンプレート
試験番号 試験項目a) 試料数b) 試験履歴c) グループ化d)
1
2
3
4
5
6
7
8
9
注a) 空欄には試験項目を記載する。
b) 試料数は,受渡当事者間の協議によって決定する。
c) 試験履歴は,試験の順番を明記する。
d) 試験を行う試料のグループ番号を記入する。
――――― [JIS C 5955-1 pdf 14] ―――――
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C 5955-1 : 2016
表6−単心直列伝送リンク用光送・受信モジュール性能保証試験の評価基準テンプレート
モジュール 項目 評価基準a) 測定方法及び測定条件b)
単心直列伝送リンク用 動作電流(mA) 性能標準参照
光送・受信モジュール 送信部光出力パワー(dBm) 性能標準参照
試験温度
送信部波長(nm) 性能標準参照
試験温度
送信部上昇時間/下降時間(s) 振幅 20 %80 %
受信部最小受信光入力パワー及び 受信入力パワー,PRBS信号,
最大受信光入力パワー(dBm) ビット誤り率
注記 空欄には数値を記入する。
注a) 評価基準には製品供給者が保証する性能仕様値の範囲又は試験前後の値の変化(%)を記入する。
b) 性能標準に基づく測定方法及び測定条件を明記する。特に重要な条件を明記している。
5.5 安全に対する仕様
5.5.1 安全性全般
性能標準で規定する最低限度の安全性は,JIS C 6950-1とする。
5.5.2 レーザ安全性
性能標準で規定する最低限のレーザ安全性は,次による。
− 光送信部レーザ出力パワーは,いかなる動作条件下でも,JIS C 6802に規定する安全基準クラスを満
たさなければならない。これは,故障時におけるファイバへの結合光及び空間出力光にも適用する。
− レーザ製品の製造業者は,レーザ安全性規格及び法規制に沿って,そのレーザ製品,安全性能,ラベ
ル表示,使用法,維持及び保守についての情報を提供しなければならない。その文章は,レーザ製品
を用いるシステムがこれらの安全性保証事項に適合するように,満たさなければならない要求事項と
使用上の制約事項とを明確に規定する。
5.5.3 電磁放射
性能標準は,システムが満足する電磁放射の団体規格又は国際規格を規定する。
JIS C 5955-1:2016の国際規格 ICS 分類一覧
- 33 : 電気通信工学.オーディオ及びビデオ工学 > 33.180 : 光ファイバ通信 > 33.180.20 : 光ファイバ接続装備
JIS C 5955-1:2016の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5952-1:2008
- 光伝送用能動部品―パッケージ及びインタフェース標準―第1部:総則
- JISC5953-1:2016
- 光伝送用能動部品―性能標準―第1部:総則
- JISC5954-1:2008
- 光伝送用能動部品―試験及び測定方法―第1部:総則
- JISC5954-3:2013
- 光伝送用能動部品―試験及び測定方法―第3部:単心直列伝送リンク用光送・受信モジュール
- JISC61280-1-3:2017
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第1-3部:中心波長及びスペクトル幅測定
- JISC61280-2-1:2018
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第2-1部:受信感度及びオーバロード測定
- JISC61280-2-2:2017
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第2-2部:光アイパターン,光波形及び消光比測定
- JISC61280-2-3:2013
- 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第2-3部:ジッタ及びワンダ測定
- JISC61300-2-1:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-1部:正弦波振動試験
- JISC61300-2-12:2011
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-12部:落下衝撃試験
- JISC61300-2-17:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-17:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-17部:低温試験
- JISC61300-2-18:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-18部:高温試験
- JISC61300-2-19:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験(定常状態)
- JISC61300-2-19:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-19部:高温高湿試験―定常状態
- JISC61300-2-21:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-21部:混合温湿度サイクル試験
- JISC61300-2-22:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-22部:温度サイクル試験
- JISC61300-2-26:2013
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-26部:塩水噴霧試験
- JISC61300-2-27:2014
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-27部:ダスト試験(層流)
- JISC61300-2-4:2015
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験(軸方向引張り)
- JISC61300-2-4:2020
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-4部:光ファイバクランプ強度試験―軸方向引張り
- JISC61300-2-44:2015
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-44部:光ファイバクランプ強度試験―繰返し曲げ
- JISC61300-2-45:2009
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-45部:浸水試験
- JISC61300-2-46:2011
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-46部:湿熱サイクル試験
- JISC61300-2-48:2010
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-48部:温湿度サイクル試験
- JISC61300-2-5:2013
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-5部:光ファイバクランプ強度試験(ねじり)
- JISC61300-2-9:2012
- 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品―基本試験及び測定手順―第2-9部:衝撃試験
- JISC61340-3-1:2010
- 静電気―第3-1部:静電気の影響をシミュレーションする方法―人体モデル(HBM)の静電気放電試験波形
- JISC6802:2014
- レーザ製品の安全基準
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項