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JIS C 6710:2007 規格概要
この規格 C6710は、水晶発振器の品目別通則であって,水晶発振器に対する試験方法及び一般的要求事項について規定。IEC電子部品品質評価システム(IECQ)に基づく能力認証及び/又は品質認証にも適用。
JISC6710 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C6710
- 規格名称
- 水晶発振器品目別通則
- 規格名称英語訳
- Generic specification of crystal controlled oscillators
- 制定年月日
- 1990年6月1日
- 最新改正日
- 2017年10月20日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- IEC 60679-1:1997(IDT), IEC 60679-1:1997/AMENDMENT 1:2002(IDT), IEC 60679-1:1997/AMENDMENT 2:2003(IDT)
- 国際規格分類
ICS
- 31.140
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
- 改訂:履歴
- 1990-06-01 制定日, 1995-11-01 改正日, 1999-02-20 改正日, 2007-08-20 改正日, 2012-10-22 確認日, 2017-10-20 確認
- ページ
- JIS C 6710:2007 PDF [66]
C 6710 : 2007 (IEC 60679-1 : 1997, Amd.1 : 2002, Amd.2 : 2003)
まえがき
この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,日本水晶デバイス
工業会(QIAJ)/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申
出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS C 6710:1999は改正され,この規格に置き換えられる。
改正に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60679-1:1997,Quartz crystal
controlled oscillators of assessed quality−Part 1: Generic specification, Amendment 1 (2002) 及びAmendment 2
(2003) を基礎として用いた。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。
JIS C 6710には,次に示す附属書がある。
附属書A(規定)ロジック駆動用負荷回路
附属書B(規定)ラッチアップ試験
附属書C(規定)静電破壊試験の種類
附属書D(参考)参考文献
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS C 6710 pdf 1] ―――――
C 6710 : 2007 (IEC 60679-1 : 1997, Amd.1 : 2002, Amd.2 : 2003)
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1. 一般的事項・・・・[1]
- 1.1 適用範囲・・・・[1]
- 1.2 引用規格・・・・[1]
- 1.3 優先順位・・・・[4]
- 2. 用語及び一般的要求事項・・・・[4]
- 2.1 一般的事項・・・・[4]
- 2.2 定義・・・・[4]
- 2.3 定格及び特性の推奨値・・・・[12]
- 2.4 表示・・・・[13]
- 3. 品質評価手続・・・・[13]
- 3.1 製造の初期工程・・・・[13]
- 3.2 構造類似部品・・・・[14]
- 3.3 外注の使用・・・・[14]
- 3.4 組込み部品・・・・[14]
- 3.5 製造業者認証・・・・[14]
- 3.6 認証手続・・・・[14]
- 3.7 能力認証の手続・・・・[14]
- 3.8 品質認証の手続・・・・[15]
- 3.9 試験手続・・・・[15]
- 3.10 スクリーニング・・・・[15]
- 3.11 手直し及び修理・・・・[15]
- 3.12 試験記録の証明・・・・[15]
- 3.13 出荷の有効性・・・・[15]
- 3.14 出荷・・・・[15]
- 3.15 規定をしていない検査項目・・・・[15]
- 4. 試験及び測定手順・・・・[15]
- 4.1 手順・・・・[15]
- 4.2 試験及び測定条件・・・・[15]
- 4.3 目視検査・・・・[16]
- 4.4 寸法及び測定手順・・・・[17]
- 4.5 電気的試験手順・・・・[17]
- 4.6 機械的試験及び耐候試験手順・・・・[52]
- 4.7 耐久試験の手順・・・・[56]
- 附属書A(規定)ロジック駆動用負荷回路・・・・[58]
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS C 6710 pdf 2] ―――――
C 6710 : 2007 (IEC 60679-1 : 1997, Amd.1 : 2002, Amd.2 : 2003)
pdf 目次
ページ
- 附属書B(規定)ラッチアップ試験・・・・[60]
- 附属書C(規定)静電破壊試験の種類・・・・[61]
- 附属書D(参考)参考文献・・・・[62]
(pdf 一覧ページ番号 3)
――――― [JIS C 6710 pdf 3] ―――――
C 6710 : 2007 (IEC 60679-1 : 1997, Amd.1 : 2002, Amd.2 : 2003)
白 紙
(pdf 一覧ページ番号 4)
――――― [JIS C 6710 pdf 4] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
C 6710 : 2007
(IEC 60679-1 : 1997, Amd.1 : 2002, Amd.2 : 2003)
水晶発振器品目別通則
Generic specification of crystal controlled oscillators
序文
この規格は,1997年に第2版として発行されたIEC 60679-1,Quartz crystal controlled oscillators of
assessed quality−Part 1: Generic specification並びにAmendment 1 (2002,Latch-up test/Electrostatic discharge
sensitivity classification) 及びAmendment 2 (2003,Phase jitter) を翻訳し,技術的内容を変更することなく作
成した日本工業規格(日本産業規格)である。ただし,追補(Amendment)については,編集し,一体とした。
1. 一般的事項
1.1 適用範囲
この規格は,水晶発振器の品目別通則であって,水晶発振器に対する試験方法及び一般
的要求事項について規定する。IEC電子部品品質評価システム(IECQ)に基づく能力認証及び/又は品質
認証にも適用する。
備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
(修正している),NEQ(同等でない)とする。
IEC 60679-1:1997,Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality−Part 1: Generic specification
(Amendment 1, 2) (IDT)
1.2 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成
する。これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規
格の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年又は発行年を付記して
いない引用規格は,その最新版(追補・Amendmentを含む。)を適用する。
JIS C 0025 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
備考 IEC 60068-2-14:1984,Environmental testing−Part 2: Tests−Test N: Change of temperature及び
Amendment 1:1986が,この規格と一致している。
JIS C 0617-2 電気用図記号 第2部 : 図記号要素,限定図記号及びその他の一般用途図記号
備考 IEC 60617-2:1996 Graphical symbols for diagrams−Part 2: Symbol elements,qualifying symbols
and other symbols having general applicationが,この規格と一致している。
JIS C 0617-3 電気用図記号 第3部 : 導体及び接続部品
備考 IEC 60617-3:1996 Graphical symbols for diagrams−Part 3: Conductors and connecting divicesが,
この規格と一致している。
JIS C 0617-4 電気用図記号 第4部 : 基礎受動部品
備考 IEC 60617-4:1996 Graphical symbols for diagrams−Part 4: Passive componentsが,この規格と
一致している。
JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則
――――― [JIS C 6710 pdf 5] ―――――
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JIS C 6710:2007の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60679-1:1997(IDT)
- IEC 60679-1:1997/AMENDMENT 1:2002(IDT)
- IEC 60679-1:1997/AMENDMENT 2:2003(IDT)
JIS C 6710:2007の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.140 : 圧電素子及び誘電素子
JIS C 6710:2007の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0025:1988
- 環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法
- JISC0617-2:2011
- 電気用図記号―第2部:図記号要素,限定図記号及びその他の一般用途図記号
- JISC0617-3:2011
- 電気用図記号―第3部:導体及び接続部品
- JISC0617-4:2011
- 電気用図記号―第4部:基礎受動部品
- JISC60068-1:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第1部:通則及び指針
- JISC60068-2-1:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-1部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)
- JISC60068-2-13:1989
- 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
- JISC60068-2-17:2001
- 環境試験方法―電気・電子―封止(気密性)試験方法
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-20:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-20部:試験―試験T―端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-21:2009
- 環境試験方法―電気・電子―第2-21部:試験―試験U:端子強度試験方法
- JISC60068-2-27:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-27部:衝撃試験方法(試験記号:Ea)
- JISC60068-2-29:1995
- 環境試験方法―電気・電子―バンプ試験方法
- JISC60068-2-3:1987
- 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC60068-2-32:1995
- 環境試験方法―電気・電子―自然落下試験方法
- JISC60068-2-45:1995
- 環境試験方法―電気・電子―耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
- JISC60068-2-52:2020
- 環境試験方法―電気・電子―第2-52部:塩水噴霧サイクル試験方法(塩化ナトリウム水溶液)(試験記号:Kb)
- JISC60068-2-58:2016
- 環境試験方法―電気・電子―第2-58部:表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
- JISC60068-2-6:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-6部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)
- JISC60068-2-7:1993
- 環境試験方法―電気・電子―加速度(定常)試験方法
- JISZ8202-3:2000
- 量及び単位―第3部:力学
- JISZ8203:1964
- 単位記号
- JISZ8203:2000
- 国際単位系(SI)及びその使い方