JIS C 6710:2007 水晶発振器品目別通則 | ページ 2

2
C 6710 : 2007 (IEC 60679-1 : 1997, Amd.1 : 2002, Amd.2 : 2003)
      備考 IEC 60068-1:1988 Environmental testing−Part 1: General and guidance及びAmendment 1:1992
             が,この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法
      備考 IEC 60068-2-1:1990 Environmental testing−Part 2: Tests−Tests A: Cold,Amendment 1:1993及
             びAmendment 2:1994が,この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)−試験方法
      備考 IEC 60068-2-2:1974 Environmental testing−Part 2: Tests−Tests B: Dry heat,Amendment 1:1993
             及びAmendment 2:1994が,この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-3 環境試験方法(電気・電子)高温高湿(定常)試験方法
      備考 IEC 60068-2-3:1969 Environmental testing−Part 2: Tests−Tests Ca:Damp heat,steady stateが,
             この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法
      備考 IEC 60068-2-6:1995 Environmental testing−Part 2: Tests−Test Fc: Vibration (sinusoidal) が,こ
             の規格と一致している。
    JIS C 60068-2-7 環境試験方法−電気・電子−加速度(定常)試験方法
      備考 IEC 60068-2-7:1983 Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ga: Acceleration,steady state及
             びAmendment 1:1986が,この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-13 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
      備考 IEC 60068-2-13:1983 Environmental testing−Part 2: Tests−Test M: Low air pressureが,この規
             格と一致している。
    JIS C 60068-2-17 環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法
      備考 IEC 60068-2-17:1994,Basic environmental testing procedures−Part 2: Tests−Test Q: Sealingが,
             この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-20 環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法
      備考 IEC 60068-2-20:1979 Environmental testing−Part 2: Tests−Test T: Soldering及びAmendment
             2:1987が,この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−端子強度試験方法
      備考 IEC 60068-2-21:1983 Environmental testing−Part 2: Tests−Test U: Robustness of terminations
             and integral mounting devicesが,この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法
      備考 IEC 60068-2-27:1987 Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ea and guidance: Shockが,こ
             の規格と一致している。
    JIS C 60068-2-29 環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法
      備考 IEC 60068-2-29:1987 Environmental testing−Part 2: Tests−Test Eb and guidance: Bumpが,こ
             の規格と一致している。
    JIS C 60068-2-30 環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法
      備考 IEC 60068-2-30:1980 Environmental testing−Part 2: Tests−Test Db and guidance: Damp heat,
             cyclic (12+12-hour cycle) 及びAmendment 1:1985が,この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-32 環境試験方法−電気・電子−自然落下試験方法
      備考 IEC 60068-2-32:1975 Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ed: Free fall及びAmendment

――――― [JIS C 6710 pdf 6] ―――――

                                                                                              3
                                          C 6710 : 2007 (IEC 60679-1 : 1997, Amd.1 : 2002, Amd.2 : 2003)
             2:1990が,この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-45 環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
      備考 IEC 60068-2-45:1980 Environmental testing−Part 2: Tests−Test XA and guidance: Immersion in
             cleaning solvents及びAmendment 1:1993が,この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-52 環境試験方法−電気・電子−塩水噴霧(サイクル)試験方法(塩化ナトリウム水溶
        液)
      備考 IEC 60068-2-52:1996,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Kb: Salt mist,cyclic (sodium
             chloride solution) が,この規格と一致している。
    JIS C 60068-2-58 環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はん
        だ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法
      備考 IEC 60068-2-58:2004 Environmental testing−Part 2: Tests−Test Td: Solderability,resistance to
             dissolution of metallization and to soldering heat of surface mounting devices (SMD) が,この規格と
             一致している。
    JIS Z 8202-3 量及び単位−第3部 : 力学
      備考 ISO 31-3:1992 Quantities and units−Part 3: Mechanicsが,この規格と一致している。
    JIS Z 8203 国際単位系(SI)及びその使い方
      備考 ISO 1000:1992 SI units and recommendations for the use of their multiples and of certain other
             unitsが,この規格と一致している。
    IEC 60027 Letter symbols to be used in electrical technology
    IEC 60050-561:1991 International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 561: Piezoelectric devices
        for frequency control and selection
    IEC 60068-2-10:1988 Environmental testing−Part 2: Tests−Test J and guidance: Mould growth
    IEC 60068-2-36:1973 Environmental testing−Part 2: Tests−Test Fdb: Random vibration wide band
        Reproducibility Medium及びAmendment 1 (1983)
    IEC 60469-1:1987 Pulse techniques and apparatus−Part 1: Pulse terms and definitions
    IEC 60679-4:1997 Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality−Part 4: Sectional specification−
        Capability approval
    IEC 60679-5:1998 Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality−Part 5: Sectional specification−
        Qualification approval
    IEC 60748-2:1997 Semiconductor devices−Integrated circuits−Part 2: Digital integrated circuits
    IEC 60801-2:1991 Electromagnetic compatibility for industrial-process measurement and control equipment
        −Part 2: Electrostatic discharge requirements
    IEC/PAS 62179:2000 Electrostatic discharge (ESD)   ensitivity testing human body model (HBM)
    IEC/PAS 62180:2000 Electrostatic discharge (ESD)   ensitivity testing machine model (MM)
    IEC QC 001001:1986 Basic rules of the IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ),
        Amendment 2 (1994) 及びAmendment 3 (1995)
    IEC QC 001002:1986 Rules of the procedure of the IEC Quality Assessment System for Electronic
        Components (IECQ) 及びAmendment 2 (1994)
    IEC QC 001005:1996 Register of firms,Products and Services approved under the IECQ System,including
        ISO 9000

――――― [JIS C 6710 pdf 7] ―――――

4
C 6710 : 2007 (IEC 60679-1 : 1997, Amd.1 : 2002, Amd.2 : 2003)
    ITU-T G.810 Definitions and terminology for synchronization networks
    ITU-T G.811 Timing characteristics of primary reference clocks
    ITU-T G.812 Timing requirements of slave clocks suitable for use as node clocks in synchronization networks
    ITU-T G.813 Timing characteristics of SDH equipment slave clocks (SEC)
    ITU-T G.825 The control of jitter and wander within digital networks which are based on the synchronous
        digital hierarchy (SDH)
    ITU-T O.172 Jitter and wander measuring equipment for digital systems which are based on the synchronous
        digital hierarchy (SDH)
    ANSI T1.101 Synchronization Interface Standard
    ANSI T1.105.03 Synchronous Optical Network (SONET)−Jitter and Wander at Network Equipment Interfaces
    ETSI EN 300462 Transmission and MultiplexingTM; Generic requirements for synchronization networks

1.3 優先順位

 仕様書は,何らかの理由によって矛盾が生じた場合,次に示す優先順位によって確定す
る。
− 個別規格
− 品種別通則(IEC 60679-4)
− 品目別通則(この規格)
− その他引用される国際規格(例えば,IECなどの)

2. 用語及び一般的要求事項

2.1 一般的事項

 単位,図記号,文字記号及び用語は,できる限り次の規格から引用する。
  JIS C 0617-2
  JIS C 0617-3
  JIS C 0617-4
  JIS Z 8203
  IEC 60027
  IEC 60050-561
  IEC 60469-1

2.2 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,次による。
2.2.1  パッケージ水晶発振器(SPXO)[simple packaged crystal oscillator(SPXO)] 温度制御又は温度補
償をしていない水晶発振器。発振器の周波数温度特性は,水晶振動子に依存する[IEV 561-04-01]。
2.2.2  オーバトーン水晶発振器(overtone quartz crystal controlled oscillator) 指定のオーバトーン次数で
機能する水晶振動子を用いて動作するように設計された発振器[IEV 561-04-02]。
2.2.3  水晶振動子のカット(crystal cut) 水晶の結晶軸に関係した水晶片の方位。
    備考 この定義は,水晶発振器に使用する水晶振動子のカットを規定する(すなわち,周波数温度特
          性の概略の形態を規定する。)ことが望ましい場合に適用する。水晶振動子のカットの選択は,
          水晶発振器の周波数温度特性の概略を決めるが,個別規格には規定できない。
2.2.4  電圧制御水晶発振器(VCXO)[voltage controlled crystal oscillator(VCXO)] 外部からの制御電圧
によって,出力周波数を可変又は変調できる水晶発振器[IEV 561-04-03]。
2.2.5  温度補償水晶発振器(TCXO)[temperature compensated crystal oscillator(TCXO)] 温度補償回路
を付加して,周囲温度の変化による周波数の変動を少なくなるようにした水晶発振器[IEV 561-04-04]。

――――― [JIS C 6710 pdf 8] ―――――

                                                                                              5
                                          C 6710 : 2007 (IEC 60679-1 : 1997, Amd.1 : 2002, Amd.2 : 2003)
2.2.6  恒温槽付水晶発振器(OCXO)[oven controlled crystal oscillator(OCXO)] 少なくとも,水晶振動
子が温度制御されている水晶発振器[IEV 561-04-05]。
    備考 恒温槽付水晶発振器の動作は,動作温度全域にわたり発振周波数が一定に保たれるため,発振
          周波数は,水晶振動子の温度特性に依存しない。
2.2.7  公称周波数(nominal frequency) 水晶発振器の出力周波数の公称値[IEV 561-04-06]。
2.2.8  周波数許容偏差(frequency tolerance) 規定状態で水晶発振器が動作しているときの発振周波数と
規定公称周波数との最大許容偏差[IEV 561-04-07]。
    備考 周波数偏差は,規定の電気的,機械的及び環境的要因別に定められることが多い。この取扱い
          を適用する場合には,規定変動値の範囲と同様にその他の動作パラメータの値も規定する。そ
          のときの周波数偏差は,次による。
        − 規定温度範囲全域にわたる動作によって生じる規定基準温度の周波数からの周波数偏差。そ
            の他の条件は一定に保つ。
        − 規定電源電圧変化を与えることによって生じる規定基準電圧の周波数からの周波数偏差。そ
            の他の条件は一定に保つ。
        − エージングによって生じる初期周波数からの周波数偏差。その他の条件は一定に保つ。
        − 規定範囲の負荷インピーダンス変化を与えることによって生じる規定基準負荷条件の周波数
            からの周波数偏差。その他の条件は一定に保つ。
            必要に応じて,動作パラメータの数種類又はすべてを組み合わせることによって,規定使用
          保証期間中の総合周波数許容偏差として規定してもよい。
2.2.9  オフセット周波数(frequency offset) 水晶発振器の規定公称周波数に加える正又は負の周波数差。
オフセット周波数は,規定の動作条件範囲全体での周波数偏差を最小にするために,ある特定の動作条件
で発振周波数を調整する場合に用いる[IEV 561-04-08]。
    例 全温度範囲で,公称周波数からの周波数偏差を最小にするため,オフセット周波数を基準温度で
        の調整に対して規定できる(図1参照)。

――――― [JIS C 6710 pdf 9] ―――――

6
C 6710 : 2007 (IEC 60679-1 : 1997, Amd.1 : 2002, Amd.2 : 2003)
                                                    25 ℃でのオフセット(ΔF1)込みF(T)
                                         ΔF1
             周
             波                                                        公称周波数
             数
                                              オフセットゼロのF(T)
                                                調整温度
                 −20 ℃                 25 ℃                    70 ℃
                                        動作温度
          オ
          フ
          セ
          ッ
          ト ΔF1
          周
          波
          数
           −ΔF1
                 −20 ℃                 25 ℃                    70 ℃
                                   調整にかかわる動作温度
                                図 1 オフセット周波数の使用例
2.2.10 調整周波数(adjustment frequency) 規定の全動作条件範囲で,周波数許容偏差の規定に合わせる
ために,ある特定の動作条件で調整する水晶発振器の周波数。すなわち,調整周波数=公称周波数+オフ
セット周波数[IEV 561-04-09]。
2.2.11 周波数調整範囲(frequency adjustment range) 可変素子を使用し周波数を変えることができる水
晶発振器の周波数可変範囲[IEV 561-04-10]。目的は,次による。
a) 周波数を特定の値に合わせる。
b) エージング又はその他の変動要因によって変動した発振周波数を,規定値に調整する。
2.2.12 保存温度範囲(storage temperature range) 水晶発振器がその性能の劣化及び損傷を起こすことな
く,保存できる,水晶発振器の容器上の最低温度及び最高温度。
2.2.13 動作温度範囲(operating temperature range) 水晶発振器が規定公差内の周波数及び出力信号特性
を保持して機能する温度範囲[IEV 561-04-11]。
2.2.14 動作可能温度範囲(operable temperature range) 水晶発振器が,必ずしも規定の周波数許容偏差,
出力レベル,波形などを満足する必要はないが,出力信号を供給し続けることができる温度範囲[IEV
561-04-12]。
2.2.15 基準温度(reference temperature) 水晶発振器の特定の性能パラメータを測定する温度。通常25 ℃

――――― [JIS C 6710 pdf 10] ―――――

次のページ PDF 11