JIS C 9730-2-9:2010 家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置―第２－９部：温度検出制御装置の個別要求事項 | ページ 3

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  1) 露出した素子を,その両端末でバイメタルの2個以上のスポット溶接で取り付けた状態。
  2) 取付け及び使用中に,物理的にバイメタルが損傷するおそれがない構造の制御装置の中にその素子
      を配置するか,又は据え付けた状態。
c) 充てんされた液体の逸失によってその制御装置の接点が閉路したままになるか,又は漏えいが,宣言
    された最高動作温度を超えて温度の上昇側への移動を引き起こす場合,感温筒及び毛細管中に密閉さ
    れた液体の圧力の変化によって操作される温度検出制御装置の感温筒及び毛細管は,次を満足しなけ
    ればならない。
      図11.4.13.102に示す衝撃工具のテーパのついた端末が,それに対して垂直な位置にある感温筒又は
    毛細管を打撃するように,高さ0.60 mから1回落としたとき,満たした量からいくらかの漏れを起こ
    すほど感温筒又は毛細管に損傷を生じてはならない。この試験において,感温筒又は毛細管は,コン
    クリート面上に置く。
      注記 毛細管が分離した外被又はスリーブを装備する場合,上記の試験中,正規の場所に置く。
                 材料 : 鋼又は冷延鋼 (CRS),すべての先端を面取りする。
                 Lは,合計質量が0.454 kgになるようにサイズを決定する。
                                     図11.4.13.102−衝撃工具
11.4.101 タイプ2.N作動
  タイプ2.N作動は,検出素子における,又はその検出素子とスイッチヘッドとの間の他の部品における
漏れが発生したとき,宣言された断路又は開路が宣言された動作値とドリフトとの和を超える前に発生す
る設計でなければならない。
  適否は,次の試験によって判定する。
  タイプ2.N制御装置の動作値は,JIS C 9730-1の箇条15の条件で測定する。制御装置が設定手段をもつ
場合,それは最高値に設定する。
  この測定の後,穴を検出素子中に人工的に作る。再度,動作値の測定を行う。
  正のドリフトは,宣言値の上側では許容しない。
    注記1 試験は,物理的動作モードの理論的計算によって,置き換えることができる。
    注記2 箇条18への適合を達成するための感温筒及び毛細管の保護のために分離できる外被又はス
            リーブを使用してもよい。
11.4.102 タイプ2.P作動
  タイプ2.P作動は,温度サイクル試験の後,それが,その意図したやり方で動作するように設計しなけ
ればならない。

――――― [JIS C 9730-2-9 pdf 11] ―――――

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C 9730-2-9 : 2010
  適否は,17.101の試験によって判定する。
11.4.103 バイメタル式SOD
  バイメタル式SODは,表7.2の項目103において宣言された復帰値を超えて復帰しないように設計しな
ければならない。
  適否は,17.15の試験によって判定する。
11.4.104 タイプ1.X又は2.X
  タイプ1.X又は2.X作動は,回転作動が1回の押込み作動又は1回の引張り作動の完了後に限り行える
ように設計しなければならない。制御装置の操作部をオフ又は休止位置に戻すためには,回転作動だけを
要求しなければならない。
  適否は,18.101の試験によって判定する。
11.4.105 タイプ1.Z又は2.Z
  タイプ1.Z又は2.Z作動は,回転作動が1回の押込み作動又は1回の引張り作動の完了後に限り行える
ように設計しなければならない。
  適否は,18.101の試験によって判定する。
11.4.106 電圧維持形温度過昇防止装置
  電圧維持形温度過昇防止装置は,表7.2の項目111で宣言された復帰値を超えて復帰しないように設計
しなければならない。
11.4.107 タイプ1.AM又は2.AM
  タイプ1.AM又は2.AM作動は,宣言された農業環境へのばく露が明らかになった後,意図した様態で
動作するように設計しなければならない。
  適否は,附属書DDの試験によって判定する。
11.6 制御装置の取付け
  JIS C 9730-1の11.6によるほか,次による。
11.6.3 独立取付形制御装置の取付け
11.6.3.101  表7.2の項目117で宣言された農業用自動温度調節器の場合,取付方法は,外郭による保護の
完全性を損なってはならない。
11.101 時定数
  時定数が宣言される場合,これは附属書BBに記載する適用できる決定法のうちの一つの方法によって
判定する。決定値は,宣言された値を超えてはならない。表BB.1参照。

12 耐湿性及び防じん性

  耐湿性及び防じん性は,JIS C 9730-1の箇条12によるほか,次による。
12.101 冷却制御装置
  冷凍機又は類似の機器の蒸発器(過温度並びに冷凍及び解凍条件を作り出す。)中にスイッチヘッド及び
検出素子を取り付けた制御装置は,絶縁の一体性を維持しなければならない。
12.101.1  適否は,12.101.212.101.6の試験によって判定する。
12.101.2  注型封止用樹脂を使用する制御装置は,軟化試験を行う。2個の試験サンプルを,ポッティン
グ面を最も不利な状態にして,最大宣言動作温度より15 K高い温度の恒温槽中で16時間加熱する。ポッ
ティング材料は,過度に軟化するか又はひずみ,割れ若しくは劣化を生じてはならない。
12.101.3  軟化試験に使用した2個のサンプル及び1個の未試験サンプル(合計3個)を,90±5 ℃に維

――――― [JIS C 9730-2-9 pdf 12] ―――――

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持した水中に2時間配置する。その後,3個のサンプルを直ちに5 ℃未満の水に移し,−35 ℃で小形のフ
レキシブルな容器中で2時間凍結する。10サイクルの加熱冷凍サイクルが要求される。
12.101.4  1作業日中に連続する2回の加熱冷凍サイクルを実施する。その後,連続する5日で10サイク
ルを完了させる。そのサンプルは,4日間夜通しで室温で水中に放置する。
12.101.5  最後の冷凍試験後,サンプルは,水中でほぼ室温まで解凍する。絶縁抵抗は,通電部分と接地
された部分との間で,また,ポッティング材料及び/又は絶縁材料の表面との間で測定する。直流電圧計
法を使用する。絶縁抵抗は,50 000    坎  上でなければならない。
12.101.6  サンプルがまだ湿っている間に,(2×VR)+1 000 Vに等しい電圧を通電部分と接地された部分と
の間に,また,ポッティング材料及び/又は絶縁材料の表面との間に,定格周波数で1分間加える。フラ
ッシオーバ又は絶縁破壊が試験中に発生してはならない。

13 耐電圧及び絶縁抵抗

  耐電圧及び絶縁抵抗は,JIS C 9730-1の箇条13による。
  (対応国際規格には,13.2に追加する事項があるが,カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,
この規格では採用しない。)

14 温度上昇

  温度上昇は,JIS C 9730-1の箇条14によるほか,次による。
14.4.3.1 JIS C 9730-1の14.4.3.1によるほか,次による。
  第2段落は検討中である。
  電圧維持形温度過昇防止装置に対しては,14.4.3.1の温度試験は,検出素子の温度を接点が開くまで上昇
した後で完了する。このとき,温度検出素子の周囲温度は,時間範囲t1内にTmax1まで一定の割合で減らす。
14.5.1の試験は,そのときに完了する。
  表14.1の注13) は検討中である。
14.101   次は,6.7.1016.7.103によって分類される制御装置に適用する。
14.101.1  表14.1の注12) を満足する手段として,絶縁用部品の温度が表14.1で許容する温度を超える場
合,17.16.101の試験は,14.102及び14.102.1の状態調節後,実施してもよい。
14.102   制御装置の未試験サンプルは,温度1.02T1+20 Kと,その1.05倍の温度との間(T1は箇条14の
試験中,絶縁部分上の最高実測温度である。)に維持した恒温槽中で1 000時間の状態調節を行う。制御装
置は,この試験中通電してはならない。
14.102.1  例えば,端子において又はその近傍で温度の上昇した場所が局所化される場合,通常状態でそ
の制御装置をTmaxとTmax+5 %との間にして,1 000時間の状態調節を行う。ただし,接点は閉路とし開閉
させない。必要であれば,接点は最も不利な温度条件を提供するために無理に閉じてもよい。配電線にま
たがるバイメタルヒータは,定格電圧の1.1倍の電圧で通電する。直列バイメタルヒータには,定格電流
の1.1倍で通電しなければならない。

15 製造偏差及びドリフト

  製造偏差及びドリフトは,JIS C 9730-1の箇条15によるほか,次による。ただし,15.5.4及び15.5.5は,
この規格では適用しない。
15.1 JIS C 9730-1の15.1によるほか,次による。

――――― [JIS C 9730-2-9 pdf 13] ―――――

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C 9730-2-9 : 2010
  製造偏差及びドリフトの値は,附属書AAに従っていなければならない。ただし,製造業者が別の宣言
をしている場合は除く。
15.4 JIS C 9730-1の15.4によるほか,次による。
  宣言された製造偏差及びドリフトは,宣言された動作値に対する許容差として別々に表現してもよい。
15.5.3 JIS C 9730-1の15.5.3によるほか,次による。
15.5.3.101  使用者による設定を目的とする制御装置は,最高動作温度で設定しなければならない。ただ
し,製造業者によって別の宣言がされる場合は除く。
15.5.3.102  バイメタル若しくは類似の検出メカニズムを使用する制御装置又は制御する環境に露出され
る意図の制御装置の部分は,動作値を決定するために空気循環恒温槽中に配置する。
  ただし,防水形のものは液槽を用いてもよい。
15.5.3.103  バイメタル及び類似のタイプの制御装置に対しては,温度は,空気循環恒温槽の中で,試験
中の制御装置に電気的には接続せず,隣接して取り付けた同一の制御装置の検出部又は制御装置の近傍に
0.25 mmの熱電対を取り付けることによって決定しなければならない。
15.5.3.104  液体膨張タイプの制御装置に対しては,最高0.25 mmの熱電対を,適切な接着剤を使用して,
検出部に取り付ける。
15.5.3.105  液体膨張タイプ又は収縮タイプ制御装置に対しては,完成した制御装置又は感温筒を使用中
に用いる場合,感温筒又は製造業者によって最小検出寸法であると宣言された制御装置の検出部は,空気
循環恒温槽又は液体槽中に配置する。
15.5.3.106  恒温槽又は槽の温度は,平衡状態に達成するまで,制御装置の予想動作温度より下10 Kまで
急速に上昇させるか,予想動作温度より上10 Kまで急速に降下させてもよい。その後,温度変化速度は最
高0.5 K/min,又は宣言された変化速度のうち,いずれか最も小さい速度まで低減させる。
15.5.3.107  制御装置の動作は,0.05 A以下の検出電流をもつ適切な装置によって検出する。
  回路電圧は,監視機能が信頼できる指示を示す何らかの都合のよい値であってもよい。
15.5.3.108  制御装置の動作値を記録する。
15.5.3.109  バイメタル式SODに対しては,接点が動作した後,十分な断路が行われたかどうかは,各バ
イメタル式SODを事前に湿度処理をしないで,表13.2に規定する電圧を加えることによって,決定する。
15.5.6 JIS C 9730-1の15.5.6によるほか,次による。
  代替として,製造偏差は,附属書AAに従わなければならない。

16 環境によるストレス

  環境によるストレスは,JIS C 9730-1の箇条16によるほか,次による。
  この箇条は,SODには適用しない。

17 耐久性

  耐久性は,JIS C 9730-1の箇条17によるほか,次による。ただし,17.15は,この規格による。
17.3.1 JIS C 9730-1の17.3.1によるほか,次による。
− 制御装置全体が検出素子として宣言され,表7.2の項目48で宣言された最低動作温度が0 ℃未満であ
    る制御装置は,17.8の試験を3個のサンプルの別のセットについて,宣言された最低動作温度に対し
            5
           + Kで行う。サイクル数は,表7.2の項目27で宣言された数の5 %とする。
    許容差  0
17.8.4 JIS C 9730-1の17.8.4によるほか,次による。

――――― [JIS C 9730-2-9 pdf 14] ―――――

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17.8.4.101  独立取付形制御装置及びインラインコード形制御装置に対する自動及び手動サイクル数は,
CC.1に記載するとおりでなければならない。ただし,これより高い数が製造業者によって宣言される場合
は除く。
17.15 SOD
17.15.1 バイメタル式SOD
  バイメタル式SODは,次の試験を行う。
17.15.1.1 箇条15の適切な試験後,同じ6個のサンプルは,表7.2の項目103で宣言されたように,−35 ℃
又は0 ℃に7時間維持する。装置は,この期間中に復帰してはならない。この期間は,15.5.3.109の試験
によって決定する。
17.15.1.2 6個の未試験バイメタル式SODを,次のいずれかのうち,低い方の温度で720時間放置し,状
態調節を行う。
− 宣言された動作値の90 %の±1 K
− 宣言された動作値よりも7±1 K下の値。
17.15.1.2.1 この放置中に,バイメタル式SODは動作してはならない。バイメタル式SODの動作は,
15.5.3.107で述べるように検出しなければならない。
17.15.1.2.2 箇条15の適切な試験を,17.15.1.2の状態調節を受けた6個のサンプルについて繰り返さなけ
ればならない。測定した温度は,宣言された偏差限度値内になければならない。
17.15.1.3 −35 ℃の宣言された復帰温度をもつバイメタル式SODに対しては,6個の未試験サンプルを,
表17.2.1の電気的条件のうち,該当する条件で,1サイクルの過電圧試験を行う。
  15.5.3.109の試験を繰り返す。
17.15.1.3.1 0 ℃の宣言された復帰温度をもつバイメタル式SODに対しては,1個のサンプルを,表17.2.1
の電気的条件のうち,該当する条件で,50サイクルの過電圧試験を行う。
  その後,サンプルは,定格電流及び定格電圧で表7.2の項目104で宣言されたサイクル数の試験を行う。
    注記 17.15.1.3.1の試験の目的は,0 ℃よりも低い温度にさらすことによって生じる,意図しない動
          作の下で,その装置を評価することである。サイクルを実現するために,周囲温度を宣言され
          た復帰値まで下げ,その後,周囲温度を通常の動作値まで上げることのできる試験槽の中で試
          験を実施することが望ましい。
  17.15.1.3.1の試験後,箇条15の該当する試験を繰り返し,測定温度は,宣言された偏差限度値内になけ
ればならない。
17.15.2  非バイメタル式SOD
  非バイメタル式SODの温度検出素子は,JIS C 6691の箇条11(温度試験)の試験を行わなければなら
ない。このとき,適切な試験装置をサンプルの検出素子を熱するのに使用しなければならない。また,意
図した使用範囲を超えた温度に制御装置の他の部分をさらすことを避けるように注意しなければならない。
17.16   特殊目的の制御装置の試験
  JIS C 9730-1の17.16によるほか,次による。
17.16.101  自動温度調節器
− 17.117.5を適用する。
− 17.6は,タイプ1.M又は2.Mに分類される作動に適用する。“x”の値は,5±1 K又は元の作動量の±
    5 %のうち,いずれか大きい方とする。
− 17.7を適用する。

――――― [JIS C 9730-2-9 pdf 15] ―――――

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