この規格ページの目次
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C 9730-2-9 : 2010
− 17.8を適用する。
− 17.9を適用する。ただし,スローメイク及びスローブレイクの自動作動に限る。
− 17.9.3.1は適用しない。
− 17.1017.13は,手動作動をもつ自動温度調節器だけ(使用者によって設定される操作手段を含む。)
に適用する。
− 17.14を適用する。
− 17.15は適用しない。
17.16.102
(対応国際規格の規定は,カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,この規格では採用しない。)
17.16.103 温度制限装置
− 17.117.5を適用する。
− 17.6は,タイプ1.M又は2.Mに分類される作動に適用する。“x”の値は,5±1 K又は元の作動量の±
5 %のうち,いずれか大きい方とする。
− 17.7及び17.8を適用するが,必要があり,操作によって得られる復帰動作が要求されるときを除く。
この操作は,加速試験に対して17.4に規定するとおりとする。これは,機構によって許される範囲
でできる限り早く,又は表7.2の項目37で製造業者が宣言した速度とする。
− 17.9を適用するが,スローメイク及びスローブレイクの自動作動をもつ温度制限装置に限る。17.7及
び17.8に対して,上に規定するのと同一の手動復帰条件を用いる。
− 17.9.3.1は適用しない。
− 17.1017.13は,17.717.9の自動試験中に試験される通常の復帰手動作動には適用しない。温度制限
装置が自動試験中に試験されないその他の手動作動をもつ場合,これらの項目を適用する。
− 17.14を適用する。
− 17.15は適用しない。
17.16.104 温度過昇防止装置
− 17.117.5を適用する。
− 17.6は,タイプ1.M又は2.Mに分類される作動に適用する。“x”の値は,5±1 K又は元の作動量の±
5 %のうち,いずれか大きい方とする。
− 17.7及び17.8を適用するが,必要があり,操作によって得られる復帰動作が要求されるときを除く。
この操作は,加速試験に対して17.4に規定するとおりとする。これは,機構によって許される範囲
でできる限り早く,又は表7.2の項目37で製造業者が宣言した速度とする。
− 17.9を適用するが,スローメイク及びスローブレイクの自動作動をもつ温度過昇防止装置に限る。17.7
及び17.8に対して,上に規定する条件と同一の手動復帰条件を用いる。
− 17.9.3.1は適用しない。
− 17.1017.13は,17.717.9の自動試験中に試験される通常復帰手動作動には適用しない。温度過昇防
止装置が自動試験中に試験されないその他の手動作動をもつ場合,これらの項目を適用する。
− 17.14を適用する。
− 17.15は適用しない。
17.16.104.1 電圧維持形温度過昇防止装置に対しては,17.16.108の試験を適用する。
17.16.105
(対応国際規格の規定は,カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,この規格では採用しない。)
――――― [JIS C 9730-2-9 pdf 16] ―――――
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17.16.106 材料の評価
次の試験は,14.101.1に示すように実施する。
制御装置は,50回の動作で17.7の試験を,また,1 000回の動作で17.8の試験を行う。
17.7及び17.8の試験は,20±5 ℃の周囲温度で行う。これらの試験の後,17.5を満足しなければならな
い。
17.16.107 検出素子の温度過昇試験
表7.2の項目105で宣言された制御装置に対しては,未試験サンプルの検出素子部分は250回の温度上
昇サイクルにさらす。
試験周囲温度は,表7.2の項目37で宣言された最高温度変化速度で,40 ℃とTeとの間で変化させる。
温度の上下限値は,30分間維持する。
試験後,制御装置は,17.14を満足しなければならない。
17.16.108 電圧維持形温度過昇防止装置
6個の試験していない電圧維持形温度過昇防止装置を,−20 ℃(又は,宣言されていればこれより低い
温度)の温度で7時間,状態調節を行う。
上記の状態調整中及び終了時に,6個のすべてのサンプルが動作してはならない。
電圧維持形温度過昇防止装置の動作の検出は,15.5.3.107に規定するように行う。
これらの要求事項は,動作状態で電圧が印加されている電圧維持形温度過昇防止装置に適用する。
17.101 タイプ2.Pサイクル試験
タイプ2.P作動の温度検出制御装置は,次のように試験しなければならない。
17.101.1 17.16の該当する試験及び17.14の評価に続いて,制御装置は17.14において記録したスイッチ
オフ温度の5090 %に維持した温度で,50 000サイクルの温度サイクル試験を行う。この試験中,スイッ
チヘッドは20±5 ℃に維持する。
製造業者は,17.101.2又は17.101.3のいずれの方法を使用するかを宣言しなければならない。
試験は,表7.2の項目112で製造業者が宣言した内容に従って行わなければならない。
17.101.2 2槽法
二つの槽は,合成油,水又は空気(2槽)で満たす。第1槽は17.14において記録したスイッチオフ温度
(℃) の90 %に等しい温度に維持する。第2槽は17.14において記録したスイッチオフ温度の50 %に等し
い温度に維持する。
注記1 附属書BBで使用する媒体と異なる媒体をこの試験のために選択する場合,該当する変換係
数を次の段落に示す時定数に適用しなければならない。
温度検出素子(2.8.1及び表7.2の項目47参照)を,時定数の5倍以上の間,第1槽に浸せきする。その
後,温度検出素子を,第2槽中に同一の時間浸せきする。
注記2 槽間の移動は,できるだけ早く実施するが,温度検出素子に対する機械的ストレスを回避す
るように留意することが望ましい。
17.101.3 温度変化法
この試験方法は,連続した水冷オイル(合成油)充てん槽を基礎としている。
アルミニウム製の円筒(図17.101.3参照)を,この槽中に浸せきする。円筒は,試験中の温度検出素子
及び17.14において記録したスイッチオフ温度 (℃) の5090 %間の温度サイクルを制御するための温度
検出素子を入れておく。
アルミニウム製の円筒は,温度検出素子を加熱するよう抵抗線を巻く。試験中の温度検出素子の時定数
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と試験温度範囲を制御している温度検出素子の時定数との差から発生する困難を除去するために,第2の
同一試験サンプルの温度検出素子を用いる。
スイッチオフ温度 (℃) の50 %及び90 %として算出される第2のサンプルの二つの膜の位置を位置セン
サによって測定し,抵抗線を通る電流(熱)を開閉するために用いる。
表7.2の項目37で製造業者によって別の宣言が行われない限り,温度上昇及び降下の変化速度は,35±
10 K/minでなければならない。
1 温度検出素子
2 スイッチオフ温度の50 %90 %の温度サイクルを制御するための温度検出素子
図17.101.3−温度変化法に用いるアルミニウム円筒
17.101.4 この試験後,バイメタル式SOD以外の制御装置に対しては追加の20サイクルを,その温度を
20±5 ℃からスイッチオフ温度の1.1倍まで増加させることによって実施する。
この試験中,手動復帰メカニズムは復帰させてはならない。17.101.1のその他の条件は変わらない。
注記 この試験の目的は,動作メカニズム(例えば,膜,ベローズなど)にストレスを加えることで
ある。
17.101.5 スイッチヘッドを完全に脱脂した後,動作温度(又は複数の温度)を箇条15の条件下で再判定
し,測定値(又は複数の測定値)は,偏差及びドリフトの宣言された限度値内でなければならない。
18 機械的強度
機械的強度は,JIS C 9730-1の箇条18によるほか,次による。
18.101 プッシュ アンド ターン又はプル アンド ターン操作
18.101.1 タイプ1.X,2.X,1.Z又は2.Zとして分類される作動をもつ制御装置は,18.101.2及び18.101.3
の試験を行う。
1個の新しいサンプルを,試験に対して用いる。これらの試験の後,制御装置が18.1.5の要求事項を満
足しなければならない。
18.101.2 タイプ1.X,2.X,1.Z又は2.Zとして分類される作動をもつ制御装置は,次の試験を行う。
− 操作部を押す又は引くために必要な軸方向の力は,10 N以上でなければならない。
− 操作部に加える140 Nの軸方向の押込み力又は引張り力は,18.1.5への適合に影響を与えてはならな
い。
− 50 mm以下の握り径又は握り長さをもつノブと共に使用する意図の制御装置は,押込み又は引張り操
作の前に軸の回転を防止する手段が損傷を受けることなく,又は制御装置に影響を及ぼすことなく,4
N・mのトルクに耐えなければならない。
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− 上記の代わりに,軸の回転を防止する手段が2 N・m以上のトルクを加えたとき無効となる場合,その
効果は,次のいずれかでなければならない。
・ その装置は損傷を受けないが,接点を閉路するために無効となる場合,2 N・m未満のトルクにおけ
る引き続く操作は,接点を動作させるために,プッシュ アンド ターン又はプル アンド ターン操
作が必要である。
・ 接点の動作が起きないか,又は起こさせることができない。
− 押込み又は引張りを加えた後,必要があれば,初期の接触状態に制御装置を復帰させるのに必要なト
ルクは,0.5 N・mを超えてはならない。
− 6 N・mのトルクを調節装置に加える。軸の回転を防止する手段に対する破壊又は損傷によって,箇条
8,箇条13及び箇条20の要求事項に適合することができなくなってはならない。
− 50 mmより大きい握り径又は長さをもつノブと共に使用する意図の制御装置に対しては,トルクの値
はそれに合わせて大きくする。
18.101.3 タイプ1.X,2.X,1.Z又は2.Zとして分類される作動をもつ制御装置は,宣言された手動サイク
ル数だけ操作する。
この試験の後,制御装置は18.101.2の要求事項を満足しなければならない。回転を防止する手段が損傷
しないが,接点を動作させるために無効となる場合には,宣言された手動サイクルの最初の1/6は,操作
部の最初の押込み又は引張りを行わないで実施する。
18.102 液体金属が入っている部分
18.102.1 ナトリウム (Na),カリウム (K) 又は両方を含む制御装置の部品,及び水銀 (Hg) を含む6.7.101
6.7.103に分類される制御装置の部品は,漏えい又は破裂なしに動作中に起きる最高内部圧力の5倍に等
しい水圧に1分間耐えなければならない。
18.102.1.1 試験方法及び必要サンプル数は,製造業者と試験所との間で協定しなければならない。
注記 製造業者が,この試験の目的のために特別サンプル(例えば,水銀なし)を提供することが必
要な場合がある。適格な液体を液体金属の代わりに使用してもよい。ただし,試験用液体及び
試験法が,すべての液体収納部分に意図されたストレスを加えるときに限る。
18.102.1.2 18.102.1の試験後,水圧は,破裂が起こるまで増大させる。破裂は,スイッチヘッド又は制御
装置の外郭の内部にあるベローズ,ダイヤフラムその他の部分で発生しなければならない。
18.102.2 制御装置は,検出素子の最高温度の1.2倍まで加熱したとき,漏えい又は破裂が発生してはなら
ない。
この試験には,別のサンプルを使用する。
18.102.3 さらに,別のサンプルのベローズ又はダイヤフラムに対し,鋭いとがった端末の金属棒を用いて,
入念にせん(穿)孔したとき,次の状態でなければならない。
− ナトリウム,カリウム又は水銀は,スイッチヘッド又は制御装置の外郭中に留まらなければならない。
注記 破裂の位置を承認できるかどうかは,機器中で評価する。
19 ねじ山付き部品及び接続部
ねじ山付き部品及び接続部は,JIS C 9730-1の箇条19による。
20 沿面距離,空間距離及び固体絶縁物を通しての距離
沿面距離,空間距離及び固体絶縁物を通しての距離は,JIS C 9730-1の箇条20による。
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21 耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性
耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性は,JIS C 9730-1の箇条21による。
22 耐腐食性
耐腐食性は,JIS C 9730-1の箇条22による。
23 電磁両立性 (EMC) 要求事項-エミッション
電磁両立性 (EMC) 要求事項−エミッションは,JIS C 9730-1の箇条23によるほか,次による。
23.101 自動温度調節器は,20ミリ秒間を超えて,無線障害を発生しない構造でなければならない。
適否は,23.101.1及び23.101.2の試験によって判定する。
23.101.1 試験条件
新品の3個のサンプルでこの試験を行う。
次に示すことを除き,電気的条件及び温度条件は,17.2及び17.3の規定による。
− 試験は,最低の宣言電圧及び最小の宣言電流で実施する(表7.2の項目108)。
− 温度変化速度は, 愀 び 戀 言されていない場合,次を用いる。
ガス中の検出素子に対しては,1 K/15 min,
その他の媒体中の検出素子に対しては,1 K/min。
− 誘導負荷に使用すると宣言された制御装置は,力率0.2とする。純抵抗負荷に使用すると宣言された
制御装置は,力率1.0とする。
23.101.2 試験方法
制御装置は,接点を開路した状態で5動作サイクル,及び接点を閉路した状態で5動作サイクル試験を
行う。
無線障害の期間は,接点間の電圧降下を測定するように接続したオシロスコープによって測定する。
注記 この試験の目的に対しては,接点動作の結果,電源波形に重畳して観測された接点間のあらゆ
る電圧変動を無線障害とする。
24 部品
部品は,JIS C 9730-1の箇条24による。
25 通常動作
通常動作は,JIS C 9730-1の箇条25による。
26 電磁両立性 (EMC) 要求事項-イミュニティ
電磁両立性 (EMC) 要求事項−イミュニティは,JIS C 9730-1の箇条26による。
27 異常動作
異常動作は,JIS C 9730-1の箇条27による。
28 電子的断路の使用に関する指針
電子的断路の使用に関する指針は,JIS C 9730-1の箇条28による。
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JIS C 9730-2-9:2010の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60730-2-9:2008(MOD)
JIS C 9730-2-9:2010の国際規格 ICS 分類一覧
- 97 : 家庭用及び商業用設備.娯楽.スポーツ > 97.120 : 家庭用自動制御
- 29 : 電気工学 > 29.130 : 開閉装置及び制御装置 > 29.130.20 : 低電圧開閉用及び制御装置
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.200 : 熱力学及び温度測定 > 17.200.20 : 温度測定機器
JIS C 9730-2-9:2010の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-75:2019
- 環境試験方法―電気・電子―第2-75部:ハンマ試験(試験記号:Eh)
- JISC6575:1975
- 電子機器用筒形ヒューズ
- JISC8305:2019
- 鋼製電線管