JIS C 9730-2-9:2010 家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置―第２－９部：温度検出制御装置の個別要求事項 | ページ 5

                                                                                             17
                                                                                C 9730-2-9 : 2010
                                           附属書
  JIS C 9730-1の附属書A附属書Uによるほか,次による。ただし,附属書C及び附属書Dは,この規
格では適用しない。
                                          附属書H
                                          (規定)
                                電子制御装置の要求事項
  JIS C 9730-1の附属書Hによるほか,次による。
H.6 分類
  分類は,JIS C 9730-1のH.6によるほか,次による。
H.6.18 ソフトウェアクラスによる分類
  JIS C 9730-1のH.6.18によるほか,次による。
H.6.18.2
  JIS C 9730-1のH.6.18.2によるほか,次の注記を追加する。
    注記 一般的に,ソフトウェアを使う温度過昇防止装置は,ソフトウェアクラスB又はCで機能分類
          する。
H.6.18.3
  JIS C 9730-1のH.6.18.3によるほか,次の注記を追加する。
    注記 一般的に,密閉形温水システムに使う温度過昇防止装置は,ソフトウェアクラスCで機能分類
          する。
H.7 情報
  情報は,JIS C 9730-1のH.7によるほか,表7.2に次を追加する。
                    表7.2−製造業者によって宣言された情報,適用箇条及び方法
                              情報                                       適用箇条         方法
  58a  追加 : 表H.26.2.101のc による。
                                           追加の項目
  109                                                            H26.2.103,H26.2.104,
       動作後の温度過昇防止装置,タイプ2自動温度調節器及びタイプ2温                        X
       度制限装置104) の出力状態                                 H26.2.105
  117                                                            H.23.1.2
       一体形及び組込形電子制御装置に対する製造者によって要求されたと                      X
       きの試験条件
 JIS C 9730-1の表7.2に次の注を追加する。
 注104) 適用できれば,例えば伝導性又は非伝導性。
H.11 構造要求事項
  構造要求事項は,JIS C 9730-1のH.11によるほか,次による。

――――― [JIS C 9730-2-9 pdf 21] ―――――

18
C 9730-2-9 : 2010
H.11.12 ソフトウェアを使用する制御装置
  JIS C 9730-1のH.11.2によるほか,次による。
H.11.12.8 JIS C 9730-1のH.11.12.8によるほか,注記を次に置き換える。
    注記 表7.2の項目71で宣言された値は,装置を適用する機器規格によってもよい。
H.11.12.8.1 JIS C 9730-1のH.11.12.8.1によるほか,次の注記を追加する。
    注記 表7.2の項目72で宣言された値は,装置を適用する機器規格によってもよい。
H.23 電磁両立性 (EMC) 要求事項−エミッション
  電磁両立性 (EMC) 要求事項−エミッションは,JIS C 9730-1のH.23によるほか,次による。
H.23.1.2   無線周波数放射
  JIS C 9730-1のH.23.1.2によるほか,次による。
  無線周波数放射の試験の結果は,自動制御装置の機器への組込み及び機器の中で使用されるエミッショ
ンを制御するための手段の使用の影響を受けるため,一体形及び組込形制御装置はこの細分箇条の試験の
対象ではない。ただし,製造業者から要請された場合は,宣言された条件によって試験を実施してもよい。
H.26 電磁両立性 (EMC) 要求事項−イミュニティ
  電磁両立性 (EMC) 要求事項−イミュニティは,JIS C 9730-1のH.26によるほか,次による。
H.26.2 JIS C 9730-1のH.26.2によるほか,次による。
  各試験後,次の一つ以上の基準を,表H.26.2.101で許容するように適用する。
H.26.2.101 制御装置は,その電流条件を維持しなければならない。その後,適用できれば,箇条15にお
いて検査した制限値内で,宣言されたとおりに動作し続けなければならない。
H.26.2.102 制御装置は,表7.2の項目109で宣言された条件を前提とし,それに従ってH.26.2.101に示す
とおりに動作しなければならない。
H.26.2.103 制御装置は,表7.2の項目109で宣言された条件を前提としなければならない。例えば,制御
装置が自動又は手動で復帰することができないという前提である。出力波形は,正弦波か又は通常動作に
対する表7.2の項目53で宣言されたとおりでなければならない。
H.26.2.104 制御装置は,表7.2の項目109で宣言された状態を維持しなければならない。非自己復帰形制
御装置は,手動に限り復帰できるものでなければならない。遮断が生じた温度を取り除いた後,H.26.2.101
の場合のように動作する,又はH.26.2.103の宣言された状態を維持しなければならない。
H.26.2.105 制御装置は,初期の状態に復帰してもよいが,その後,H.26.2.101のように動作しなければな
らない。
    注記 制御装置が,表7.2の項目109で宣言された状態にある場合,それは復帰してもよいが,それ
          を動作させた温度がまだ存在しているならば,宣言された状態を再びとらなければならない。
H.26.2.106 出力及び機能は,表7.2の項目58a又は58bで宣言されたとおりでなければならず,制御装置
は17.5の要求事項を満足しなければならない。

――――― [JIS C 9730-2-9 pdf 22] ―――――

                                                                                             19
                                                                                C 9730-2-9 : 2010
                                     表H.26.2.101−適否基準
     適用できるH.26の試験                               許容適否基準
 温度過昇防止装置,タイプ2自 H.26.2.101 H.26.2.102 H.26.2.103 H.26.2.104 H.26.2.105 H.26.2.106 c
 動温度調節器及びタイプ2の温
 度制限装置
 H.26.4H.26.14                   b          b          b          a          a          x
 その他の温度検出制御装置    H.26.2.101 H.26.2.102 H.26.2.103 H.26.2.104 H.26.2.105 H.26.2.106 c
 H.26.8,H.26.9                  x                                           x          x
 a :  電磁妨害が動作後に印加されるとき,許容する。
 b :  電磁妨害が動作前に印加されるとき,許容する。
 c :  この適否基準は,出力が許容できるかどうかを機器で判定しなければならないので,一体形又は組込形制御装
    置についてだけ許容する。
 x :  温度過昇防止装置以外に対して許容する。
H.26.5 電源回路網中の電圧ディップ及び短時間停電
  JIS C 9730-1のH.26.5によるほか,次による。
H.26.5.4 電圧変動試験
  JIS C 9730-1のH.26.5.4による。ただし,H.26.5.4.3は,この規格による。
H.26.5.4.3 制御装置は,規定する電圧試験サイクルのそれぞれで,各試験サイクルの間に10秒間の間隔
をとって,3回ずつ試験する。表7.2の項目109で宣言された制御装置については,制御装置を宣言された
状態において試験サイクルを3回実施し,その状態にないときに3回実施する。
H.26.8 サージイミュニティ試験
  JIS C 9730-1のH.26.8によるほか,次による。
H.26.8.3 試験手順
  JIS C 9730-1のH.26.8.3によるほか,次による。
H.26.8.3.101 表7.2の項目109で宣言された制御装置については,制御装置を宣言された状態において試
験を3回実施し,その状態にないときに2回実施する。
H.26.9 電気的ファストトランジェント/バースト試験
  JIS C 9730-1のH.26.9によるほか,次による。
H.26.9.3.101 試験手続
  制御装置は,5回の試験を受ける。表7.2の項目109で宣言された制御装置については,制御装置を宣言
された状態において試験を3回実施し,その状態にないときに2回実施する。
H.26.10 リング波試験
  (対応国際規格の規定は,カナダ及びアメリカ合衆国で適用するものであり,この規格では採用しない。)
H.26.12 無線周波電磁界イミュニティ
  JIS C 9730-1のH.26.12によるほか,次による。
H.26.12.2 伝導妨害に対するイミュニティ
  JIS C 9630-1のH.26.12.2によるほか,次による。
H.26.12.2.2 試験手順
  JIS C 9730-1のH.26.12.2.2によるほか,次による。
  表7.2の項目109で宣言された制御装置については,掃引は,制御装置を宣言された状態及びその状態
にないときに実施する。

――――― [JIS C 9730-2-9 pdf 23] ―――――

20
C 9730-2-9 : 2010
H.26.12.3 放射電磁界イミュニティの評価
  JIS C 9730-1のH.26.12.3によるほか,次による。
H.26.12.3.101 表7.2の項目109で宣言された制御装置については,掃引は,制御装置を宣言された状態
及びその状態にないときに実施する。
H.26.13 電源周波数変動の影響試験
  JIS C 9730-1のH.26.13によるほか,次による。
H.26.13.3 試験手順
  JIS C 9730-1のH.26.13.3によるほか,次による。
  表7.2の項目109で宣言された制御装置については,試験は,制御装置を宣言された状態及びその状態
にないときに実施する。
H.26.14 電力周波数磁界イミュニティ試験
  JIS C 9730-1のH.26.14によるほか,次による。
H.26.14.3 試験手順
  JIS C 9730-1のH.26.14.3によるほか,次による。
  表7.2の項目109で宣言された制御装置については,試験は,制御装置を宣言された状態及びその状態
にないときに実施する。
H.26.15 適否の評価
  JIS C 9730-1のH.26.15によるほか,次による。
H.26.15.2 JIS C 9730-1のH.26.15.2によるほか,次による。
  適否基準は,表H.26.2.101による。
H.26.15.4 JIS C 9730-1のH.26.15.4によるほか,次による。
  適否基準は,表H.26.2.101による。
H.27 異常動作
  異常動作は,JIS C 9730-1のH.27によるほか,次による。
H.27.1.2  JIS C 9730-1のH.27.1.2による。ただし,第1行は,次による。
  制御装置は,次の条件下で動作しなければならない。さらに,表7.2の項目109で宣言された制御装置
に対しては,試験は,その制御装置が宣言された状態及びその状態にないときに実施する。

――――― [JIS C 9730-2-9 pdf 24] ―――――

                                                                                             21
                                                                                C 9730-2-9 : 2010
                                           附属書J
                                          (規定)
                        サーミスタ使用の制御装置の要求事項
  JIS C 9730-1の附属書Jによるほか,次による。
J.4   試験に関する一般的注意
  試験に関する一般的注意は,JIS C 9730-1のJ.4によるほか,次による。
J.4.3.5  目的に関するもの
  JIS C 9730-1のJ.4.3.5によるほか,次による。
J.4.3.5.101 表7.2の項目64において,耐久サイクル数を宣言するという目的に対しては,サーミスタに
ついては,制御装置中で実施される機能について評価する。
    注記 例えば,タイプ2作動をもつ制御装置の検出素子として用いるサーミスタ(ここでは制御装置
          の1回の動作サイクルがサーミスタの各動作サイクルごとに発生するか,又はその逆)に対し
          ては表7.2の項目27におけるのと同一のサイクル数が表7.2の項目64において宣言される。
J.7   情報
  情報は,JIS C 9730-1のJ.7によるほか,次による。
  表7.2の項目64の“適用箇条”の欄にJ.4.3.5.101を追加する。

――――― [JIS C 9730-2-9 pdf 25] ―――――

次のページ PDF 26