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K 0155 : 2018
異なる同位体について一定ではなく,実験条件によって変化する可能性がある。
4.6.3 データのフィッティング
同位体イオンの各対iについて,β(i)は理論比に対するLMの最小自乗フィッティングによって計算する。
T
図5のa)に示すように,式(6)のLM及び式(3)の LをcMに対してプロットする。フィッティングはデータ
M
が理論とよく一致するcMの範囲にわたって実施されるので,非常に低いcMのデータは,低い信号対ノイ
ズ比のために除外することが多く,cMが1に近づくデータは,理論から逸脱し始める可能性があるため,
しばしば除外する。β(i)を計算するために使用されるcMの範囲は,装置条件(複数を検討している場合)
ごとに別々に決定するが,この範囲はフラグメントiに関係なく同じである。一貫性のために,β(i)の同じ
値を,図5のb)に示す不感時間補正を行った線形性LPの計算に使用する。
注記1 β(i)の一定値を用いる場合,バックグラウンド強度の寄与は各ピークiについて異なるが,同
じピークiについては,スペクトルjにかかわらず同じであると仮定する。
注記2 機関間試験[1]では,β(i)は平均して1.06であり,全ての参加者については0.9と1.2との間で
あった。
4.6.4 強度補正のある場合,及び強度補正のない場合での線形性領域の評価
4.6.4.1 装置に強度補正機能のない場合の式(6)によるcMに対するLMのプロット,及び式(3)によるcMに
T
対する Lのプロットに,線形性の公差を表す水平境界線を引く。この公差内で受け入れられるcMの範囲
M
に注意する。
注記 図5のa)に,95 %の公差を設定したプロット例を示す。許容範囲は,cM=0.098までである。
4.6.4.2 装置に強度補正機能がある場合は,cMに対するLPの値をプロットし,直線性公差を表す水平線
を引く。この公差内で受け入れられるcMの範囲に注意する。
注記 図5のb)に,95 %の直線性及び許容範囲cM=0.999 8を示す線を挿入したプロット例を示す。
しかし,補正されていない状態では,cMの最大値は,この線形性では0.098までである。
――――― [JIS K 0155 pdf 16] ―――――
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1
0.8
Y
0.6 CF
CF3
0.4 C3F3
C2F5
0.2 C3F5
LMT
0
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1
X
X パルス当たりの計測カウント cM
Y 線形性 LM
a) 測定した強度を用いて計算した強度の線形性
1
0.8
0.6
Y
CF
0.4 CF3
C3F3
0.2 C2F5
C3F5
0
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1
X
X パルス当たりの計測カウント cM
Y 線形性 LP
b) 不感時間補正を実施した強度を用いて計算した強度の線形性
T
注記1 単一イオン計数統計を用いた理論直線性 Lは,実線でプロットされている。
M
注記2 破線は,補正された強度の95 %直線性の限界を示す。
図5−12CxFy+ピークのパルス当たりの計測カウントcMに対する線形性のプロット例
――――― [JIS K 0155 pdf 17] ―――――
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K 0155 : 2018
4.6.4.3 4.6.4.1又は4.6.4.2のcMの値が適切である場合は,箇条5に進む。そうでない場合,又は装置の
補正ソフトウェアをこの規格での補正と比較して検証する場合は,4.6.5に進む。
4.6.5 強度補正及び装置における補正の有効性の確認
T
4.6.5.1 強度は式(1)を用いて補正され,LMと Lとが一致する範囲内で有効である。図5のa)は,95
M %の
線形性を保つようなcMは10倍増大することを示している。その結果,補正された強度の上限値はパルス
T
当たり8.5カウントで,補正されてない結果に対して85倍の改善を示す。LMと Lとは,図6に示すよう
M
に一致しないことが多い。その場合は,95 %の線形性をもつパルス当たりの有効測定カウントは,4倍ま
でしか増大しない。その結果,補正強度上限値はパルス当たり0.5カウントであり,補正されていない結
果に対して5倍だけの改善を示す。附属書Dは,線形性に影響を及ぼし,更に装置の有効操作範囲を十分
に広げることが可能な因子のうちの幾つかを示す。
4.6.5.2 調整するときは,新しいPTFE試料を準備し,十分な線形性に到達するか,それ以上の改善が得
られなくなるまで4.5.24.6.5.1を繰り返す。
4.6.5.3 装置が補正ソフトウェアをもつ場合,その有効性を検証するためにこの規格による補正と比較す
るのがよい。図5のb)の様式を用いて両者の一連の結果をプロットし,それぞれのcMの上限値,求めら
れた線形性が妥当かに注目する。二つの値が同等か,又は装置ソフトウェアの値がこの規格から得られる
値を超える場合は,装置ソフトウェアは有効である。
4.6.5.4 装置ソフトウェアを用いるのは便利であるが,定量的なデータが要求されている場合は,この規
格による確認が必要である。
――――― [JIS K 0155 pdf 18] ―――――
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1
0.8
Y
0.6 CF
CF3
0.4 C3F3
C2F5
0.2 C3F5
LMT
0
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1
X
X パルス当たりの計測カウント cM
Y 線形性 LM
a) 測定した強度を用いて計算した強度の線形性
1
0.8
0.6
Y
CF
0.4 CF3
C3F3
0.2 C2F5
C3F5
0
0 0.2 0.4 0.6 0.8 1
X
X パルス当たりの計測カウント cM
Y 線形性 LP
b) 不感時間補正を実施した強度を用いて計算した強度の線形性
図6−附属書Dに示すような調整が不十分な装置の場合の12CxFy+ピークのパルス当たりの計測カウント
cMに対する線形性のプロット例
――――― [JIS K 0155 pdf 19] ―――――
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5 測定を繰り返す間隔
この規定は,検出回路に何らかの実質的な改良が加えられた場合,MCP,シンチレータ,光電子増倍管
若しくは他の検出器部品の交換後,又はおよそ6か月ごとに繰り返さなければならない。
――――― [JIS K 0155 pdf 20] ―――――
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JIS K 0155:2018の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 17862:2013(MOD)