JIS X 6123:1996 12.7mm幅,18トラック,1491cpmm,情報交換用磁気テープカートリッジ | ページ 3

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X 6123-1996 (ISO/IEC 9661 : 1994)
この測定を一つのテープ試験片の5か所について行い,これらの表面電気抵抗の平均を算出する。裏面
が塗布されている場合には,裏面についてもこの試験を行う。
図2 表面電気抵抗の試験方法
試験片を電極に置くとき,電極の間にはテープ試験片以外の導電性のものがあってはならない。
備考 試験前に電極の表面を清掃すること。

6.14 耐久性

 この規格では,テープの耐久性を評価するパラメータを規定しない。
なお,試験方法は,附属書Dによることが望ましい。

6.15 不良テープ

 この規格では,テープが不良であるか否かを評価するパラメータを規定しない。
なお,不良テープに関する参考情報は,附属書Bによる。

6.16 テープの研磨性

 テープの研磨性は,テープのテープ走行系に対する研磨度とする。附属書Cによ
って測定したとき,研磨性試験用バーに生じる研磨パターンの長さは,56 下とする。

6.17 記録前の磁気的状態

 データの記録又は試験に先立ち,テープは,減衰する交流磁界をかけること
によって(非可逆過程),記録面の残留磁気モーメントの20%以下に消去しなければならない。試験方法
は,附属書Eによる。
テープには低密度の磁束反転があってはならない。

6.18 磁気記録特性

 磁気記録特性は,次に示す試験条件による。
これらの試験を行うとき,出力信号及び残留信号の測定は,標準テープ,被試験テープともに同じ走行
系(記録時再生をするか,又は記録時再生機能がないときには,1回目の再生時に読み取る。)を使用する。
なお,磁気記録特性の試験に用いる標準テープは,副標準テープに代えることができる。
磁気記録特性の試験条件は,特に規定がない限り,次の条件を適用する。
テープの状態 : 記録前の磁気的状態
テープ速度 : 2.5m/s以下
再生トラック幅 : 記録トラック幅以下
アジマス : 記録時の磁束反転と再生ギャップとの傾き6′以下
記録ギャップ長 : 1.4 0.2
記録ヘッドの飽和磁束密度 : 0.34T+0.03T
テープ張力 : 2.2N+0.2N
記録電流 : 試験記録電流

6.18.1 ティピカル磁界

 ティピカル磁界は,基準磁界の90%110%とする。

――――― [JIS X 6123 pdf 11] ―――――

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X 6123-1996 (ISO/IEC 9661 : 1994)
標準テープの基準磁界は,副標準テープの校正値で代えることができる。

6.18.2 平均信号振幅

 平均信号振幅は,記録密度972ftpmmで記録したときの標準信号振幅の70%140%
とする。
標準テープの標準信号振幅は,副標準テープの校正値で代えることができる。

6.18.3 分解能

 分解能は,記録密度1458ftpmmでの平均信号振幅を記録密度972ftpmmの平均信号振幅で
除した値とし,その値は,標準テープの分解能の80%120%とする。
標準テープの分解能は,副標準テープの校正値で代えることができる。

6.18.4 重ね書き

 重ね書きは,トーンパターンの信号を記録した後,記録密度972ftpmmで重ね書きし,
残留するトーンの基本周波数 (162ftpmm) の平均信号振幅を972ftpmmの信号振幅で除した値とする。トー
ンの平均信号振幅は,等価な実効電力をもつ正弦波信号のピーク値 (P-P) とする。
6.18.4.1 要求事項 重ね書きは,標準テープの重ね書きの120%未満とする。
6.18.4.2 試験方法 試験時には,次に示すトーンパターンを記録する。
記録したトーンパターンに記録密度972ftpmmの信号を重ね書きした後,トーンパターンの基本周波数
(162ftpmm) の信号及び972ftpmmの信号の平均振幅を測定する。これらの信号振幅は,適切なフィルタを
用いて測定する。

6.18.5 狭帯域信号対雑音比 (NB-SNR)

   NB-SNRは,実効電力の平均信号振幅を雑音の実効電力の積分
(側帯波)で除した値とし,デシベル (dB) で表す。
6.18.5.1 要求事項 NB-SNRは,トラック幅が410 30dB以上とする。
なお,測定時のトラック幅がW 次の式によって換算する。
410
dB 410 dB W 10 log
W
ここに, dB (410) : トラック幅が410 一 SNR
dB (W) : トラック幅がW 一 SNR
W : 測定に用いた磁気ヘッドのトラック幅 (
6.18.5.2 試験方法 試験方法は,分解能帯域幅 (RBW) 1kHz及びビデオ帯域幅 (VBW) 10MHzのスペクト
ラムアナライザを使用し,テープ速度を762mm/sとし,次による。
i) 972ftpmmの再生信号振幅をテープの長さ46m以上にわたり,150個以上のサンプルについて測定する。
ii) 次の走行(再生時)でテープ上の同じ部分の雑音の実効電力を測定し,その雑音の実効電力を332kHz
366kHzの範囲まで,実際の分解能帯域幅で正規化して積分する。その他のテープ速度で試験すると
きには,テープ速度に応じて周波数を補正する。

6.19 テープの品質

 テープの品質は,保存環境条件又は輸送環境条件に放置してあった場合を含めて,
6.19.16.19.3による。試験条件は,次による。
環境条件 : 使用環境条件
テープの状態 : 記録前の磁気的状態

――――― [JIS X 6123 pdf 12] ―――――

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X 6123-1996 (ISO/IEC 9661 : 1994)
テープ速度 : 2m/s
再生トラック幅 : 410
記録密度 : 972ftpmm
記録ギャップ長 : 1.4 0.2
アジマス : 記録時の磁束反転と再生ギャップとの傾き6'以下
記録ヘッドの飽和磁束密度 : 0.34T±0.03T
記録電流 : 試験記録電流
フォーマット(トラック数) : 18トラック
テープ張力 : 2.2N±0.2N

6.19.1 ミッシングパルス

 ミッシングパルスは,再生信号振幅の欠損であり,再生した電圧の0Vを基準
にしたピーク値 (0-P) が,その直前のテープの長さ25.4mmにわたる平均信号振幅の21の25%以下とする。

6.19.2 ミッシングパルス領域

 ミッシングパルス領域は,ミッシングパルスが生じた箇所から続く64個
の磁束反転を検出するまで,又は1mmの長さまでの領域とする。
ミッシングパルス領域の数の比率は,8×106個を記録した磁束反転当たり1未満でなければならない。

6.19.3 同時発生ミッシングパルス領域

 同時発生ミッシングパルス領域は,全トラックを奇数番号及び偶
数番号の二つの9トラックの群に分け,一つの9トラック群に2トラック以上にわたってミッシングパル
スが存在する領域とする。
同時発生ミッシングパルス領域が二つの9トラック群で同時に発生しても,1個の同時発生ミッシング
パルス領域とみなす。その長さは,最初に発生した一つのトラック群の同時発生ミッシングパルス領域か
ら,最後に発生したトラック群の同時発生ミッシングパルス領域の終わりまでとする。
テープの長さ165mの範囲内での同時発生ミッシングパルス領域の数は,12個を超えてはならない。
同時発生ミッシングパルス領域の長さは,50mm以下とする

7. カートリッジの寸法及び機械的特性

 カートリッジの構成は,次による。
− ケース
− リール
− リールハブに巻いたテープ
− リールのロック機構
− 書込み禁止機構
− リーダブロック
− リーダブロックのラッチ機構
カートリッジの寸法は,互換性上必す(須)の箇所を規定し,それ以外の箇所は,機能的特性だけを示
す。カートリッジの寸法を,図3図17に示す。
寸法は,三つの直交する基準面A,基準面B及び基準面Cに基づく(図3参照)。カートリッジを装着
した場合には,寸法は,カートリッジの他の面を基準としてもよい。カートリッジのケースの寸法を図4
図11に示す。
図3 カートリッジの外観
図4 ケースの前面
図5 ケースの上面
図6 ケースの後面

――――― [JIS X 6123 pdf 13] ―――――

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X 6123-1996 (ISO/IEC 9661 : 1994)
図7 ケースの底面
図8 ケースの側面
図9 図4の一部拡大図
図10 位置決めノッチの詳細図
図11 ケース開口部の断面図
図12 カートリッジが未装着の場合のカートリッジの断面図
図13 カートリッジが装着の場合のカートリッジの断面図
図14 リムの歯形詳細図
図15 リーダブロック
図16 リーダブロックへのテープの取付け
図17 ケース内のリーダブロック

7.1 カートリッジの全体の寸法

(図5及び図6) カートリッジの全体の寸法は,次による。 l1=125.00mm±0.32mm
l2=109.00mm±0.32mm
l3= 24.50mm+0.50mm
ケース各部の丸みの半径は,次による。
r1≦3.00mm
r2≦4.00mm
r3≧3.00mm

7.2 書込み禁止機構

(図4及び図5) 書込み禁止機構は,書込み禁止状態を識別できる目印(例えば,白い点)を付けた平らな表面を設けなければならない。
平らな表面は,ケースの前面の窓から操作できることとし,その窓の位置及び寸法は,次による。
l4=11.80mm±0.25mm
l5=15.60mm±0.25mm
l6= 7.40mm±0.25mm
l7=12.00mm±0.25mm
書込み禁止状態のとき,書込み禁止機構の平らな表面は,ケースの窓の奥にあることとし,ケースの前
面からの距離は,次による。
l8≧2.55mm
書込み可能状態のとき,平らな表面は,ケースの前面から0.25mm以内とする。
書込み禁止機構が作動するのに要する力は,ケースの前面に平行に力を加えたとき,2N9Nとする。
この規格では,書込み禁止機構の実装方法を規定しない。回転式であってもスライド式であってもよい。
窓を大きくしたり別の窓を設けたりしても,ケースが汚れたり,きずがつかないようにしなければならな
い。

7.3 後面のラベル領域

(図5及び図6) ケースの後面のラベル領域の位置,寸法及び丸みの半径は,次による。
l9= 7.00mm±0.25mm
30
.016
l10=80.00mm± .0 mm
l11=12.30mm±0.25mm

――――― [JIS X 6123 pdf 14] ―――――

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X 6123-1996 (ISO/IEC 9661 : 1994)
l12= 0.50mm±0.25mm
r4≦ 1.00mm

7.4 上面のラベル領域

(図7) ケースの上面のラベル領域は,ケースの上面から0.50mm±0.25mmの段差を設け,その位置,寸法及び丸みの半径は,l9, l10, r4及び次による。
l13=31.00mm±0.25mm
30
.016
l14=75.00mm± .0 mm

7.5 ケース開口部

(図4,図5,図7及び図9) ケースには,リーダブロックを挿入できる開口部を設ける(図17参照)。ケース開口部の位置,寸法,角部の丸みの半径及び切欠きは,次による。
l15= 4.70mm±0.25mm
l16=14.90mm±0.32mm
l17= 7.50mm±0.25mm
l18=87.10mm±0.25mm
l19= 4.00mm±0.25mm
r5= 4.00mm±0.25mm
懿 50°±1°
図4を右側から見たときのケース開口部の構造の拡大図を図9に示し,その寸法及び角度は,次による。
l61= 3.9mm±0.5mm
5.04.0
l62=16.9mm± mm
l63= 3.0mm±0.5mm
l64=11.6mm±0.5mm
1°00′±30′
20°±2°

7.6 位置決めノッチ

(図7,図8及び図10) 位置決めノッチは,ケースの底面の2か所に設け,その位置,寸法及び角度は,次による。
l20=106.00mm±0.25mm
l21= 5.00mm±0.25mm
l22= 7.00mm±0.25mm
l23=104.00mm±0.25mm
l24= 2.50mm±0.25mm
拿 1°30′±30′
柿 2°00′±30′

7.7 位置決め領域

(図7) 位置決めの領域は,ケースの底面の3か所に,底面からの深さ0.25mm以内とした円形の位置決め領域 愀 位置決め領域 愀 び位置決め領域 愀 ける。
位置決め領域 愀 び位置決め領域 愀湶 径は,10.00mm±0.25mmとし,この中心の位置は,次による。
l25=108.50mm±0.25mm
l26= 3.50mm±0.25mm
l27=105.50mm±0.25mm
位置決め領域 愀湶 径は,14.00mm±0.25mmとし,この中心の位置は,次による。
l28=31.25mm±0.25mm
l29=54.50mm±0.25mm

――――― [JIS X 6123 pdf 15] ―――――

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  • ISO/IEC 9661:1994(IDT)

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