JIS X 6144:2000 ８ｍｍ幅，ヘリカル走査記録，情報交換用磁気テープカートリッジ，ＤＡ－２様式 | ページ 8

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X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)
d) テープの両端に0.3gのおもりを付ける。
e) テープの端で決まる面とこの面からの最大偏差の距離を測定する。

9.8 磁性面及び磁気テープの裏面の接着強度

 磁性面の接着強度は,磁性面をテープのベース材料から
はがす力とし,0.10N以上とする。試験方法は,次による(図25参照)。
a) 長さ約380mmのテープの試験片を採り,一方の端から125mmの位置でテープ幅方向にけがき線をベ
    ース面に達するまで引く。
b) 磁性面を下向きにして,両面接着テープで試験片を全幅にわたって滑らかな金属の板にはり付ける。
c) 試験片を180°折り曲げ,金属の板と試験片の自由端とを引張試験機に取り付けて254mm/minで引っ
    張る。
d) 磁性面のどの部分でも最初にベースから磁性面がはがれたときの力を記録する。この力が0.10Nに達
    する前に両面接着テープが試験片からはがれた場合は,別の種類の両面接着テープを使用する。
      テープの裏面に塗布されている場合は,a)   d)に準じ,裏面の試験を行う。
                       図25 磁性面又は磁気テープ裏面の接着強度の試験法

9.9 層間の粘着

 層間の粘着は,次の試験方法によって試験したとき,試験片に粘着及び磁性面又は磁
気テープ裏面のはがれの兆候があってはならない。
a) 直径36mmのガラス管の表面に,長さ1mの試験片の端を付ける。
b) 1.1Nの張力でガラス管にテープを巻く。
c) 巻かれた試験片を温度45℃±3℃,相対湿度80%の環境の中に4時間放置する。
d) さらに,試験環境条件に24時間放置する。
e) 試験片の自由端に0.1Nの力を加え,ゆっくりほどく。

9.10 引張強度

 引張強度は,JIS K 7161の試験方法による。
  テープの試験片の長さは,200mmとする。リーダテープの試験片の長さは,50mmとする。トレーラテ
ープの試験片の長さは,50mmとする。引張速度は,100mm/minとする。

9.10.1 破断強度

 破断強度は,テープが破断するのに要する力とし,8N以上とする。

9.10.2 降伏強度

 降伏強度は,テープが5%伸びるのに要する力とし,4N以上とする。

9.11 残留伸び

 残留伸びは,元のテープの長さの0.04%未満とする。試験方法は,次による。
  0.20N以下の張力で,約1m長の試験片の初期の長さを測定する。さらに全断面に20.5N/mm2の力を10
分間加える。加えた力を取り除き,10分後にテープ長を測定する。

9.12 磁性面の電気抵抗

 テープの磁性面の電気抵抗は,103    坎  下とする。

――――― [JIS X 6144 pdf 36] ―――――

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  試験方法は,次による(図26参照)。
a) テープ試験片を試験環境条件に24時間放置する
b) 24カラットの金めっきした半径r=10mmで粗さをN4(ISO 1302参照)で仕上げてある二つの半円の
    電極に,記録面が接するように置く。これらの電極は,水平で,中心間の距離d=8mmとなるように
    平行に置く。
c) 5N/mm2の張力を発生させるために必要な力Fを試験片の両端に加える。
d) 電極に7V±1Vの直流電圧を印加して電流を測定する。この値から電気抵抗を求める。
      この測定を一つのテープの試験片の5か所について行い,読み取った抵抗値を平均する。
      試験片を電極に置くとき,電極間には,試験片以外の導電性のものがあってはならない。
    備考 試験前に電極の表面を清掃する。
                                 図26 磁性面の電気抵抗試験法

9.13 テープの巻き方

 テープの巻き方は,テープの磁性面をカートリッジ及びリールの外側とする。

9.14 テープの光透過率

 磁気テープの光透過率は,5%以下とする。
  識別ストライプの光透過率は,10%以下とする。
  リーダテープ及びトレーラテープの光透過率は,60%以上とする。
  光透過率の測定方法は,附属書Aによる。

9.15 媒体識別システム (MRS)

    リーダテープのPBOT付近に,1本の識別ストライプを設けなければな
らない。
  ストライプは,リーダテープの全幅にわたっていなければならない(図27参照)。
  ストライプの長さは,3.0mm±0.1mmとする。
  接合部に近接しているストライプの端は,リーダテープと磁気テープの接合部から20.17mm±10.80mm
とする。

――――― [JIS X 6144 pdf 37] ―――――

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                                  図27 識別ストライプの位置

10 磁気的特性

 磁気的特性の試験は,次による。
  この試験を行うとき,出力信号又は残留信号の測定は,主基準テープ,供試テープともに同じ装置の同
じ走行系を使用し,記録時再生によって行う。
  規定がない限り,正アジマストラックを使用して試験する。

10.1 試験条件

 磁気的特性の試験条件は,次による。
            テープの状態              :  記録密度3 819ftpmmの平均信号振幅の2%未満に交流消去。
            ヘッド/テープ速度        :  13.876 8m/sec±0.027 8m/sec
            テープ張力                :  スキャナ(ドラム)入口で0.10N±0.02N
            トラック幅                :  11.5     1.0 
            記録ヘッドのギャップ長    :  0.20     0.03 
            再生ヘッドのギャップ長    :  0.20     0.03 
            ギャップアジマス          :  20.009°±0.200°
            記録電流                  :  試験記録電流
            記録波形                  :  方形波

10.2 ティピカル磁界

 ティピカル磁界は,基準磁界の80%120%とする。
  基準磁界の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.3 平均信号振幅

 平均信号振幅は,記録密度3819ftpmmで記録したとき,主基準テープの平均信号振
幅の80%130%とする。
  主基準テープの平均信号振幅の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.4 分解能

 分解能は,記録密度3819ftpmmの平均信号振幅を954.75ftpmmの平均信号振幅で除した値
とし,その値は,主基準テープを用いて同じ条件で測定したときの値に対して80%120%とする。
  主基準テープの分解能の特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。

10.5 狭帯域の信号対雑音比 (NB-SNR)

   狭帯域の信号対雑音比は,実効電力の平均信号振幅を雑音の
実効電力の積分(側帯波)で除した値とし,デシベル (dB) で表す。
  NB-SNRは,トラック幅を11.5          地            24dB以上とする。
  正規化は,次の式で算出する。

――――― [JIS X 6144 pdf 38] ―――――

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                        dB (11.5) =dB (W) +10log11.5/W
                      ここに, W :  測定に用いたトラック幅
  試験方法
a) 分解能3kHz及びビデオ帯域幅30Hzのスペクトラムアナライザを使用する。
b) 記録密度3819ftpmmの再生信号振幅をテープの長さ6m以上にわたり,150か所以上のサンプルにつ
    いて測定する。
c) 次の走行(再生時)でテープ上の同じ箇所の雑音の実効電力を測定し,その雑音の実効電力を1MHz
    から33MHzまで,実際の分解能帯域幅で規準化して積分する。

10.6 消去特性

 消去特性は,次による。
  試験記録電流3819ftpmmで記録密度954.75ftpmmの信号を記録した後,テープの長手方向に320000A/m
の均一な磁界中を通過したとき,残留信号の信号振幅は,標準信号振幅の2%以下とする。
  消去磁界は,ソレノイドの中央部の磁界のように,均一でなければならない。また,測定はバンドパス
フィルタを通し,少なくとも第3高調波まで行う。

10.7 テープの品質

 テープの品質は,次による。

10.7.1 ミッシングパルス

 ミッシングパルスは,再生信号振幅の欠損であり,再生信号の出力電圧の0 V
を基準としたピーク値 (0-P) が記録密度3819ftpmmの信号の平均信号振幅の1/2の40%以下とする。

10.7.2 ミッシングパルスゾーン

 ミッシングパルスゾーンは,次による。
  ミッシングパルスゾーンは,ミッシングパルスによって開始し,トラック方向に1mmの長さに達した
とき終了する。ミッシングパルスが連続して1mmを超えて発生したとき,次のミッシングパルスゾーン
とする。
  一つのミッシングパルスゾーンは,次のトラックにまたがってはならない。
  ミッシングパルスゾーンの発生頻度は,正アジマス及び負アジマスのトラックの両方について5×106の
磁束反転当たり1個未満とする。

10.7.3 重ね書き

 重ね書きは,低記録密度の信号を記録をした後に,高記録密度の信号を重ね書きし,残
留する低記録密度の信号の平均信号振幅を元の低記録密度の信号の平均信号振幅で除した値とする。
  主基準テープの重ね書きの特性値は,二次基準テープの校正値を用いて代えることができる。
  試験方法は,次による。
  交流消去したテープを用い記録密度954.75ftpmmの信号を記録し,平均信号振幅を測定する。記録密度
3 819ftpmmの信号を重ね書きし,残留した記録密度954.75ftpmmの信号の平均信号振幅を測定する。二次
基準テープについて繰り返し測定する。
  要求事項は,次による。
  記録密度954.75ftpmmの重ね書きは,次の比によって求めたとき,主基準テープの120%未満とする。
                         重ね書き後に残留する記録密度954.75 ftpmmの信号の平均信号振幅
                                   記録密度954.75 ftpmmの信号の平均信号振幅

11. フォーマット

11.1 概要

 テープサブシステムは,ホストコンピュータから論理ブロックのデータバイト,ロングファ
イルマーク,ショートファイルマーク,又はセットファイルマークを受け取る。論理ブロックは,物理ブ
ロックに変換する(11.2参照)。
  一対のトラックのフォーマット構成は,次による(図28参照)。

――――― [JIS X 6144 pdf 39] ―――――

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X 6144 : 2000 (ISO/IEC 15757 : 1998)
・プリアンブル
・サーチフィールド
・サーボエリア(トラック2だけ)
・サーチフィールド
・データクロック同期
・8個の物理ブロック
・サーチフィールド
・サーボエリア(トラック2だけ)
・サーチフィールド
・データクロック同期
・8個の物理ブロック
・サーチフィールド
・サーボエリア(トラック2だけ)
・サーチフィールド
・ポストアンブル
                                  図28 トラックフォーマット

――――― [JIS X 6144 pdf 40] ―――――

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