JIS X 6177:2006 情報交換用12.7mm幅,448トラック磁気テープカートリッジ―SDLT1様式 | ページ 9

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X 6177 : 2006 (ISO/IEC 22051 : 2002)
ポストアンブル出力
図 35 ポストアンブル回路

14.3 プリコーダ

 変調データグループは,図36によるプリコーダで処理する。ステージは,D形フリッ
プフロップとし,対応するアルゴリズムは,Yn=Xn+Yn-2とする。初期状態では,プリコーダは,00に設定
する。
図 36 プリコーダ回路

14.4 記録データブロック

 記録データブロックは,プリアンブル及び同期で完成したプリコードデータ
ブロックで構成する。プリアンブル及び同期の処理は,13.によって処理してはならない。
14.4.1 プリアンブル プリアンブルは,800ビットセルとし,プリアンブルフィールドの前にあるギャッ
プの終わりで磁束反転とする。プリアンブルフィールドは,4ビットセル間隔の200磁束反転する。
14.4.2 同期 同期は,37ビットセルとする。磁束反転は,次のビットセル間隔99992222で発生する。
表示範囲 フィールド
800ビットセル プリアンブル
37ビットセル 同期
34 356ビットセル 記録データブロック
図 37 記録データブロック

15. ブロックのタイプ及び用途

――――― [JIS X 6177 pdf 41] ―――――

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X 6177 : 2006 (ISO/IEC 22051 : 2002)

15.1 ブロックのタイプ

 ブロックのタイプは,次の6個とする。
− データブロック
− トラックID開始ブロック
− トラックブロックの終端 (EOTR)
− データブロックの終端 (EOD)
− ECCブロック
− トラックID終了ブロック
ブロックは,データブロックを示す図29(12.4参照)によるフォーマットとする。ECCブロック(15.2.4
参照)を除くブロックは,同じ構造とし,データフィールドは,使用者データを含めてはならない。

15.2 物理ブロックの用途

15.2.1 トラックID開始ブロック トラックIDブロックは,FAF2にだけに位置する。
トラックIDブロックのデータフィールドは,この規格では規定しない。情報交換時には,無視する。
このブロックのCF2の物理ブロック番号は,(FFFF)に設定し,CF2のKビットは,1に設定する。
15.2.2 トラックブロックの終端 実体集合を完全に記録し,BOT又はEOTから1 524 mm3 048 mmが
残っている場合,EOTRブロックは,74個以上を記録し,記録を完結しなければならない。実体集合が完
全でなく,1 524 mm3 048 mmがBOT又はEOTに残っている場合,EOTRブロックは,最小74個をテ
ープに記録し,記録を終了する。最後に,完全な実体集合を次の論理トラックのはじめに記録する。
EOTRブロックのデータフィールドの内容は,この規格では規定しない。情報交換時には,無視する。
15.2.3 データブロックの終端 120個のEODブロックの実体集合は,テープに記録するデータの終端を
示す。
EODブロックのデータフィールドの内容は,この規格では規定しない。情報交換時には,無視する。
15.2.4 ECCブロック 4個のECCブロックのバイトは,4 096バイトのデータフィールド及び実体の先行
する16バイトのCF1にわたって計算する。ECC検査バイトは,バイト位置00014112に記録し,ECC
ブロックのCF1は,4バイトだけとする。
ECCブロックのCF2は,12.4.2による。
ECCブロックは,12.4.3のCRCによって完結する。
ECCバイトの生成法は,附属書Eによる。
15.2.5 トラックID終了ブロック トラックID終了ブロックは,FAF2だけに位置し,トラックID開始
ブロックの直後に続く。CF2の物理ブロック番号は,0に設定し,Kビットは,1に設定する。完全な実体
集合は,最小1個を記録しなければならない。
トラックID終了ブロックのデータフィールドの容量は,この規格では規定しない。情報交換時には,
無視する。

16. 論理実体フォーマット

 ブロックは,EOTRブロック及びEODブロックを除き,論理実体に記録する。
論理実体は,同じ論理トラック内で記録を完了し,120の連続した20ブロックとする。1番目のブロ
ックは,データブロックとし,216番目のブロックは,データブロック又は繰返しデータブロックとす
る。その他のブロックは,次による。
− 17番目は,ECC1ブロックとする。
− 18番目は,ECC2ブロックとする。
− 19番目は,ECC3ブロックとする。

――――― [JIS X 6177 pdf 42] ―――――

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− 20番目は,ECC4ブロックとする。
ECCブロックを計算後,データブロック及びECCブロックは,テープに記録する。ブロックは,公称
57 mmで100バイトの直流消去したギャップを設け,その再生信号振幅は,平均信号振幅の5 %未満とす
る。

17. 実体集合のフォーマット

 実体集合は,実体の集合とする。実体集合の実体の数は,実体の個数とし,
18とする。実体集合の実体は,実体集合に関する実体番号とする(12.4.2.10参照)。実体集合は,論理
トラックをまたがってはならない。ホストシステムから書込み命令を受け取ったとき,追記点がターゲッ
トとする実体集合の直後に,新しい実体集合を記録する。この点以降のすべての既存のデータは,重ね書
きしなければならない。実体集合のブロックは,論理トラックに対応する物理トラックに順番に記録する。

18. 誤りの処理

 ブロックに誤りが発生したときの処理は,正しく書き込むまで,同じ論理トラックの別
の物理トラックに再記録する(12.4.2.2参照)。

――――― [JIS X 6177 pdf 43] ―――――

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X 6177 : 2006 (ISO/IEC 22051 : 2002)
附属書A(規定)光透過率の測定方法
A.1 序文 この附属書は,テープの光透過率を測定する測定装置及び測定方法について規定する。
この規格の光透過率は,テスト片を挟んだ測定装置からの読取値と挟んでいない読取値の関係として定
義する。光透過率は,二つの読取値の比を百分率で表す。光透過率5 %未満の要求事項は,A.2.1に定め
る2波長について満たさなければならない。
A.2 測定装置の構成 測定装置の構成は,次による。
発光源
受光装置
測定用遮光壁
光学系
測定回路
A.2.1 発光源 発光源は,二つ赤外発光ダイオード (LED)で構成し,次のパラメタで連続的に使う。
LED No.1
最大発光波長 : 750 nm±50 nm
帯域の半値幅 : ±50 nm
LED No.2
最大発光波長 : 1 050 nm±50 nm
帯域の半値幅 : ±50 nm
A.2.2 受光部 受光部は,平面のシリコンフォトダイオードを用いる。このダイオードは,閉回路モード
で駆動する。
A.2.3 測定用遮へい壁 測定用遮へい壁は,厚さを2 mmとし,円形の穴の直径dは,フォトダイオード
の有効面積の80 %100 %とする。
遮へい壁は,黒のマットとする。
試験片は,遮へい壁に対して固定し,円形の穴をふさぎ,光の漏れがあってはならない。
A.2.4 光学系(附属書A図1) 光学系は,遮へい壁に対して垂直とする。発光ダイオードの発光表面か
ら遮へい壁までの距離Lは,次による。
L d 2 tan mm
ここに, α : LEDの相対強度が最大強度の95 %以上とする
A.2.5 仕上げ すべての組立部品は,つや消しの黒いケースの中に入れる。
A.2.6 測定回路(附属書A図2) 測定回路は,次による。
E : 出力電圧が可変の定格電源
R : 電流制限抵抗
LED : 発光ダイオード
Di : シリコンフォトダイオード
A : 演算増幅器
Rf0,Rf1 : フィードバック抵抗
S : 切替えスイッチ

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X 6177 : 2006 (ISO/IEC 22051 : 2002)
V : 電圧計
LEDの正方向の電流は,電源Eによって変更でき,その結果,発光出力も変更できる。
Diは,閉回路モードで動作する。
演算増幅器の出力電圧は,V0=Ik×Rfによる。ここに,Ikは,Diの閉回路電流とする。
出力電圧は,光強度の線形関数となる。
Rf0及びRf1は,温度変動の少ない抵抗で,その精度は,1 %以下とし,比率は,次による。
Rf0 Rf1 1 20
A.3 測定方法 測定方法は,次による。
スイッチSの位置を0にする。
テスト片を付けないで,電源Eの電圧を変え,電圧計Vの目盛が最大になるまで上げる。
磁気テープのテスト片を遮へい壁に取り付け,スイッチSの位置を1に設定する。電圧計の最大振れが
5 %光透過率を示す。
1回目は,LED No.1で行い,2回目は,LED No.2の合計2回行う。
附属書A図 1 光学系の配置
附属書A図 2 測定回路

――――― [JIS X 6177 pdf 45] ―――――

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JIS X 6177:2006の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 22051:2002(IDT)

JIS X 6177:2006の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 6177:2006の関連規格と引用規格一覧