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X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
− 温度変化 : 最大15 ℃/h
− 相対湿度変化 : 最大10 %/h
8.1.3.2 気象保存条件
ディスクの環境での安定度を検査するために,次の環境条件にディスクを置く。
− JIS C 60068-2-2による高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : B)
温度(T)=55 ℃,相対湿度(RH)=50 %で96時間
− JIS C 60068-2-30による温湿度サイクル試験方法(試験記号 : Db)
上限温度=40 ℃,下限温度=25 ℃,RH=95 %,サイクル時間=(12+12)時間,6サイクル
これらの環境条件にディスクをさらした後で,測定の前に24時間又は48時間の回復時間を置くことが
望ましい。
8.1.4 輸送
8.1.4.1 一般
輸送は,広い範囲の温度及び湿度の変動,異なる所要時間,多くの輸送手段並びに世界のあらゆる地域
で行われているため,輸送又はこん包の必須条件を規定することは不可能である。
8.1.4.2 包装
8.1.4.2.1 一般
包装の形は,送り手と受け手との間で合意をとることが望ましい。合意がない場合は,送り手の責任で
ある。次の細分箇条に示す障害を考慮することが望ましい。
8.1.4.2.2 温度及び湿度
緩衝材及び包装は,見込んだ輸送期間中保存条件を維持するように設計することが望ましい。
8.1.4.2.3 負荷及び振動の衝撃
a) ディスクの変形を起こすような機械的負荷は避ける。
b) ディスクの落下は避ける。
c) 衝撃を吸収する材料をもつ硬い箱に,ディスクを収納することが望ましい。
d) 外箱は,中がきれいで,汚れ及び湿度の侵入を防ぐ密閉構造をもつことが望ましい。
8.2 安全性
ディスクは,意図する取扱い方法で使われる,又は情報システムの中で予測される範囲内で使用される
場合には,JIS C 6950-1の要求事項を満たす。
8.3 難燃性
ディスクは,JIS C 6950-1に規定するHB材料又はそれ以上の難燃性区分の材料で作る。
9 基準ドライブ
9.1 一般
この規定の適合確認のための光学測定及び電気信号測定には,基準ドライブを用いる。この基準ドライ
ブの重要部品は,この箇条で規定する。
9.2 測定条件
ほかに規定しない限り,ディスクは,8.1.1で規定した試験環境条件下で測定する。
9.3 光学システム
規定した記録及び読取りのパラメタの測定に用いる基準ドライブの光学システムの基本構成を図4に示
――――― [JIS X 6233 pdf 21] ―――――
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す。性能が図4の構成と同じ場合,異なる部品及び部品の異なる配置は許容される。
光学システムは,測定を行う半径で光ビームが集光する記録層に対して,集光した光ビームが垂直にな
るように配置する。
光学システムは,測定精度に影響が出ないようにディスク入射面で反射した光の検出光を最小にする。
I1= Ia + Ib 高周波信号読取りチャネル
I 1+ I2
半径方向プッシュプル読取りチャネル
I 1 −I2
I 2= I c+ Id
Ia Ib
IaIbIcId
4分割
トラック接線方向 フォトディテクタ
Id Ic
ディスク
レーザ コリメータ 偏光 球面収差 1/4 対物
ダイオード レンズ ビームスプリッタ
補正 波長板レンズ
図4−基準ドライブの光学システム
レーザダイオードから来る入射光と光ディスクで反射しフォトディテクタに行く反射光とを分離するた
めに,偏光ビームスプリッタ及び1/4波長板を用いる。偏光ビームスプリッタを透過する光ビームは,100:1
以上のPS強度比にする。
光ビームは,測定を行う半径で光ビームが集光する記録層の透過積層の厚さに対して,集光した光ビー
ムの収差(SA)が最小になるように調整する。
多層ディスクの一つの層の測定中に他層から反射された光が影響を与える可能性がある。この影響に対
処するために,フォトディテクタの寸法を制限する。ディテクタの縦横の長さは,M×5 μmよりも小さく
する。
ここに,Mは,ディスクから4分割フォトディテクタ近傍の共役面までの光学拡大率である。
しかしながら,タイプTLディスクでは,フォトディテクタの縦横の長さをM×5 μm未満にしても影響
が無視できない。したがって,測定した反射率は,B.4に示す方法によって補正する。
9.4 光ビーム
データの記録及び読取りに用いる集光した光ビームの特性は,次による。
− レーザビームの波長(λ) : (405±5) m
− 偏光 : 円偏光
− 開口数(NA) : 0.85±0.01
− 最大強度に対する対物レンズの瞳の縁での光強度 :
――――― [JIS X 6233 pdf 22] ―――――
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− 接線方向 : (60±5) %
− 半径方向 : (65±5) %
− 記録層での最大波面収差(チルト及び球面収差補正後) : 0.033×λ rms
− 次の式で定義するレーザダイオードの最大相対ノイズ強度 : −125 dB/Hz
Pm
10 log
Pdc
ここに, Pm : 交流光パワー密度/Hz
Pdc : 直流光パワー
− 正規化ディテクタサイズ :
S / M2≦25 μm2
ここに, S : 4分割フォトディテクタの全面積
− ディスク試験読取りパワー(平均) :
− L0層及びL1層 : (1.44±0.10) W
− L2層 : (1.00±0.10) W
− 記録パワー及びパルスの形 : 29.4.2及び附属書F参照
9.5 高周波(HF)読取りチャネル
HF読取りチャネルによって,使用者データを読み取ることができる信号が供給される。この信号は,4
分割フォトディテクタの電流の総和(Ia+Ib+Ic+Id)で生成される。これらの電流は,相変化効果による
マークとスペースとの反射率の違いによって使用者が記録した情報を使って変調される。
フォトディテクタを含むHF読取りチャネルは,直流から44 MHzまでの周波数範囲で直流利得に対し
て±1.0 dB以内で平たんな振幅特性とする。群遅延変動は,6 MHz44 MHzの周波数範囲で最大1.5 ns pp
とする。
i-MLSE測定における信号処理部,ビタビ復号器,PLLなどの特性は,附属書Hに規定する。
9.6 半径方向のプッシュプル(PP)読取りチャネル
半径方向のPP読取りチャネルによって,光ビームの半径方向のトラッキング制御用のトラッキングエ
ラー信号が供給される。また,グルーブで変調された情報を読み取るウォブル信号が供給される。
半径方向のトラッキングエラーは,対物レンズ瞳の出口の半分ともう半分との光量の差に関連した信号
[(Ia+Ib)−(Ic+Id) ]として生成される。
半径方向のPP読取りチャネル内のフォトディテクタを含む読取増幅器は,直流から16 MHzまでの周波
数範囲で直流利得に対して± 1.0 dB以内で平たんな振幅特性とする。
9.7 ディスクのクランプ
ディスクは,パラメタの測定中にクランプゾーン(10.6参照)のほぼ全域を覆う二つの同心円環の間で
クランプする。上部のクランプ領域は,下部のクランプ領域と同じ内径及び外径とする(図5参照)。
クランプは,dinとdoutとの間とし,次による。
din=(23.5±0.5) m
dout=(32.5±0.5) m
全クランプ力は,F1とし,次による。
F1=2.0 N±0.5 N
このクランプ力と,ディスクの中心孔の縁にテーパコーンによって加わるチャック力F2との間で生じる
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力のモーメントによるディスクの反りを防ぐために,F2は,0.5 Nを超えてはならない(図5参照)。
ディスクの中心位置決めに用いるテーパコーンの頂角αは,次による。
α=40.0°±0.5°
図5−測定のクランプ条件
9.8 ディスクの回転及び測定速度
ディスクの回転方向は,対物レンズから見て反時計方向とする。
全ての規定は,特に指定がない限り基準速度の2倍に等しい接線方向の読取速度に基づいている。この
速度は,一定線速度7.375 m/sに相当している。
9.9 正規化サーボ伝達関数
軸方向及び半径方向のトラッキングのサーボシステムを規定するために,関数HN(iω)が用いられる。
それは,基準サーボの開ループ伝達関数Hの公称値を規定し,次による。
3 iω
2 1 K
1 ω0 ω0 ωint
HN iω 1
3 iω iω iω
1
3 ω0
ここに, ω : 2π×f
ω0 : 2π×f0
ωint : 2π×fint
i : i2=−1
K : 積分の次数
f0は,開ループ伝達関数の0 dB交差周波数である。
サーボの位相進み遅れ回路の交差周波数は,次による。
− 進み交差周波数 : f1=f0 / 3
− 遅れ交差周波数 : f2=f0×3
式の中の[1+ωint/(iω) ]の項は,積分関数を表している。そのような積分関数及び同等の関数は,特にディ
スクの回転周波数及びその高次周波数による偏移による低域成分を更に低減するために使用される。
また,fintは,積分関数の3 dB交差周波数である。
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もう一つの重要な周波数は,fxであり,その周波数では,振幅が最大許容残留トラッキングエラーemax
と等しい正弦波偏移が,最大加速度期待値αmaxに合致している。この周波数は,次による。
1 αmax
fx
2π emax
ディスクのトラッキングエラー信号は,幾分大きい変動があるため,各基準サーボループに入力するト
ラッキングエラー信号は,規定した帯域幅を保証するために決めた値に調整する(結果として全体のルー
プゲインを校正することになる。)。
9.10 軸方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ
9.10.1 一般
軸方向残留エラーの測定速度は,記録速度の半分の3.688 m/sとする。
9.10.2 軸方向トラッキングの基準サーボ
軸方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1+H(f)│は,図6に示す影を付けた
領域内で示される。
利得(dB)
100
97.0
80
77.0
54.6
52.9
40
20
0
3 3 3
1 10 36 100 1×10 10 ×10 100×10
周波数(Hz)
図6−軸方向のトラッキングサーボ特性
│1+H(f)│の境界を決めるために使うHN(f)の0 dB交差周波数f0(9.9参照)は,次による。
1 3 m αmax 1 3 .125 0.6
f0 2.3 kHz
2π emax 2π 55 10 9
ここに, αmax : 局所的な外乱による最大加速度の期待値。ここでは,αmax=6.0
m/s2とする。
m : サーボマージンとしての係数。ここでは,m=1.25とする。
emax : m×αmaxによるトラッキングエラー。ここでは,emax=55 nmと
する。
積分は1次積分(K=1)とし,交差周波数は,次による。
――――― [JIS X 6233 pdf 25] ―――――
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JIS X 6233:2017の国際規格 ICS 分類一覧
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- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
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