JIS X 6233:2017 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体―120mm3層(100ギガバイト/ディスク)BD書換形ディスク | ページ 6

20
X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
fint=100 Hz
│1+H(f)│の境界は,次のa) c)による。
a) 100 Hz10 kHzの帯域で
9.0 1 H( f ) ≦ 1.1
HN ( f ) ≦ 1 1 HN ( f )
b) 36 Hz100 Hzの帯域で
.4 78
fint
9.0 1 H( f ) ≦1.1
HN ( f ) ≦ 1 1 HN ( fint )
f
c) 36 Hzまでの帯域で
H( f ) ≦ 97.0 dB
77.0 dB ≦ 1
周波数fxは,次による。
1 αmax 1 0.6
fx 9 6.1 kHz
2π emax 2π 55 10

9.11 半径方向トラッキングの測定速度及び基準サーボ

9.11.1 一般
半径方向の残留エラーの測定速度は,記録速度の半分の3.688 m/sとする。
9.11.2 半径方向のトラッキング基準サーボ
半径方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数H(f)について│1+H(f)│は,図7に示す影を付け
た領域内で示される。
利得(dB)
100
99.0
80
79.0
56.6
54.9
40
20
0
3 3 3
1 10 36 100 1×10 10×10 100×10
周波数(Hz)
図7−半径方向のトラッキングサーボ特性
│1+H(f)│の境界を決めるために使うHN(f)の0 dB交差周波数f0(9.9参照)は,次による。

――――― [JIS X 6233 pdf 26] ―――――

                                                                                             21
X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
1 3 m αmax 1 3 .125 2.2
f0 6.3 kHz
2π emax 2π 16 10 9
ここに, αmax : 局所的な外乱による最大加速度の期待値。ここでは,αmax=2.2
m/s2とする。
m : サーボマージンとしての係数。ここでは,m=1.25とする。
emax : m×αmaxによるトラッキングエラー。ここでは,emax=16 nmと
する。
積分の3 dB交差周波数fintは,次による。
fint=100 Hz
│1+H(f)│の境界は,次のa) c)による。
a) 100 Hz10 kHzの帯域で
9.0 1 H( f ) ≦ 1.1
HN ( f ) ≦ 1 1 HN ( f )
b) 36 Hz100 Hzの帯域で
.4 78
fint
9.0 1 H( f ) ≦1.1
HN ( f ) ≦ 1 1 HN ( fint )
f
c) 36 Hzまでの帯域で
H( f ) ≦ 99.0 dB
79.0 dB ≦ 1
周波数fxは,次による。
1 αmax 1 2.2
fx 9 8.1 kHz
2π emax 2π 16 10

10 寸法特性

10.1 一般

  寸法特性は,ディスクの互換性及び適合をとる上で必須とみなされるパラメタについて規定する。設計
の自由度があるところは,規定した要素の基本特性だけ示す。図8にまとめて,寸法要求事項を示してい
る。ディスクの各部分について,中心孔外周リムを規定している。
図8−ディスク寸法の全体概要

――――― [JIS X 6233 pdf 27] ―――――

22
X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)

10.2 ディスクの基準面及び基準軸

  (ディスクの基準面については,図9及び図10も参照)
ディスク基準面Pは,ディスクの読取面側のクランプゾーン表面(10.6参照)で決まる平面である。
ディスク基準面Qは,ディスクの基板側のクランプゾーン表面で決まる平面である。
基準軸Aは,ディスク基準面Pに垂直で中心孔の中心を通る軸である。
ディスク基準面Rは,ディスク基準面Pに平行な平面である。ディスク基準面Rは,ディスク基準面P
よりもディスクの内側にe4の距離とし(図9及び図10参照),次による。
e4=(100±25) μm
ディスク基準面Rは,L0層の半径raと半径rbとの間の平均位置で記録層L0(記録層L0は,3層ディス
クの最も奥の記録層である。)と交差し,次による。
ra=23 mm
rb=24 mm
図9−ディスク寸法の詳細

――――― [JIS X 6233 pdf 28] ―――――

                                                                                             23
X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
図10−ディスク基準面P及びR並びに記録層L0の詳細

10.3 全体寸法

  ディスクの外径はd1とし(図8参照),次による。
d1=(120.0±0.3) m
中心孔の直径はd2とし(図8参照),次による。
.010
d2= 15.00 mm
.000
読取面側の中心孔のエッジに,ばりがあってはならない。
読取面側の中心孔のエッジは,ディスクの中心位置決めの基準であり,丸めるか面取りをする。丸めの
半径はreとし,次による。
最大re=0.1 mm
面取りの高さは,第1遷移領域の下面よりも上に最大0.1 mmとする。丸め又は面取りの高さは,ディ
スク基準面Pからh1とし(詳細は図9参照),次による。
最大h1=0.25 mm
ディスクの最大厚さは,ディスク入射面から突き出す最も高い構造物とディスクの上面から突き出す最
も高い構造物との間の基準軸Aの方向の距離で規定する。
カバー層,保護コート及びレーベル印刷を含むディスクの最大厚さは,ディスクのいずれの半径位置で
もe1(図9参照)とし,次による。
e1=1.40 mm
ディスクの情報領域の最小厚さはe2とし,次による。
e2=0.90 mm
クランプゾーンの外側でディスクの上面はディスク基準面Qよりも内側にh2入ってもよいとし,次によ
る。
最大h2=0.4 mm
クランプゾーンの外側でディスクの上面はディスク基準面Qよりも外側にh3出てもよいとし(図9参照),
次による。
最大h3=0.1 mm

10.4 第1遷移領域

  クランプゾーンの内側(dれh5,h4内側に入ってもよいとし,次による。
最大h5=0.20 mm
最大h4=0.12 mm

――――― [JIS X 6233 pdf 29] ―――――

24
X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
このディスク表面はディスク基準面P及びQの外側にそれぞれh7,h6平たんでない部分及びばりがあっ
てもよいとし,次による(図8及び図9参照)。
最大h7=0.05 mm
最大h6=0.05 mm

10.5 保護リング

  ディスクの内側の領域に任意に設けるリング状の突出部は,ディスクを置く表面及びディスクが置かれ
る表面が全面で接触するのを防ぐことができる。そのようなリングを設けることによって,ディスクの読
取面がきず付くのを減らすことができる。
保護リングを設ける場合,その位置は直径d3と直径d5との間とし,次による。
d3=17.5 mm
d5=21.0 mm
d3と直径d4との間で保護リングの高さはクランプ表面の上にh8とし,次による。
d4=20.5 mm
最大h8=0.12 mm
d4とd5との間で保護リングの高さは,緩やかに周辺の表面の高さまで減少する(図9参照)。

10.6 クランプゾーン

  ディスククランプゾーンの内径はd6とし,次による。
d6≦23.0 mm
ディスククランプゾーンの外径はd7(図8参照)とし,次による。
d7≧33.0 mm
ディスククランプゾーン内のディスク厚さはe3(図9参照)とし,次による。
.010
e3= .120 mm
.0 05
ディスククランプゾーン内(d6 ディスククランプゾーン内(d6

10.7 第2遷移領域

  第2遷移領域は,クランプゾーンと情報領域との間でd7  この領域でディスクの読取側の表面はディスク基準面Pよりもh9内側に入ってもよく,次による。
最大h9=0.12 mm
この表面は,情報領域の入射面に対してh10外側に出てもよく(図9参照),次による。
最大h10=0.01 mm
この領域でディスクの上面はディスク基準面Qよりもh11外側に出てもよく,次による。
最大h11=0.2 mm
h16は,この領域のディスク上面から情報領域上面への段差である。l1は,傾斜部の開始半径と終了半径
との間の距離である。h16が0.2 mmよりも大きい場合は,図9に示すとおり,情報領域上面への下降の傾
斜はなだらかとし,かつ,l1は,次による。
l1>1.8 mm
第2遷移領域から情報領域の上面へ下がる段差がある場合は,その段差は,直径d8以内でなくなるとし,
次による。
d8=40.0 mm

10.8 情報領域

――――― [JIS X 6233 pdf 30] ―――――

次のページ PDF 31

JIS X 6233:2017の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 30193:2016(IDT)

JIS X 6233:2017の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 6233:2017の関連規格と引用規格一覧