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X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
10.8.1 一般
情報領域は直径d9直径d10とし(図9及び図11参照),次による。
d9=42 mm
d10=117 mm
各記録層上で,データ領域は,内径dDZIと外径dDZOとの間とする。全ての記録層のデータ領域は,同じ
記録容量をもつ。
記録層Lnの内径dDZIはdDZIn,記録層Lnの外径dDZOはdDZOnとし,次による。
0.0
dDZIn= 480. mm
2.0
dDZOn≦116.2 mm
d9とdDZIとの間の領域を内側ゾーンと呼び,dDZOとd10との間の領域を外側ゾーンと呼ぶ(図11参照)。
情報領域のディスクの全体厚さは,10.3に規定したとおりである。
図11−情報領域の区分
10.8.2 3層ディスクの情報ゾーンの区分
情報領域は,三つの記録層に分かれた情報ゾーンを記録するために使用される。
情報ゾーンは,次の主部分に区分される(図12参照)。
− 記録層L0
− リードインゾーン(内側ゾーン0の部分)
− データゾーン0
− 外側ゾーン0
− 記録層L1
− 外側ゾーン1
− データゾーン1
− 内側ゾーン1
− 記録層L2
− 内側ゾーン2
− データゾーン2
− リードアウトゾーン(外側ゾーン2)
L0層のらせんグルーブは,ディスクの内側から外側に向かって進む。
――――― [JIS X 6233 pdf 31] ―――――
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X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
L1層のらせんグルーブは,ディスクの外側から内側に向かって進む。
L2層のらせんグルーブは,ディスクの内側から外側に向かって進む。
基板
記録層L0 リードインゾーン データゾーン0
データゾン0 外側ゾーン0
スペーサ層 らせん方向
記録層L1 内側ゾーン1 データゾーン1
データゾーン1 外側ゾーン1
スペーサ層 らせん方向
記録層L2 内側ゾーン2 データゾーン2
データゾーン2
データゾーン リードアウトゾーン
らせん方向
カバー層
ディスク内周 ディスク外周
光ビーム
図12−3層ディスクの情報領域の細分
リードインゾーンは直径44.0 mmと44.4 mmとの間の領域で始まり,データゾーン0の先頭の直径dDZI0
で終了する。
外側ゾーン0はデータゾーン0の最後の直径dDZO0で始まり,最小で直径117 mmで終了する。
外側ゾーン1は最小で直径117 mmで始まり,データゾーン1の始まりの直径dDZO1で終了する。
内側ゾーン1はデータゾーン1の最後の直径dDZI1で始まり,データゾーン1の始まりの直径dDZO1で終
了する。
内側ゾーン2は直径44.0 mmと直径44.4 mmとの間の領域で始まり,データゾーン2の始まりの直径dDZI2
で終了する。
リードアウトゾーンはデータゾーン2の終わりの直径dDZO2で始まり,最小で直径117 mmで終了する。
10.9 リム領域
リム領域は,情報領域の外の領域でd10で始まりディスクの外径まで広がっている(図8参照)。
リム領域の最初の0.5 mmでは読取面側のディスク表面は,情報領域の入射面よりも外側に出てはなら
ない。
残りのリム領域で読取面側のディスク表面は,情報領域の入射面よりもh13を超えて外側に出てはなら
ないとし,次による。
最大h13=0.05 mm
リム領域で読取面側のディスク表面は情報領域の入射面よりもh14内側に入ってもよいとし(図9参照),
次による。
最大h14=0.12 mm
リム領域でディスクの上面は情報領域の上面よりもh15を超えて外側に出てはならないとし(図9参照),
次による。
最大h15=0.05 mm
――――― [JIS X 6233 pdf 32] ―――――
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X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
11 機械的特性
11.1 質量
ディスクの質量mは,次による。
12 g≦m≦17 g
11.2 慣性モーメント
ディスクの慣性モーメントは,0.032 gm2以下とする。
11.3 ダイナミックインバランス
ディスクのダイナミックインバランスは,2.5 gmm以下とする。
11.4 軸方向の振れ量
11.4.1 一般
軸方向のトラッキング基準サーボをもつ光学システムで,記録速度の半分の速度で回転して測定する場
合(全ての容量で),各記録層とディスク基準面R(図9及び図10参照)との間の基準軸Aの方向の距離
は,ディスク全体でh12とし,次による。
最大h12=0.3 mm
1トラック内(1回転内)で,ディスク基準軸Aの方向の各記録層の平均位置からの偏移は,最大0.1 mm
とする。
基準サーボの積分機能のために(9.10参照)この成分は十分に抑制され,11.4.1及び11.4.2に規定する
残留トラッキングエラーは,主として局所外乱に起因している。
11.4.2 軸方向残留トラッキングエラー
9.10.2で規定した軸方向のトラッキング基準サーボを使って3層ディスクの任意の層を1×Vref(基準速
度)3.688 m/sで回転させ,(0.70±0.10) Wの読取りパワーで測定した場合,1.6 kHz(=fx,9.10.2参照)
より低い周波数での各記録層の軸方向の残留トラッキングエラーは最大45 nmとする(光ビームの焦点が
記録層の上に来るように動かすために対物レンズの移動が必要である。)。1×Vrefでの読取耐久性の劣化を
避けるために,残留エラーを短時間で測定することが望ましい。
ほこり,きずなどの局所欠陥による軸方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。
測定フィルタは,次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB=1.6 kHz,傾斜−60 dB/decade
これは,1.6 kHz未満の周波数で基準軸A方向の記録層の局所加速度の最大値は6.0 m/s2を超えないこと
を意味する。
軸方向のトラッキング基準サーボを使い,20 msの積分時間で測定した1.6 kHz10 kHzの周波数帯域で
の残留エラー信号のノイズ実効値は最大32 nmとする。測定フィルタは,次の特性をもつバターワース帯
域通過フィルタとする。
f−3dB=1.6 kHz,傾斜+60 dB/decadeから,f−3dB=10 kHz,傾斜−60 dB/decadeまで
11.5 半径方向の振れ量
11.5.1 一般
ディスクの外周エッジの振れ量は,最大0.3 mm ppとする。
各記録層のトラックの半径方向の振れ量(偏芯及び真円からのずれを含む。)は,ディスクを記録速度の
半分の速度で回転させ半径方向トラッキング基準サーボをもつ光学システムで測定する。
半径方向の振れ量は,最大75 μm ppとする。
基準サーボの積分機能のために(9.11参照)この回転成分は十分に抑圧され,11.5.2に規定する残留ト
――――― [JIS X 6233 pdf 33] ―――――
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X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
ラッキングエラーは,主として局所外乱に起因している。
残留トラッキングエラーは,図4に示す半径方向のPP読取りチャネル(I1−I2)信号を測定及び半径方
向の制御用の両方に供給することによって判定する。
11.5.2 半径方向の残留トラッキングエラー
9.11.2で規定した半径方向のトラッキング基準サーボを使って,3層ディスクの任意の層を1×Vrefの
3.688 m/sで回転させ(0.70±0.10) Wの読取りパワーで測定した場合,1.8 kHz(=fx,9.11.2参照)より低
い周波数での各記録層の半径方向の残留トラッキングエラーは最大13 nmとする。1×Vrefでの読取耐久性
の劣化を避けるために,残留エラーを短時間で測定することが望ましい。
ほこり,きずなどの局所欠陥による半径方向の残留トラッキングエラーのスパイクは除く。
測定フィルタは,次の特性をもつバターワース低域通過フィルタとする。
f−3dB=1.8 kHz,傾斜−60 dB/decade
これは,1.8 kHz未満の周波数で半径方向の記録層の局所加速度の最大値は2.2 m/s2を超えないことを意
味している。
半径方向のトラッキング基準サーボを使い,20 msの積分時間で測定した1.8 kHz10 kHzの周波数帯域
での残留エラー信号のノイズ実効値は最大9.2 nmとする。測定フィルタは,次の特性をもつバターワース
帯域通過フィルタとする。
f−3dB=1.8 kHz,傾斜+60 dB/decadeから,f−3dB=10 kHz,傾斜−60 dB/decadeまで
11.6 カバー層の耐久性
11.6.1 カバー層の衝突耐久性
ディスクの読取面に対物レンズが衝突する場合に,過度にディスクが損傷するのを防ぐために,ディス
ク表面は最低限の衝突耐久性をもつことが望ましい。この衝突耐久性は,附属書Lに規定する測定方法で
測定できる。
11.6.2 カバー層のきず耐久性
過度にきずが付かないように,ディスク表面は最低限の硬さをもつ。きず耐久性は,附属書Cに規定す
る測定方法で測定する。
11.6.3 カバー層による指紋はつ(撥)油性
過度の汚れを防ぐため,ディスク表面はできるだけ汚れをはじくことが望ましい。汚れのはじき具合は,
附属書Dに規定する測定方法で測定する。
12 情報領域の光学的特性
12.1 一般
ディスクの情報領域内で,次の要求事項を満たす。
これらの透過積層(TS)の規格は,記録層の上の全ての関連する層(例えば,積層膜の場合は接着層,
TS0の場合はスペーサ層及び全てのLn層の半透明記録層,カバー層及び保護コート付きの場合保護コー
ト層など。)を含んでいる。
12.2 透過積層(TS)の屈折率
TS全体を形成する層が異なる屈折率をもっている場合は,附属書Aに規定した方法に従う。ディスク
のカバー層及びスペーサ層の屈折率nは,次による。
1.45≦n≦1.70
12.3 透過積層(TS)の厚さ
――――― [JIS X 6233 pdf 34] ―――――
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X 6233 : 2017 (ISO/IEC 30193 : 2016)
半径raと半径rbとの間の平均厚さは,関連するディスクの透過積層(TS0,TS1又はTS2)の基準厚さ
という(10.2及び図10参照)。
ディスク全面で測定したTS0,TS1及びTS2の厚さは,次の八つの要求事項を満たす。
要求事項a) c)に関連して図13では,曲線は,等価な球面収差となる厚さを示す。屈折率1.60に対す
る任意の屈折率nの厚さの比は,近似関数g(n)で表される。
g(n)=−1.111 1×n3+5.814 3×n2−9.880 8×n+6.476 0
図14は,実際の厚さを要求事項f)の有効厚さに変換する係数を示す。実際の厚さは,その物理的な値を
意味する。有効厚さは,屈折率を1.60と仮定した場合の仮想的な値を意味する。
任意の屈折率の実際の厚さは,標準の屈折率1.60の有効厚さに変換される。実際の厚さ及び有効厚さの
デフォーカスの値は,同じである。この細分箇条では,デフォーカスは,各々の厚さ及び屈折率をもった
透明な材料を光が透過する場合のフォーカス位置の動きと規定する。
係数の関数f(n)は,tan(θr)/tan(θ0)に等しい。ここに,θ0及びθrは,各々屈折率が1.60の場合及び任意の
屈折率nの場合の透過積層中の収束角度である。関数f(n)は,近似的に次の式で表される。
f(n)=−1.088 0×n3+6.102 7×n2−12.042×n+9.100 7
a) 屈折率で決まるTS0(L0層の上の全ての層)の厚さは,図13の最上部の網掛け領域内とする[屈折
率がnの場合の厚さは94.0×g(n) μm106.0×g(n) μmとし,図中太い破線は公称厚さを屈折率の関数
として示す。]。
b) 屈折率で決まるTS1(L1層の上の全ての層)の厚さは,図13の中央の網掛け領域内とする[屈折率
がnの場合の厚さは69.0×g(n) μm81.0×g(n) μmとし,図中太い破線は公称厚さを屈折率の関数とし
て示す。]。
c) 屈折率で決まるTS2(L2層の上の全ての層)の厚さは,図13の最下部の網掛け領域内とする[屈折
率がnの場合の厚さは52.0×g(n) μm62.0×g(n) μmとし,図中太い破線は公称厚さを屈折率の関数と
して示す。]。
d) 0層及びL1層に挟まれたスペーサ層1の厚さS1は,20.0 μm30.0 μmとする。
e) 1層及びL2層に挟まれたスペーサ層2の厚さS2は,13.0 μm23.0 μmとする。
f) 厚さの差は,次の要求事項を満たす。
C−(S1+S2)≧1.0 μm
S1−S2≧1.0 μm
C,S1,S2は,実際の厚さに図14に示す係数f(n)を乗じて有効厚さに変換する。
ここに, TS2の厚さ : カバー層の厚さ(C)に等しい
n : 屈折率
g) S0及びTS1の厚さの各々の基準厚さからの偏差ΔDの最大値は,次による。
│ΔD│≦2.5 μm
h) S2の厚さの基準厚さからの偏差ΔDの最大値は,次による。
│ΔD│≦2.0 μm
12.4 3層ディスクのスペーサ層の目標厚さの例
ディスクの量産では,厚さの簡単な目標値が使いやすい。
次の三つの要求事項を満たすことが推奨されるが,その場合には12.3のa) f)の要求事項は,屈折率1.60
に対して常に満たされる。
a) スペーサ層1の厚さS1は,(25.0±2.0) μmを満たすことが望ましい。
――――― [JIS X 6233 pdf 35] ―――――
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JIS X 6233:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO/IEC 30193:2016(IDT)
JIS X 6233:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS X 6233:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC60068-2-2:2010
- 環境試験方法―電気・電子―第2-2部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)
- JISC60068-2-30:2011
- 環境試験方法―電気・電子―第2-30部:温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号:Db)
- JISC6950-1:2016
- 情報技術機器―安全性―第1部:一般要求事項
- JISK7204:1999
- プラスチック―摩耗輪による摩耗試験方法
- JISX0201:1997
- 7ビット及び8ビットの情報交換用符号化文字集合