この規格ページの目次
JIS X 7779:2012 規格概要
この規格 X7779は、情報技術装置から放射される騒音の測定及び報告に関する手順を規定。
JISX7779 規格全文情報
- 規格番号
- JIS X7779
- 規格名称
- 音響―情報技術装置から放射される空気伝搬騒音の測定
- 規格名称英語訳
- Acoustics -- Measurement of airborne noise emitted by information technology and telecommunications equipment
- 制定年月日
- 2001年4月20日
- 最新改正日
- 2016年10月20日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- ISO 7779:2010(IDT)
- 国際規格分類
ICS
- 17.140.20, 35.020
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 環境測定 I-1 2021, 環境測定 I-2 2021, 環境測定 II 2021
- 改訂:履歴
- 2001-04-20 制定日, 2008-10-01 確認日, 2012-02-20 改正日, 2016-10-20 確認
- ページ
- JIS X 7779:2012 PDF [66]
X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1 適用範囲・・・・[1]
- 2 引用規格・・・・[3]
- 3 用語及び定義・・・・[4]
- 4 適合条件・・・・[8]
- 5 設置及び作動条件・・・・[8]
- 5.1 機器の設置・・・・[8]
- 5.2 入力電圧及び周波数・・・・[10]
- 5.3 機器の作動・・・・[10]
- 6 残響試験室における機器の音響パワーレベル算出方法・・・・[11]
- 6.1 一般事項・・・・[11]
- 6.2 測定の不確かさ・・・・[11]
- 6.3 試験環境・・・・[12]
- 6.4 測定器・・・・[12]
- 6.5 機器の設置及び作動-一般事項・・・・[13]
- 6.6 マイクロホンの位置及び音源の配置・・・・[13]
- 6.7 音圧レベルの測定・・・・[13]
- 6.8 基準音源の音圧レベルの測定・・・・[14]
- 6.9 空間・時間平均バンド音圧レベルの計算・・・・[14]
- 6.10 音響パワーレベルの算出・・・・[14]
- 7 反射面上の準自由音場における機器の音響パワーレベル算出方法・・・・[17]
- 7.1 一般事項・・・・[17]
- 7.2 測定の不確かさ・・・・[17]
- 7.3 試験環境・・・・[17]
- 7.4 測定器・・・・[18]
- 7.5 機器の設置及び作動-一般事項・・・・[19]
- 7.6 測定表面及びマイクロホンの位置・・・・[19]
- 7.7 音圧レベルの測定・・・・[20]
- 7.8 表面音圧レベルの計算・・・・[20]
- 7.9 音響パワーレベルの算出・・・・[21]
- 8 オペレータ位置及びバイスタンダ位置における放射音圧レベル算出方法・・・・[22]
- 8.1 一般事項・・・・[22]
- 8.2 測定の不確かさ・・・・[22]
- 8.3 試験環境・・・・[23]
- 8.4 測定器・・・・[23]
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS X 7779 pdf 1] ―――――
X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
pdf 目次
ページ
- 8.5 機器の設置及び作動・・・・[23]
- 8.6 マイクロホンの位置・・・・[24]
- 8.7 音圧レベルの測定・・・・[26]
- 8.8 放射音圧レベルの算出・・・・[26]
- 9 記録事項及び報告事項・・・・[28]
- 9.1 記録事項・・・・[28]
- 9.2 試験報告書・・・・[31]
- 附属書A(規定)試験用アクセサリ・・・・[33]
- 附属書B(規定)測定表面・・・・[36]
- 附属書C(規定)特定カテゴリの機器のための設置条件及び作動条件・・・・[41]
- 附属書D(参考)顕著な離散周波数音の特定及び評価・・・・[42]
- 附属書E(参考)衝撃性の騒音の検出・・・・[60]
- 参考文献・・・・[62]
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS X 7779 pdf 2] ―――――
X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
まえがき
この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人ビジネス
機械・情報システム産業協会(JBMIA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して
日本工業規格(日本産業規格)を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した
日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS X 7779:2001は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
(pdf 一覧ページ番号 3)
――――― [JIS X 7779 pdf 3] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
X 7779 : 2012
(ISO 7779 : 2010)
音響−情報技術装置から放射される空気伝搬騒音の測定
Acoustics−Measurement of airborne noise emitted by information technology and telecommunications equipment
序文
この規格は,2010年8月15日に第3版として発行されたISO 7779を基に,技術的内容及び対応国際規
格の構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
この規格は,情報技術装置から放射される空気伝搬騒音を測定するための複数の方法を規定している。
従来,個々の製造業者又はユーザーによって,特定の機器又は利用形態での諸要求を満足するために,多
種多様の方法が適用されてきた。多くの場合,そのようなばらばらの方法では,機器から放射される騒音
の比較は困難なものであった。この規格によって,そのような比較が容易に行えるようになり,また,情
報技術装置の騒音放射レベルの表示(declaration)に関する基礎ができる。
精度を確保し,妥当性があり,かつ,広く一般に受け入れられるものとするため,この規格では,音響
パワーレベルの算出並びにオペレータ位置及びバイスタンダ位置(測定対象の機器を操作はしないが,そ
の騒音の影響を受ける人がいると想定される位置)における放射音圧レベルの算出に関し,複数の通則規
格に基づいている。さらに,通則規格に適合することによって,その目的を容易に達成できるようになる。
多くの場合,反射面上の自由音場条件は半無響室によって実現される。半無響室は,個々の騒音源の探
査・改善を行うなど,製品設計時点において特に有効であろう。残響試験室は,生産管理,騒音放射表示
目的でA特性音響パワーレベルデータを収集する場合,より経済的であろう。
放射音圧レベルは,発生する騒音を表示するための情報としては,主たるものとは考えられていないた
め,(ISO 11201に基づく)オペレータ位置又はバイスタンダ位置における放射音圧レベルの測定方法は,
(音響パワーレベルの算出方法とは別の)独立した箇条として規定されている。しかし,その測定は,反
射面上の自由音場における音響パワー算出と一緒に行うことができる。
同種の機器を比較するには,設置条件及び作動モードを同じにすることが不可欠である。附属書Cでは,
多くのカテゴリの機器に対し,ECMA-74最新版の附属書Cを引用することにより,これらのパラメータ
を標準化している。
この規格の基になったISO 7779は,ECMA-74に基づいている。
1 適用範囲
この規格は,情報技術装置から放射される騒音の測定及び報告に関する手順を規定する。
注記1 この規格は,この種の機器専用の騒音試験規程(3.1.2参照)であり,騒音放射通則規格(3.1.1
参照)であるISO 3741,ISO 3744,ISO 3745及びISO 11201に基づいている。
――――― [JIS X 7779 pdf 4] ―――――
2
X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
発生する騒音を記述する最も重要なものは,A特性音響パワーレベルである。A特性音響パワーレベル
を用いると,異なる製造業者によって作られた同種の機器を比較したり,異なる機器間であっても比較が
可能となる。
この規格では,既存の試験設備及び過去の経験に対して無用な制限を加えないようにするため,音響パ
ワーレベルを算出するために三つの騒音放射通則規格(以下,通則という。)を引用する。ISO 3741によ
って残響試験室における比較測定を規定し,ISO 3744及びISO 3745によって反射面上の準自由音場にお
ける測定を規定する。これらの三つの通則のいずれを選択してもよいが,ある1台の機械について音響パ
ワーレベルを算出する場合,選択したその通則だけをこの規格に従い用いる。
A特性音響パワーレベルは,オペレータ位置又はバイスタンダ位置において算出したA特性放射音圧レ
ベルによって補完される。このA特性放射音圧レベルの測定方法は,ISO 11201に基づいて規定されてい
る。この場合の音圧レベルとは,作業者の騒音アイミッション1) 評価レベル(a worker's immission rating
level)を表すものではないが,うるささ・やかましさ(annoyance),作業効率の低下,オペレータ及びバ
イスタンダの聴力障害の原因となり得る潜在的な問題を特定する一助となることがある。
注1) “放射(emission)”が一台の機器から発生する騒音を表す物理量であるのに対し,“アイミッシ
ョン(immission)”は,騒音にさらされる人の耳の位置に到来する全ての騒音を記述するもので
あって,騒音源は一般に一つとは限らず,実際に発生する騒音だけでなく,その騒音にさらさ
れる時間にも依存する。さらに,その騒音にさらされる時間の長さなどに応じて,“暴露
(exposure)”という概念もある[詳細は参考文献 [28] を参照]。この規格では騒音放射だけを
扱っている。
騒音放射中の顕著な離散周波数音の有無及び騒音の衝撃性を判定する方法を,附属書D及び附属書Eに
それぞれ示す。
この規格は,型式試験(type test)に適しており,製造業者及び試験所(すなわち,異なる場所)におい
て比較可能な結果が得られるように種々の方法を規定する。
この規格に規定する方法を用いることによって,個々に試験されるファンクショナルユニット(3.1.4参
照)の騒音放射レベル(noise emission level)が算出可能となる。
この規格の手順は,広帯域騒音,狭帯域騒音及び離散周波数成分を含む騒音,又は衝撃性の騒音を放射
する機器に適用することができる。
得られた音響パワーレベル及び放射音圧レベルは,騒音放射に関する表示及び比較に役立つ(JIS X 7778
参照)。
注記2 これらのレベルは,設置場所における騒音アイミッションレベルのことではないが,設置場
所の騒音レベルの予測に用いることができる[ECMA TR/27 [4] 参照]。
同じロット内の複数のファンクショナルユニットに対し音響パワーレベルを求めると,そのロットの統
計値を算出できる(JIS X 7778参照)。
注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
ISO 7779:2010,Acoustics−Measurement of airborne noise emitted by information technology and
telecommunications equipment (IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
ことを示す。
――――― [JIS X 7779 pdf 5] ―――――
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JIS X 7779:2012の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 7779:2010(IDT)
JIS X 7779:2012の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.020 : 情報技術(IT)一般
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.140 : 音響及び音響測定 > 17.140.20 : 機械及び設備による騒音の発生
JIS X 7779:2012の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1509-1:2017
- 電気音響―サウンドレベルメータ(騒音計)―第1部:仕様
- JISC1514:2002
- オクターブ及び1/Nオクターブバンドフィルタ
- JISC1515:2020
- 電気音響―音響校正器
- JISX7778:2001
- 音響―情報技術装置の表示騒音放射値
- JISZ8739:2001
- 音響―音響パワーレベル算出に使用される基準音源の性能及び校正に対する要求事項
- JISZ8739:2021
- 音響―音響パワーレベルの測定に使用する基準音源の性能及び校正に関する要求事項