58
X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
X
L
単位 Pa2
単位 dB
f2,L f1,U
f1,M ft f2,M
f1,L f2,U
f 単位 Hz
X 平均二乗音圧
L 音圧レベル(基準値20 Pa)
f 周波数(FFT分解能1.0 Hz)
中央臨界帯域
ft 分析対象離散周波数音の周波数 1 600 Hz
f1,M 中央臨界帯域の下端周波数 1 485 Hz
f2,M 中央臨界帯域の上端周波数 1 724 Hz
LM 中央臨界帯域の音圧レベル 62.6 dB
XM 中央臨界帯域の平均二乗音圧 7.31 × 104 Pa2
上側臨界帯域
f1,U 上側臨界帯域の下端周波数 1 724 Hz
f2,U 上側臨界帯域の上端周波数 2 002 Hz
LU 上側臨界帯域の音圧レベル 50.0 dB
XU 上側臨界帯域の平均二乗音圧 4.03 × 105 Pa2
下側臨界帯域
f1,L 下側臨界帯域の下端周波数 1 276 Hz
f2,L 下側臨界帯域の上端周波数 1 485 Hz
LL 下側臨界帯域の音圧レベル 51.0 dB
XL 下側臨界帯域の平均二乗音圧 5.07 × 105 Pa2
顕著な離散周波数音
PR(prominence ratio) 12.1 dB
図D.4−顕著な離散周波数音を特定するためのPR法の図
――――― [JIS X 7779 pdf 61] ―――――
59
X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
D.11 顕著な離散周波数音に関する記録事項
この附属書に従って顕著と特定されたそれぞれの離散周波数音に対し,次の事項を記録する。
a) 離散周波数音の周波数ft (Hz)
b) この規格への引用を付けた上で,離散周波数音を評価するために使用した方法の詳細(D.9 TNR法
又はD.10 PR法を参照)
c) NR法が使われた場合,TNR( dB)又は
PR法が使われた場合,PR( dB)
d) 分析対象の放射騒音中に顕著な離散周波数音が複数含まれていることが分かった場合,個々の離散周
波数音の周波数と,その は
注記 低騒音の機器の場合には特に,顕著な離散周波数音のA特性音圧レベルを記録しておくと役に
立つことがある。
単位 dB
一 愀攀
1
2
一 愀攀
89.1 150 250 500 1 000 2 500 5 000 11 220
f 単位 Hz
1 PR(prominence ratio)の規準曲線
2 TNR(tone-to-noise ratio)の規準曲線
f 周波数
PR(prominence ratio)
TNR(tone-to-noise ratio)
離散周波数音の は 牟 陦 線を超えたとき,顕著な離散周波数音となる。
図D.5−周波数の関数として表した,TNR(D.9.5)及びPR(D.10.6)に対する規準曲線
――――― [JIS X 7779 pdf 62] ―――――
60
X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
附属書E
(参考)
衝撃性の騒音の検出
E.1 一般事項
この附属書では,発生する騒音が衝撃性かどうか,すなわち,作用時間が短く,かつ,振幅が比較的高
いものかどうかを見極めるための客観試験方法を提供する。
この方法は主として,オペレータの介在を必要とする機器から放射される非定常な騒音に適用される。
注記 この方法はISO 11201:1995 [23],附属書Aの第1段落に基づいているが,この規格の他の部分と
の関係から変更を加えてある。
E.2 附属書の位置づけ
この附属書は参考ではあるが,この手順が他の規格又は試験規定によって規定要素として引用された場
合に満足しなければならない要件を含んでいる。そのような要件は,一般に,“しなければならない(原
文においてはshall)”のような命令調の言葉を用いることで識別される。
E.3 測定器
測定器は8.4の要件を満たさなければならない。サウンドレベルメータには,JIS C 1509-1:2005の附属
書Cに規定する時間重み付け特性Iが備わっていなければならない。
歴史的な理由から,時間重み付け特性Iが,この附属書内で使われている。時間重み付け特性Iの適用
に関しては,JIS C 1509-1:2005のC.1.1において次のように記述している。
“多くの研究は,時間重み付け特性Iは,衝撃性騒音のラウドネスの評価に適さないとの結論を出してい
る。また,聴力障害を起こす危険性の評価及び音の“衝撃性(impulsiveness)”の判定にも適さない。誤っ
た結果を得る可能性があるので,これらの目的に時間重み付け特性Iを用いることは勧められない”。
E.4 マイクロホンの位置
オペレータ位置のある機器の場合,そのオペレータ位置において測定しなければならない。オペレータ
位置が複数ある場合,最も高いA特性音圧レベルとなるオペレータ位置において,次の測定を行う。
オペレータ位置が定義されていない機器の場合,最も高いA特性音圧レベルとなるバイスタンダ位置及
びその位置におけるA特性音圧レベルの0.5 dB以内となるバイスタンダ位置において測定を行い,次に定
義する騒音の衝撃性に関する指標 侮地 瀰
卓上機器内部に設置されるように設計されたサブアセンブリは,高さ約12 mmの数本の弾性のある足を
介して標準試験卓の上面の中央に設置する。他のエンクロージャ又はラック内部に設置されるサブアセン
ブリは,5.1.7に従い設置しなければならない。オペレータ位置の定義された機器の内部に設置されるサブ
アセンブリに対しては,そのオペレータ位置を用いるものとし,それ以外の場合は,最も高いA特性音圧
レベルとなるバイスタンダ位置を用いる。
E.5 測定手順
前述のマイクロホンの位置において,試験対象機器から放射される騒音を難聴ではない者が試聴しなけ
――――― [JIS X 7779 pdf 63] ―――――
61
X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
ればならない。その発生している騒音に衝撃性の音を含むような場合,次の試験を実行しなければならな
い。
8.7の測定で使われるものと同じ作動モード,測定条件,測定時間及び時間平均方法を用いて,A特性時
間平均インパルス音圧レベル(LpAI)及びA特性時間平均音圧レベル(LpA)を測定しなければならない。
A特性時間平均インパルス音圧レベル(LpAI)とA特性時間平均音圧レベル(LpA)とのデシベル差を求め
る。その差(LpAI LpA)を騒音の衝撃性に関する指標( とする。 攀 湘 ,その
撃性と考えられる。
A特性時間平均インパルス音圧レベル(LpAI)は,その騒音が衝撃性かどうかを決定するためだけに使
用される。騒音の衝撃性に関する指標( は,定常で,非衝撃性の騒音ではゼロであり,騒音の衝撃性
が増すにつれて数値が増加する。
レベルレコーダを用いてインパルス音圧レベルを記録する場合,インパルスサウンドレベルメータの直
流レベル出力を用いる。レベルレコーダの動特性は,作用時間0.2秒のく(矩)形パルスに対し,フルス
ケールの少なくとも90 %に応答できるものでなければならない。
E.6 衝撃性の騒音に関する試験記録
衝撃性の騒音が特定されなかった場合,その事実を記録しなければならない。衝撃性の騒音が特定され
た場合,試験記録として,その事実とともに,騒音の衝撃性に関する指数( の値を記録しなければな
らない。
――――― [JIS X 7779 pdf 64] ―――――
62
X 7779 : 2012 (ISO 7779 : 2010)
参考文献
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USA, Indianapolis, IN, 2000
[13] Nobile, M.A., Shaw, J.A., Boyes, R.A. The cylindrical microphone array for the measurement of
――――― [JIS X 7779 pdf 65] ―――――
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JIS X 7779:2012の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 7779:2010(IDT)
JIS X 7779:2012の国際規格 ICS 分類一覧
- 35 : 情報技術.事務機械 > 35.020 : 情報技術(IT)一般
- 17 : 度量衡及び測定.物理的現象 > 17.140 : 音響及び音響測定 > 17.140.20 : 機械及び設備による騒音の発生
JIS X 7779:2012の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC1509-1:2017
- 電気音響―サウンドレベルメータ(騒音計)―第1部:仕様
- JISC1514:2002
- オクターブ及び1/Nオクターブバンドフィルタ
- JISC1515:2020
- 電気音響―音響校正器
- JISX7778:2001
- 音響―情報技術装置の表示騒音放射値
- JISZ8739:2001
- 音響―音響パワーレベル算出に使用される基準音源の性能及び校正に対する要求事項
- JISZ8739:2021
- 音響―音響パワーレベルの測定に使用する基準音源の性能及び校正に関する要求事項