JIS Z 2320-1:2017 非破壊試験―磁粉探傷試験―第１部：一般通則 | ページ 6

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Z 2320-1 : 2017
                                                                                      単位 mm
            h 10以上
            D 50,100,200
                             図JA.4−B型対比試験片の形状及び寸法

――――― [JIS Z 2320-1 pdf 26] ―――――

                                                                                                                                          25
                                                                                                                               Z 2320-1 : 2017
                                                                  附属書JB
                                                                   (参考)
                                                     JISと対応国際規格との対比表
     JIS Z 2320-1:2017 非破壊試験−磁粉探傷試験−第1部 : 一般通則        ISO 9934-1:2015,Non-destructive testing−Magnetic particle testing−Part 1: General
                                                                        principles
     (I)   JISの規定                    (II)  (III)国際規格の規定                                                  (V)   JISと国際規格との技術的差
                                                                        (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
                                     国際                               の評価及びその内容                      異の理由及び今後の対策
                                     規格
      箇条番号          内容                箇条           内容         箇条ごと        技術的差異の内容
                                     番号
      及び題名                              番号                        の評価
     1 適用範囲 磁粉探傷試験の一般通       1       JISにほぼ同じ        変更     ISO規格では残留法は適用しない  今後,ISOへ提案を検討する。
                則                                                               としているが,JISでは残留法につ
                                                                                 いても適用している。
     3 用語及び JIS Z 2300を引用。         3       EN 1330-1,-2,-7及び変更     用語を規定したJISを引用し,その実質的な技術的差異はない。
     定義       その他の用語                       ISO 12707を引用               他の用語を規定。
     5 安全上の 有害,可燃性又は揮発       5       JISにほぼ同じ        追加                                    実質的な技術的差異はない。
                                                                                 安全性及び環境上の要求について,
     予防措置   性の材料を使用する場                                             具体的に詳細な内容を追加。
                合の予防措置
     7 前処理   前処理方法                 7       JISにほぼ同じ        追加                                    実質的な技術的差異はない。
                                                                                 前処理範囲,分解脱磁,電極接触面
                                                                                 の処理,油孔などの処置及び乾式用
                                                                                 磁粉の適用の場合の試験体表面の
                                                                                 乾燥の詳細を追加した。
     8 磁化     8.1 一般                   8.1     JISにほぼ同じ        追加     残留法の適用方法を追加。       実質的な技術的差異はない。
                                                                                 磁化方法及び電流値の選定につい 今後,ISOへ提案を検討する。
                                                                                 て具体的な方法を追加。
                8.2 磁化の確認             8.2 d)  JISにほぼ同じ        追加     旧JISにおいて蓄積されていたノ  今後,ISOへ提案を検討する。
                                                                                 ウハウとして,磁化の確認にA型
                                                                                 又はC型標準試験片の使用を追加。
                                                                                                                                              Z2
                8.3.1 一般                 8.3.1   JISにほぼ同じ        追加     試験を実施するときの注意事項に 実質的な技術的差異はない。
                                                                                                                                                 32
                                                                                 ついて,具体的に詳細な内容を追
                                                                                                                                                   0-
                                                                                                                                                    1
                                                                                 加。
                                                                                                                                                      : 2017
                                                                                                                                                  3

――――― [JIS Z 2320-1 pdf 27] ―――――

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    Z 2320-1 : 2017
                                                                                                                                              Z2
                                                                                                                                                  3
     (I)   JISの規定                    (II)  (III)国際規格の規定                                                  (V)   JISと国際規格との技術的差
                                                                        (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
                                                                                                                                                 3
                                     国際                               の評価及びその内容                      異の理由及び今後の対策
                                                                                                                                                  20
                                     規格
                                                                                                                                                    -
                                                                                                                                                    1
      箇条番号          内容                箇条           内容         箇条ごと        技術的差異の内容
                                                                                                                                                      : 2
                                     番号
      及び題名                              番号                        の評価
                                                                                                                                                        01
     8 磁化     8.3.2.1A 直角通電法        −               −          追加     通電法の技法を細分化し,旧JISで実質的な技術的差異はない。
                                                                                                                                                          7
     (続き)                                                                    適用されていた直角通電法を追加。
                図1A                       −               −          追加     旧JISで適用されていた直角通電  実質的な技術的差異はない。
                                                                                 法の図1Aを追加。
     9 検出媒体 9.1 検出媒体の特性及       9.1     JISにほぼ同じ        追加     適切な磁粉の使用及び検出媒体の 実質的な技術的差異はない。
                び選択                                                           濃度範囲について具体的な内容を
                                                                                 追加。
                9.2 検出媒体の性能試       9.2     JISにほぼ同じ        追加                                    実質的な技術的差異はない。
                                                                                 性能試験に使用する試験体に,標準
                験                                                               試験片及び自然きずをもつ試験体
                                                                                 を追加。
                9.3 検出媒体の適用         9.3     JISにほぼ同じ        追加     旧JISにおいて蓄積されていた,残今後,ISOへ提案を検討する。
                                                                                 留法の適用及び湿式法の適用を追
                                                                                 加。
     12 磁粉模  12.2 疑似模様の確認        12      JISにほぼ同じ        追加     旧JISにおいて蓄積されていた,磁実質的な技術的差異はない。
     様の分類,                                                                  粉模様がきずによるものか,又は疑
     記録及びき                                                                  似模様かを判定する方法を具体的
     ずに関する                                                                  に追加。
     情報       12.3 きずによる磁粉模      12      JISにほぼ同じ        追加     旧JISにおいて蓄積されていた,磁実質的な技術的差異はない。
                様の分類                                                         粉模様の分類に連続した磁粉模様
                                                                                 及び分散した磁粉模様を追加。
                12.4 磁粉模様の記録        12      JISにほぼ同じ        追加     旧JISにおいて蓄積されていた,磁実質的な技術的差異はない。
                                                                                 粉模様の記録方法を追加。
     15 試験報  試験報告書                 15      JISにほぼ同じ        追加                                    実質的な技術的差異はない。
                                                                                 分かりやすく,具体的に規定するた
     告書                                                                        め,記載項目の詳細を追加。
     附属書JA   標準試験片及び対比試       −               −          追加     旧JISにおいて蓄積されていた,A 今後,ISOへ提案を検討する。
     (規定)   験片                                                             型又はC型標準試験片及びB型対
                                                                                 比試験片を追加。

――――― [JIS Z 2320-1 pdf 28] ―――――

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                                                                                                                               Z 2320-1 : 2017
     JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : ISO 9934-1:2015,MOD
     注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
            − 追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
            − 変更  国際規格の規定内容を変更している。
     注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
            − MOD  国際規格を修正している。
                                                                                                                                              Z2 320-
                                                                                                                                                    1 : 2017
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