JIS Z 2320-3:2017 非破壊試験―磁粉探傷試験―第３部：装置

                                                                                  Z 2320-3 : 2017

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  2A 用語及び定義・・・・[2]
•  3 安全上の予防措置・・・・[2]
•  4 装置の様式・・・・[2]
•  4.1 可搬形電磁石・・・・[2]
•  4.2 磁化電源・・・・[4]
•  4.3 定置形磁化台・・・・[5]
•  4.4 専用試験システム・・・・[7]
•  5 紫外線照射装置・・・・[8]
•  5.1 一般・・・・[8]
•  5.2 技術的なデータ・・・・[8]
•  5.3 装置の要求仕様・・・・[8]
•  6 検出媒体循環システム・・・・[8]
•  6.1 一般・・・・[8]
•  6.2 技術的なデータ・・・・[8]
•  6.3 装置の要求仕様・・・・[9]
•  7 検査室・・・・[9]
•  7.1 一般・・・・[9]
•  7.2 技術的なデータ・・・・[9]
•  7.3 装置の要求仕様・・・・[9]
•  8 脱磁装置・・・・[9]
•  8.1 一般・・・・[9]
•  8.2 技術的なデータ・・・・[9]
•  8.3 装置の要求仕様・・・・[10]
•  9 測定・・・・[10]
•  9.1 一般・・・・[10]
•  9.2 電流測定・・・・[10]
•  9.3 磁界測定・・・・[10]
•  9.4 観察条件・・・・[11]
•  9.5 機器の検証及び校正・・・・[11]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[12]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS Z 2320-3 pdf 1] ―――――

Z 2320-3 : 2017

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
非破壊検査協会(JSNDI)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規
格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規
格である。これによって,JIS Z 2320-3:2007は改正されこの規格に置き換えられ,また,JIS Z 2321:1993
は廃止され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS Z 2320の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS Z 2320-1 第1部 : 一般通則
    JIS Z 2320-2 第2部 : 検出媒体
    JIS Z 2320-3 第3部 : 装置

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――――― [JIS Z 2320-3 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           Z 2320-3 : 2017

非破壊試験−磁粉探傷試験−第3部 : 装置

Non-destructive testing-Magnetic particle testing-Part 3: Equipment

序文

  この規格は,2015年に第2版として発行されたISO 9934-3を基とし,これまで行われてきた手法にも
適合するように,技術的内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,磁粉探傷試験のための次の3様式の装置について規定する。
a) 可搬形電磁石
b) 定置形磁化台
c) 専用試験システム : 基本的には部品を連続的に検査する特殊な検査システムで,一連の製造ラインの
    中で連続的に行う検査工程台
  この規格は,磁化装置,脱磁装置,照明装置,測定装置及び観察装置についても規定する。
  この規格では,装置供給者によって提供されるべき仕様,用途に適合する最小要求事項及び特定な要素
の測定方法について規定している。測定及び校正に関する要求事項並びに使用中における点検項目も必要
に応じて適宣規定している。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 9934-3:2015,Non-destructive testing−Magnetic particle testing−Part 3: Equipment(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
      注記 対応国際規格 : IEC 60529,Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)(IDT)
    JIS G 3101 一般構造用圧延鋼材
    JIS G 4051 機械構造用炭素鋼鋼材
    JIS Z 2300 非破壊試験用語
    JIS Z 2320-1 非破壊試験−磁粉探傷試験−第1部 : 一般通則
      注記 対応国際規格 : ISO 9934-1,Non-destructive testing−Magnetic particle testing−Part 1: General

――――― [JIS Z 2320-3 pdf 3] ―――――

2
Z 2320-3 : 2017
             principles(MOD)
    JIS Z 2323 非破壊試験−浸透探傷試験及び磁粉探傷試験−観察条件
      注記 対応国際規格 : ISO 3059,Non-destructive testing−Penetrant testing and magnetic particle testing
             −Viewing conditions(IDT)

2A 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 2300による。

3 安全上の予防措置

  安全上の予防措置は,JIS Z 2320-1の箇条5(安全上の予防措置)による。

4 装置の様式

4.1 可搬形電磁石

4.1.1  一般
  可搬形電磁石(交流極間式磁化器又はヨーク式磁化器ともいう。)は,二つの磁極間に磁界を発生させる
           (JIS Z 2320-1の規定に従って試験を行うとき,直流を使用する電磁石は,受渡当事者間で合意した場合に
限って使用する。)。
  磁化の程度は,電磁石の磁極面の中心をつなぐ線の中心点において,試験面に平行な磁界の強さHtを測
定することによって決定する。磁極間隔sの電磁石を図1に示すような鋼板の上に置く。鋼板の寸法は,
(500±25)mm×(250±13)mm×(10±0.5)mmとし,JIS G 4051に規定するS20C若しくはS25C又
はJIS G 3101に規定するSS400に適合した鋼板を用いる。
  定期的な機能点検は,上記の試験面に平行な磁界の強さHtを測定する方法で行うか,又は次に示すリフ
ティングパワーテストによって行ってもよい。
  電磁石は,S20C,S25C又はSS400に適合した鋼板又は長方形の棒を支持できるものとし,適切な磁極
間隔にセットされた状態で,最小4.5 kgの質量を持ち上げられるものとする。鋼板又は棒の主な寸法は,
電磁石の磁極間隔sより大きくなければならない。
    注記 質量4.5 kgの鋼板を持ち上げるには,44 Nのリフティングパワーを必要とする。

――――― [JIS Z 2320-3 pdf 4] ―――――

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                                                                                  Z 2320-3 : 2017
                                                                                      単位 mm
                                                500
                                                  s
                                         MP
          250
                                                      P
              MP : 試験体表面に平行な磁界の強さの測定点
               s : 磁極間隔(内のり寸法)
               P : 磁極
                                  図1−可搬形電磁石の磁界測定
4.1.2  技術的なデータ
  装置提供者が提供するデータとしては,次のような項目があるが,提供内容については,受渡当事者間
で協議し,決定する。
a) 奨励される磁極間隔(最大及び最小の磁極間隔)(smax,smin)及び磁極数
b) 磁極の断面寸法
c) 電源(電圧,電流及び周波数)
d) 絶縁抵抗及び耐電圧
e) 電流波形
f)  電流制御の方法及び波形による影響(例 サイリスタ)
g) 最大出力時の最大使用率(全時間に対する電流“ON”の時間の比率をパーセントで表す。)
h) 最大電流時の最大通電時間
i)  smax及びsminにおける試験体表面に平行な磁界の強さHt
j)  装置の全長
k) 装置の総質量(kg)
l)  規定の電気保護等級(IP)。JIS C 0920の規定による。
m) 全磁束は,図1に示す鋼板に巻いたコイルに接続した交流磁束計によって求める,又はコイルの端子
    電圧を測定し,磁束を計算によって求める。
4.1.3  装置の要求仕様
  可搬形電磁石は,周囲温度25 ℃±5 ℃において,次の仕様を満たさなければならない。
a) 使用率≧10 %

――――― [JIS Z 2320-3 pdf 5] ―――――

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