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Z 2320-3 : 2017
b) 通電時間≧5秒
c) にぎり部の表面温度≦40 ℃
d) maxにおける試験体表面に平行な磁界の強さ≧2 000 A/m(実効値)
e) リフティングパワー≧44 N
f) 絶縁抵抗は500 V絶縁抵抗計で2 MΩ以上
4.1.4 追加要求事項
電磁石には,にぎり部に,電源のON/OFFスイッチを取り付ける。
注記 一般に,電磁石は,片手で使用できることが望ましい。
4.2 磁化電源
4.2.1 一般
磁化装置に電流を供給するために使用する電源は,無負荷電圧Uo,短絡電流Ik及び定格電流Ir(実効値)
によって表す。
定格電流Irは,特に指定のない限り,電源の使用率10 %で,通電時間5秒と定められた場合の最大電流
とする。
無負荷電圧Uo及び短絡電流Ikは,フィード・バック制御を外した状態で,電源の負荷特性から求める。
電源の負荷特性は,電源に二つの異なる長さの負荷ケーブルを順次接続することによって求める。最初に
一つの負荷ケーブルを用いて,ケーブルに流れる電流I1と出力端子間電圧U1とによって,図2の点P1を
求める。次にもう一つの負荷ケーブルを用いて,点P2を求める。特性は,P1及びP2の2点を結ぶ直線を
引くことによって作図し,その負荷特性と両軸との交点(図2参照)を無負荷電圧Uo及び短絡電流Ikと
して表す。
(電圧)
U
Uo
U0
U1 P1
U2 P2
I(電流)
0 I1 I2 Ir Ik
P1,P2 : 負荷特性の決定用の測定点
図2−電源の負荷特性
――――― [JIS Z 2320-3 pdf 6] ―――――
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Z 2320-3 : 2017
4.2.2 技術的なデータ
装置提供者が提供するデータとしては,次のような項目があるが,提供内容については,受渡当事者間
で協議し,決定する。
a) 無負荷電圧Uo(実効値)
b) 短絡電流Ik(実効値)
c) 定格電流Ir(実効値)
d) 最大出力時の最大使用率(特に指定がある場合以外)
e) 最大電流時の最大通電時間(特に指定がある場合以外)
f) 電流波形
g) 電流制御の方法及び波形による影響
h) 調整可能な電流の可変範囲及び可変ステップ
i) 定電流制御(機能が備わっている場合)
j) 計器の種類(デジタル又はアナログ)
k) 電流出力計器の精度及び分解能
l) 最大電流出力時の電源供給に対する要求事項(電圧,相数,周波数及び電流)
m) 指定された電気的な保護等級(IP)(JIS C 0920参照)
n) 装置の全体寸法
o) 装置の総質量(kg)
p) 脱磁の形式(利用可能な場合)(箇条8参照)
4.2.3 装置の要求仕様
磁化電源は,周囲温度25 ℃±5 ℃及び定格電流Irにおいて,少なくとも次の要件を満たさなければな
らない。
a) 使用率≧10 %
b) 通電時間≧5秒
注記 高頻度試験を行う場合は,より高い使用率を要求することになる。
4.3 定置形磁化台
4.3.1 一般
定置形磁化台は,通電法及び磁束投入法のための設備が含まれたものでよい。磁束は,電磁石磁極又は
固定コイル(JIS Z 2320-1に規定)によって投入する。磁化電源の負荷特性は,4.2による。
多方向磁化用の設備が含まれている場合は,各回路は独立して制御しなければならない。磁化は,全て
の方向において,要求される検出能力を満足させるのに十分なものとする。
電磁石磁極の特性を,丸棒試験体表面に平行な磁界の強さHt(A/m)で表し,丸棒の長さ方向の中央で
測定する。この丸棒はJIS G 4051に規定するS20C若しくはS25C又はJIS G 3101に規定するSS400に適
合し,装置の仕様範囲内の適切な寸法(長さ及び直径)のものとする。
磁束投入法で1 m以上の試験体を分割して磁化する場合には,装置提供者は適切な条件設定及び手順を
示さなければならない。これには,適切な長さ及び直径をもつ丸棒における試験体表面に平行な磁界の強
さも含まれるものとする。
4.3.2 技術的なデータ
装置提供者が提供するデータとしては,次のような項目があるが,提供内容については,受渡当事者間
で協議し,決定する。
――――― [JIS Z 2320-3 pdf 7] ―――――
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Z 2320-3 : 2017
a) 使用可能な磁化のタイプ
b) 使用可能な電流波形
c) 電流制御の方法及び波形による影響
d) 調整可能な電流の可変範囲及び可変ステップ
e) 定電流制御の方法(機能が備わっている場合)
f) 磁化電流の波形チャート
g) 磁化通電時間の範囲
h) 自動化機能
i) 最大出力時の最大使用率
j) 最大電流時の最大通電時間(特に指定がある場合以外)
k) 試験体表面に平行な磁界の強さHt(4.3.1参照)
l) 無負荷電圧Uo(実効値)
m) 短絡電流Ik(実効値)
n) 定格電流Ir(実効値)
o) 磁極断面の寸法
p) 最大クランプ長さ
q) クランプ方法
r) 圧縮空気圧力
s) 主軸台とベッドとの間の最大寸法
t) 試験体の最大直径
u) 試験体の最大質量(支持ありの場合又は支持なしの場合)
v) 使用可能な検出媒体の種類(水性及び油性)
w) 装置配置図の概要(電源,制御盤及び検出媒体槽の位置)
x) 計器の種類(デジタル又はアナログ)
y) 計器の精度及び分解能
z) 最大電流出力時の電源供給に対する要求事項(電圧,相数,周波数及び電流)
aa) 装置の全体寸法
ab) 装置の総質量(kg)
ac) コイルの特性
1) 巻き数
2) 最大アンペア・ターン
3) コイルの長さ
4) コイルの内径又は内寸面の各長さ(コイルが長方形の場合)
5) コイルの中心における磁界の強さ
4.3.3 装置の要求仕様
定置形磁化台は,25 ℃±5 ℃において,次の要件を満たさなければならない。
a) 最大出力時の使用率≧10 %
b) 通電時間≧5秒
c) 試験体表面に平行な磁界の強さ≧2 000 A/m(4.3.1参照)
d) 検出能力。ただし,詳細は,受渡当事者間で協議し,決定する。
――――― [JIS Z 2320-3 pdf 8] ―――――
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Z 2320-3 : 2017
4.3.4 追加要求事項
装置提供者は,指定された試験体に対する検出能力を検証しなければならない。
4.4 専用試験システム
専用試験システムは,通常,自動化され,専門業務用に設計されている。複雑な形の試験体の場合は,
多方向磁化の使用が要求されることがある。そのとき,磁化回路の数及び磁化の設定値は,観察されるき
ず模様の位置及び方向に応じて決定する。
なお,専用試験システムのきずの検出能力は,適切な範囲において,適切な方向を向いた,自然きず又
は人工きずをもつ試験体で検証することができる。
4.4.1 技術的なデータ
装置提供者が提供するデータとしては,次のような項目があるが,提供内容については,受渡当事者間
で協議し,決定する。
a) 磁化回路の数及び形式
b) 磁化回路の特性
c) 電流波形
d) 電流制御方法及び波形による影響
e) 調整可能な電流の可変範囲及び可変ステップ
f) 定電流制御の方法(機能が備わっている場合)
g) 磁化電流の波形チャート
h) サイクル時間
i) 事前塗布及び散布時間
j) 磁化時間
k) 磁化後の待ち時間
l) 計器の種類(デジタル又はアナログ)
m) 計器の精度及び分解能
n) 最大出力時の最大使用率
o) 最大電流時の最大通電時間(4.2に指定されている場合以外)
p) 最大電流出力時の電源供給に対する要求事項(電圧,相数,周波数及び電流)
q) 脱磁のタイプ
r) 使用可能な検出媒体のタイプ(水性及び油性)
s) 装置の概要配置図(電源,制御盤及び検出媒体の液槽の位置)
t) 圧縮空気圧力
u) 装置の全体寸法
v) 装置質量(kg)
4.4.2 装置の要求仕様
専用試験システムは,周囲温度25 ℃±5 ℃において,少なくとも次の要件を満たさなければならない。
a) 合意された検出能力に合致する。
b) 合意されたサイクル時間に合致する。
c) 各回路は独立して制御できる。
――――― [JIS Z 2320-3 pdf 9] ―――――
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5 紫外線照射装置
5.1 一般
紫外線照射装置(以下,ブラックライトという。)の紫外線に関する特性は,JIS Z 2323による。
5.2 技術的なデータ
装置提供者が提供するデータとしては,次のような項目があるが,提供内容については,受渡当事者間
で協議し,決定する。
a) 点灯開始から1時間後のブラックライト本体の表面温度
b) 冷却の方式(例 熱交換器)
c) 電源供給の要求事項(電圧,相数,周波数及び電流)
d) 装置の全体寸法
e) 装置質量(kg)
f) 規定電圧でのブラックライトのフィルタ面から400 mmの距離における次のデータ
1) 照射領域(表面における紫外線放射照度の最大値の半分以上の強度で照射される領域の直径又は長
さ×幅)
2) 15分運転後の紫外線放射照度
3) 200時間連続運転後の紫外線放射照度(代表的な値)
4) 15分運転後の可視光照度(5.3参照)
5) 200時間連続運転後の可視光照度(代表的な値)
5.3 装置の要求仕様
ブラックライトは,周囲温度25 ℃±5 ℃において,少なくとも次の要件を満たさなければならない。
a) 検出媒体の飛散に対するフィルタの防護
b) 設置位置における手持ち式装置の危険防護
c) ブラックライトの光源から400 mmの距離における紫外線放射照度が10 W/m2以上
d) ED及び光ファイバを使用したブラックライトは,試験面で紫外線放射照度が10 W/m2以上
e) ブラックライトの光源から400 mmの距離における可視光照度が20 lx以下
f) 取っ手(にぎり部)の表面温度が40 ℃以下
6 検出媒体循環システム
6.1 一般
通常,定置形磁化台及び専用試験システムでは,検出媒体を,液槽,散布装置及び排水トレーの中で循
環させる。
6.2 技術的なデータ
装置提供者は,次のデータを提供する。
a) かくはん方法
b) 液槽,散布装置及び排水トレーの材質
c) 腐食防護
d) 適用される検出媒体の種類(水性及び油性)
e) 検出媒体の吐出量
f) 液槽の容量
g) ポンプの電源供給に対する要求事項(装置と分離している場合)
――――― [JIS Z 2320-3 pdf 10] ―――――
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JIS Z 2320-3:2017の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 9934-3:2015(MOD)
JIS Z 2320-3:2017の国際規格 ICS 分類一覧
JIS Z 2320-3:2017の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC0920:2003
- 電気機械器具の外郭による保護等級(IPコード)
- JISG3101:2015
- 一般構造用圧延鋼材
- JISG3101:2020
- 一般構造用圧延鋼材
- JISG4051:2016
- 機械構造用炭素鋼鋼材
- JISZ2300:2009
- 非破壊試験用語
- JISZ2300:2020
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- JISZ2320-1:2017
- 非破壊試験―磁粉探傷試験―第1部:一般通則
- JISZ2323:2017
- 非破壊試験―浸透探傷試験及び磁粉探傷試験―観察条件