JIS Z 2320-3:2017 非破壊試験―磁粉探傷試験―第３部：装置 | ページ 3

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h) 手動及び自動式散布
i)  定置式及び可搬式散布装置
j)  手持ちホース

6.3 装置の要求仕様

  検出媒体循環システムは,少なくとも次の要件を満たさなければならない。
a) 検出媒体循環システムに耐食性がある。
b) 検出媒体の吐出量の制御ができる。

7 検査室

7.1 一般

  蛍光性の検出媒体を使用する場合,きずによる磁粉模様とバックグラウンドとのコントラストを確実に
するために,周辺可視光の照度を低くして検査を行う(JIS Z 2323参照)。この目的のために,検査室が必
要である。

7.2 技術的なデータ

  装置提供者は,次のデータを提供する。
a)   領域紫外線のない場合の可視光の照度
b) 可燃性の等級
c) 構造材料
d) 換気のタイプ
e) 寸法及び入出路

7.3 装置の要求仕様

  検査室は,少なくとも次の要件を満たさなければならない。
a) 可視光照度≦20 lx
      なお,より強いA領域紫外線を用いて,対象試験体と同様のきず磁粉模様又は標準試験片の磁粉模
    様が確認されるならば,20 lx以上の可視光照度であってもよい。
b) 難燃性材料
c) 検査員の視野内に可視光線及び/又はA領域紫外線の反射があってはならない。

8 脱磁装置

8.1 一般

  脱磁設備は,磁化装置と一体となっている場合と磁化装置とは別置きの場合とがある。磁粉模様の観察
が脱磁後に行われる場合には,磁粉模様が適切な方法によって保持されるものでなければならない。

8.2 技術的なデータ

  装置提供者は,次のデータを提供する。
a) 脱磁方式
b) 電流制御の方式
c) 磁界の強さ(可能な場合,空芯脱磁コイルの中心)
d) 指定された試験体の残留磁気
e) 最大電流出力時の電源供給に対する要求事項(電圧,相数,周波数及び電流)(磁化装置と別置きの場
    合)

――――― [JIS Z 2320-3 pdf 11] ―――――

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Z 2320-3 : 2017
f)  装置の全体寸法(磁化装置と別置きの場合)
g) 装置の総質量(kg)(磁化装置と別置きの場合)

8.3 装置の要求仕様

  脱磁装置は,少なくとも次の要件を満たさなければならない。
  装置は指定されたレベル(一般に400 A/m1 000 A/m)まで脱磁できる(受渡当事者間で別の取決めが
ない場合に限る。)。
    注記 一般に400 A/m1 000 A/mは,空間では0.5 mT1.2 mTに対応する。

9 測定

9.1 一般

  装置提供者は,次のデータを提供する。
a) 装置特性の決定
b) 検査パラメータの確認
  全ての電流及び磁界の測定は,波形に忠実に応答する測定器だけを用いなければならない。真の実効値
以外の値から計算によって導かれた波高値又は実効値の測定器は用いてはならない。真の実効値測定器が
実効値の測定に用いられる場合には,測定器の波高率は被測定波形の波高率より大きく,通常は5を下回
ってはならない。

9.2 電流測定

  ひずみのない正弦波交流の測定はクランプメーター又は従来の測定器が使用できる。位相制御された電
流の測定は簡単ではないので,正確に測定できているかを確認する必要がある。正確に電流を測定するた
めには,シャント抵抗などを用いて電流波形を観察しなければならない。

9.3 磁界測定

9.3.1  一般
  磁化状態は,ホール素子プローブなどを用いて,試験体表面に平行な磁界の強さを測定することによっ
て決定する。要求される磁界の強さを得る場合,磁化方法及び測定位置に関して,次の三つの要因を考慮
する。
a) 磁気センサの向き 感受面は,試験体表面に対して垂直に置く。
      注記 垂直な磁界成分が存在する場合には,素子の傾斜は本質的な誤差を招く。
b) 磁気センサの表面への接近 磁界が表面からの高さに応じて大きく変わる場合は,表面での値を推定
    するために,異なる高さで2回測定して外挿して求めてもよい。
c) 磁界の方向 磁界の方向及び大きさを決定するために,プローブを回転させ,最大値を読み取る。
9.3.2  技術的なデータ
  装置提供者は,次のデータを提供する。
a) 測定値
b) プローブの形式及び寸法
c) プローブ表面からのセンサの距離
d) 感受面の配置
e) 測定機器のタイプ
f)  測定機器の寸法
g) 測定機器の電源(バッテリ又は商用電源)

――――― [JIS Z 2320-3 pdf 12] ―――――

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9.3.3  要求仕様
  測定装置は,少なくとも次の要件を満たさなければならない。
− 測定精度±10 %以内

9.4 観察条件

  観察装置の要求仕様は,JIS Z 2323による。

9.5 機器の検証及び校正

  校正間隔期間中の測定誤差がこの規格の規定範囲内となるように,機器の検証及び校正を,手順に従っ
て実施する。この作業は,機器の製造業者の推奨に従うか,又は使用者の品質保証システムに沿って行う。

――――― [JIS Z 2320-3 pdf 13] ―――――

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    Z 2320-3 : 2017
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                                                                  附属書JA
                                                                                                                                                 32
                                                                   (参考)
                                                                                                                                                   0-
                                                                                                                                                    3 : 2
                                                     JISと対応国際規格との対比表
                                                                                                                                                        017
     JIS Z 2320-3:2017 非破壊試験−磁粉探傷試験−第3部 : 装置            ISO 9934-3:2015,Non-destructive testing−Magnetic particle testing−Part 3: Equipment
     (I)   JISの規定                    (II)  (III)国際規格の規定                                                  (V)   JISと国際規格との技術的差
                                                                        (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
                                     国際                               の評価及びその内容                      異の理由及び今後の対策
                                     規格
      箇条番号          内容                箇条           内容         箇条ごと        技術的差異の内容
                                     番号
      及び題名                              番号                        の評価
     2A 用語及  JIS Z 2300を規定。         −               −          追加                                    実質的な技術的差異はない。
                                                                                 用語の箇条を設け,用語を規定した
     び定義                                                                      JISを引用した。
     3 安全上の JIS Z 2320-1の箇条5        3       JISとほぼ同じ。      変更     国内の事情に合わせて安全上の記 実質的な技術的差異はない。
     予防措置   を引用。                                                         載を追加した。
     4 装置の様 4.1 可搬形電磁石           4       EN 10084 鋼種(C22) 変更     国ごとに鋼種に関する規格は異な 実質的な技術的差異はない。
     式         4.1.1 一般                         を規定。                      るので,相当する入手しやすい
                特性試験に使用する鋼                                             S25C及びSS400を追加した。
                板
                4.1.2 技術的なデータ       4.1.2                        追加                                    実質的な技術的差異はない。
                                                                                 提供するデータの詳細は,受渡当事
                                                                                 者間で協議し,決定するとした。
                4.1.2 d) 絶縁抵抗及び                                   追加     ISO規格にはない絶縁抵抗及び耐  今後,ISOに提案を検討する。
                耐電圧のデータ提供を                                             電圧の測定を安全性確認のため追
                追加                                                             加した。
                4.1.2 m) 全磁束のデー                                   追加     ISO規格にはない全磁束の測定を  今後,ISOに提案を検討する。
                タ提供を追加                                                     装置の性能データとして追加した。
                4.1.3 装置の要求仕様       4.1.3   +30 ℃              変更     日本の気候条件に対応するため周 実質的な技術的差異はない。
                周囲温度                                                         囲温度25 ℃±5 ℃に変更した。
                4.1.3 f) 絶縁抵抗値を                                   追加     絶縁抵抗値を追加した。         安全性確認のため追加した。
                規定                                                                                            今後,ISOへ提案する。
     5 紫外線照 5.3 d)   ED及び光ファ       5                            追加     ISO規格にはないLED及び光ファ   今後,ISOに提案を検討する。
     射装置     イバによる試験面での                                             イバを使用したブラックライトの
                紫外線放射照度                                                   試験面での紫外線放射照度を追加
                                                                                 した。

――――― [JIS Z 2320-3 pdf 14] ―――――

                                                                                                                                          13
                                                                                                                               Z 2320-3 : 2017
     (I)   JISの規定                    (II)  (III)国際規格の規定                                                  (V)   JISと国際規格との技術的差
                                                                        (IV)   JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
                                     国際                               の評価及びその内容                      異の理由及び今後の対策
                                     規格
      箇条番号          内容                箇条           内容         箇条ごと        技術的差異の内容
                                     番号
      及び題名                              番号                        の評価
     7 検査室   7.3 a) 可視光照度          7.3     20 lx以下            追加     紫外線強度が強い場合には20 lx以今後,ISOに提案を検討する。
                                                                                 上でもよいとした。
     JISと国際規格との対応の程度の全体評価 : ISO 9934-3:2015,MOD
     注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。
            − 追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
            − 変更  国際規格の規定内容を変更している。
     注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。
            − MOD  国際規格を修正している。
                                                                                                                                              Z2 320-
                                                                                                                                                    3 : 2017
                                                                                                                                                  2