JIS Z 2357:2019 超音波探傷によるライニング材の剥離検出試験方法及び評価方法 | ページ 3

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8 試験

8.1 準備

8.1.1  接触媒質の塗布
  探触子で測定する部位については,接触媒質を塗布する。
8.1.2  DACの作成
  DACの作成手順は,次による。
a) 7.3で基準感度を設定した後,エコー高さが(40±2)%となる試験対象物の健全部に探触子を当てる。
b) 各多重反射エコーのピークを測定装置の表示部上にプロットし,各点を線で結ぶ。この線を基準DAC
    とする。
c) 超音波探傷器の感度を基準感度+2 dBにして,b) の操作を行う。この線を補助DACとする。
d)   ) の操作を基準感度+4 dB,+6 dB,−2 dB,−4 dB及び−6 dBについて行い,補助DACを作成す
    る。

8.2 測定

  測定は,試験対象物の状態,設置環境などによって,次のいずれかで行う。
a) 連続測定 連続測定は,次のいずれかによる。
  1) 線状走査 探触子を試験対象物表面に対して,線状に走査する方法
  2) 面状走査 探触子を試験対象物表面に対して,格子状又はジグザグ状に走査する方法
b) 点測定 試験対象物に対して定期的に試験を行い,境界の変化を確認するときなどに使用する方法

9 測定結果の評価

9.1 健全部の判定

  エコー高さが(40±2)%の部位を健全部と判定する。ただし,塗膜厚さなどの影響によって,この範囲
から外れたエコーについても,多重反射エコーの各ピークをつないだ減衰曲線の減衰率(dB)が基準DAC
と同じ場合は健全部とする。実際には,減衰曲線を補助DACと比較して判定する。
9.2   離部の判定
  エコー高さが100 %を超える部位を離部と判定する。ただし,エコー高さが100 %以下であっても,
多重反射エコーの各ピークをつないだ減衰曲線の減衰率(dB)が基準DACよりも小さい場合は離部と
する。実際には減衰曲線を補助DACと比較して判断する。
9.3   留意部の判定
  エコー高さが10 %未満の部位を留意部と判定する。ただし,エコー高さが10 %以上であっても,多重
反射エコーの各ピークをつないだ減衰曲線の減衰率が基準DACよりも大きい場合は留意部とする。実際
には減衰曲線を補助DACと比較して判断する。

9.4 ひろ(拡)がり範囲の測定

  検出した健全部,離部及び留意部を中心に,探触子を走査してその連続する範囲を求め,それぞれ連
続する範囲を健全部,離部及び留意部の範囲とする。

10 試験報告書

  次の事項を記録する。
a) この規格の番号
b) 試験日

――――― [JIS Z 2357 pdf 11] ―――――

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Z 2357 : 2019
c) 試験場所
d) 試験技術者のレベル及び氏名
e) 試験対象部の材質,形状及び寸法
f)  試験条件(使用装置,探触子,感度調整に使用した対比試験片の種類,基準感度,測定に用いた反射
    回数など)
g)   AC(時間軸幅及び補助DAC間隔)
h) 試験結果及び評価結果
i)  その他特記事項