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附属書 試験結果の合否判定基準
1. 適用範囲 この附属書は,パイプラインの円周突合せ溶接部の非破壊試験結果の合否判定を行う場合
に適用する。
2. A基準による場合
2.1 外観試験による合否判定基準
(1) 余盛形状 余盛の高さは,3mmを超えてはならない。
(2) アンダカット アンダカットは,次のとおりとする。
(a) 深さ0.5mmを超えるものは,長さに関係なく不合格とする。
(b) 深さ0.3mmを超え0.5mm以下のものは,1個の長さ30mm(内面にあっては50mm)を超えるもの,
又は合計長さが管の円周長さの15%を超えるものは不合格とする。
(c) 深さ0.3mm以下のものは,長さに関係なく合格とする。
(3) その他 試験部及びその付近には,割れ,アークストライクの跡,有害と認められる程度のオーバラ
ップ,ピット,ジグ跡などがあってはならない。
また,ビードの形状は一様で,有害と認められる程度のスラグ,スパッタなどが付着していてはな
らない。
2.2 放射線透過試験による合否判定基準
(1) ルートの溶込み不良 目違いのない部分の溶込み不良は,1個の長さ20mm以下,連続した溶接長
300mm当たり合計長さ25mm以下を合格とする。
(2) 目違いによる溶込み不良 ルートの片側の角が露出している(又は溶融されていない。)とき,1個の
長さ40mm以下,連続した溶接長300mm当たり合計長さ70mm以下を合格とする。
(3) 内面へこみ 内面へこみは,その部分の写真濃度がこれに接する母材部分の写真濃度を超えない場合
は長さに関係なく合格とするが,超える場合には(5)の溶落ちと同様に取り扱う。
(4) 融合不良 母材と溶接金属との間の融合不良は,1個の長さ20mm以下,連続した溶接長300mm当た
り合計長さ25mm以下を合格とする。
溶接パス間の融合不良は,1個の長さ20mm以下,連続した溶接長300mm当たり合計長さ30mm以
下を合格とする。
(5) 溶落ち 溶落ちは,いかなる方向に測った寸法も1個につき6mm又は管の肉厚のいずれか小さい方
を超えることなく,連続した溶接長300mm当たり最大寸法の合計長さ12mm以下を合格とする。
(6) 細長いスラグ巻込み 細長いスラグ巻込みは,1個の長さ20mm以下,幅1.5mm以下,連続した溶接
長300mm当たり合計長さ30mm以下を合格とする。平行に並んだスラグ巻込みは,その間隔が1mm
を超えていればそれぞれ独立したきずとみなす。
(7) 孤立したスラグ巻込み 孤立したスラグ巻込みは,1個の長さ6mm以下,幅3mm以下,連続した溶
接長300mm当たり合計長さ12mm以下を合格とする。
(8) タングステン巻込み タングステン巻込みは,JIS Z 3104附属書4の第4種のきずの像の分類の4類
以外を合格とする。
(9) ブローホール及びこれに類する丸みを帯びたきず ブローホール及びこれに類する丸みを帯びたき
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ずは,JIS Z 3104附属書4の第1種のきずの像の分類の4類以外を合格とする。
(10) 虫状気孔 虫状気孔(パイプ)は,JIS Z 3104附属書4の第2種のきずの像の分類の4類以外を合格
とする。
(11) 中空ビード 中空ビードは,1個の長さ10mm以下,連続した溶接長300mm当たり合計長さ50mm以
下で,長さ6mmを超えるものは,50mm以上離れていなければならない。
(12) 割れ 割れは,すべて不合格とする。
(13) きずの集積 (1)から(11)までに掲げるきずの長さの和が管の円周長さの8%以下で,かつ,連続した溶
接長300mm当たり50mm以下を合格とする。ただし,(2)に掲げるきずを除く。
(14) アンダカット 内面のアンダカットは,1個の長さは50mm,合計長さは管の円周長さの15%を超え
てはならない。
(15) きずの写真濃度
(a) 透過写真上の大きさで合格するきずでも,写真濃度が母材部の写真濃度より著しく高い場合には,
不合格とする。
(b) 内面のビードの写真濃度が著しく低い場合には,不合格とする。
2.3 超音波探傷試験による合否判定基準
2.3.1 きずの評価点 きずの評価点は,管の肉厚に応じて,附属書表1のA,B,Cの値で区分されるき
ずの指示長さと,きずエコー高さの領域によって附属書表2に従って求める。ただし,きずの指示長さの
区分は,以下の事項を考慮する。
(1) 同一とみなされる深さにおいて,きずときずとの間隔が,大きい方のきずの指示長さと同じか又はそ
れより短い場合は同一きず群とみなし,それらを間隔を含めて連続したきずとして取り扱う。
きずときずとの間隔が,両者のきずの指示長さのうち,大きい方のきずの指示長さより長い場合は,
それぞれ独立したきずとみなす。
(2) (1)によって得られたきずの指示長さ及び1個のきずの指示長さを2方向以上から探傷して異なる値が
得られた場合は,いずれか大きい方の値をきずの指示長さとする。
附属書表1 超音波探傷試験におけるきずの指示長さの区分
単位mm
管の肉厚 t きずの指示長さの区分の境界
A B C
6以上 18以下 6 9 18
18を超えるもの t/3 t/2 t
附属書表2 超音波探傷試験におけるきずの評価点
きずエコー高さ きずの指示長さの区分
Aを超え Bを超え Cを超え
A以下 B以下 C以下 るもの
領域III 1点 2点 3点 4点
領域IV 2点 3点 4点 4点
2.3.2 合否の判定 2.3.1に定めたきずの評価点に基づき3点以下であり,かっ,連続した溶接長300mm
当たり評価点の和が5点以下のものを合格とする。
2.4 磁粉探傷試験による合否判定基準
2.4.1 磁粉模様の分類 磁粉探傷試験で得られた磁粉模様の分類は,次による。
(1) 割れによる磁粉模様 割れによる磁粉模様は,本体4.4.4(8)によって割れと識別された磁粉模様とする。
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(2) 独立磁粉模様 独立磁粉模様は,独立して存在する個々の磁粉模様で,次の2種類に分類する。
(a) 線状磁粉模様 磁粉模様においてその長さが幅の3倍以上のものは,線状磁粉模様とする。
(b) 円形状磁粉模様 磁粉模様において線状磁粉模様以外のものは,円形状磁粉模様とする。
(3) 連続磁粉模様 複数個の磁粉模様がほぼ同一直線上に連なって存在し,その相互の間隔が2mm以下
の磁粉模様は,連続磁粉模様とする。連続磁粉模様の長さは,磁粉模様の個々の長さ及び相互の間隔
を加え合わせた値とする。
(4) 分散磁粉模様 一定の面積内に複数個の磁粉模様が分散して存在する磁粉模様は,分散磁粉模様とす
る。
2.4.2 合否の判定
(1) 割れによる磁粉模様は,すべて不合格とする。
(2) 独立磁粉模様及び連続磁粉模様は,1個の長さ8mm以下を合格とする。
(3) 分散磁粉模様については,磁粉模様の分類及び長さを附属書表3に従って評価し,連続した溶接長
300mm当たりの合計点が10点以下の場合を合格とする。ただし,円形状磁粉模様があるときは,浸
透探傷試験によって評価する。
附属書表3 磁粉探傷試験におけるきずの評価点
分類 磁粉模様の長さ
1mmを超え 2mmを超え 4mmを超え
2mm以下 4mm以下 8mm以下
線状磁粉模様
1点 2点 4点
及び連続磁粉模様
円形状磁粉模様 浸透探傷試験による
2.5 浸透探傷試験による合否判定基準
2.5.1 浸透指示模様の分類 浸透探傷試験で得られた浸透指示模様の分類は,次による。
(1) 割れによる浸透指示模様 割れによる浸透指示模様は,本体4.5.1(7)によって割れと識別された浸透指
示模様とする。
(2) 独立浸透指示模様 独立浸透指示模様は,独立して存在する個々の浸透指示模様で,次の2種類に分
類する。
(a) 線状浸透指示模様 浸透指示模様においてその長さが幅の3倍以上のものは,線状浸透指示模様と
する。
(b) 円形状浸透指示模様 浸透指示模様において線状浸透指示模様以外のものは,円形状浸透指示模様
とする。
(3) 連続浸透指示模様 複数個の浸透指示模様がほぼ同一直線上に連なって存在し,その相互の間隔が
2mm以下の浸透指示模様は,連続浸透指示模様とする。連続浸透指示模様の長さは,浸透指示模様の
個々の長さ及び相互の間隔を加え合わせた値とする。
(4) 分散浸透指示模様 一定の面積内に複数個の浸透指示模様が分散して存在する浸透指示模様は,分散
浸透指示模様とする。
2.5.2 合否の判定
(1) 割れによる浸透指示模様は,すべて不合格とする。
(2) 独立浸透指示模様及び連続浸透指示模様は,1個の長さ8mm以下を合格とする。
(3) 分散浸透指示模様については,浸透指示模様の分類及び長さを附属書表4に従って評価し,連続した
溶接長300mm当たりの合計点が10点以下の場合を合格とする。
――――― [JIS Z 3050 pdf 23] ―――――
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(4) 円形状浸透指示模様と線状磁粉模様及び連続磁粉模様とが混在するときは,それぞれ附属書表4及び
附属書表3に従って求めた評価点の合計点が,連続した溶接長300mm当たり10点以下の場合を合格
とする。
附属書表4 浸透探傷試験におけるきずの評価点
分類 浸透指示模様の長さ
1mmを超え 2mmを超え 4mmを超え
2mm以下 4mm以下 8mm以下
線状浸透指示模様 1点 2点 4点
及び連続浸透指示模様
円形状浸透指示模様 − 1点 4点
3. B基準による場合
3.1 外観試験による合否判定基準
(1) 余盛形状 余盛の高さは,3mmを超えてはならない。
また,附属書図1のフランク角度が150°以上,又は曲率半径が3mm以上を合格とする。
附属書図1 フランク角度
(2) アンダカット アンダカットは,次のとおりとする。
(a) 深さ0.5mmを超えるものは,長さに関係なく不合格とする。
(b) 深さ0.3mmを超え0.5mm以下のものは,1個の長さ20mmを超えるもの,又は合計長さが管の円周
長さの10%を超えるものを不合格とする。
(c) 深さ0.3mm以下のものは,長さに関係なく合格とする。
(3) その他 試験部及びその付近には,割れ,アークストライクの跡,有害と認められる程度のオーバラ
ップ,ピット,ジグ跡などがあってはならない。
また,ビードの形状は一様で,有害と認められる程度のスラグ,スパッタなどが付着していてはな
らない。
3.2 放射線透過試験による合否判定基準
(1) 内部欠陥は,JIS Z 3104附属書4のきずの像の分類の1類又は2類を合格とする。
(2) 内部へこみは,その部分の写真濃度がこれに接する母材部分の写真濃度を超えない場合,長さに関係
なく合格とする。
(3) きずの写真濃度
(a) 透過写真上の大きさで合格するきずでも,写真濃度が母材部の写真濃度より著しく高い場合には,
不合格とする。
(b) 内面のビードの写真濃度が著しく低い場合には,不合格とする。
(4) オーバラップ 内面のビードにオーバラップのような写真濃度の不連続な影の部分がない場合を合格
とする。
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3.3 超音波探傷試験による合否判定基準 2.3.1の附属書表1及び附属書表2によって評価し,評価点2
点以下であり,かつ,連続した溶接長300mm当たり評価点の和が4点以下のものを合格とする。
3.4 磁粉探傷試験による合否判定基準
(1) 割れによる磁粉模様は,すべて不合格とする。
(2) 独立磁粉模様及び連続磁粉模様は,1個の長さ4mm以下を合格とする。
(3) 分散磁粉模様については,磁粉模様の分類及び長さを2.4.2の附属書表3に従って評価し,連続した溶
接長300mm当たりの合計点が5点以下の場合を合格とする。ただし,円形状磁粉模様があるときは,
浸透探傷試験によって評価する。
3.5 浸透探傷試験による合否判定基準
(1) 割れによる浸透指示模様は,すべて不合格とする。
(2) 独立浸透指示模様及び連続浸透指示模様は,1個の長さ4mm以下を合格とする。
(3) 分散浸透指示模様については,浸透指示模様の分類及び長さを2.5.2の附属書表4に従って評価し,連
続した溶接長300mm当たりの合計点が5点以下の場合を合格とする。
(4) 円形状浸透指示模様と線状磁粉模様及び連続磁粉模様とが混在するときは,それぞれ附属書表4及び
附属書表3に従って求めた評価点の合計点が,連続した溶接長300mm当たり5点以下の場合を合格
とする。
――――― [JIS Z 3050 pdf 25] ―――――
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JIS Z 3050:1995の国際規格 ICS 分類一覧
- 25 : 生産工学 > 25.160 : 溶接,ろう付け及びはんだ付け > 25.160.40 : 溶接継手及び溶接部分
JIS Z 3050:1995の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISG0565:1992
- 鉄鋼材料の磁粉探傷試験方法及び磁粉模様の分類
- JISK7652:1994
- 写真 ― 濃度測定 ― 第2部 透過濃度の幾何条件
- JISK7653:1988
- 写真 ― 濃度測定 ― 第3部 分光条件
- JISZ2300:2009
- 非破壊試験用語
- JISZ2300:2020
- 非破壊試験用語
- JISZ2306:2015
- 放射線透過試験用透過度計
- JISZ2343:1992
- 浸透探傷試験方法及び浸透指示模様の分類
- JISZ2345:2000
- 超音波探傷試験用標準試験片
- JISZ3060:2015
- 鋼溶接部の超音波探傷試験方法
- JISZ3104:1995
- 鋼溶接継手の放射線透過試験方法
- JISZ4560:2018
- 工業用γ線装置
- JISZ4561:1992
- 工業用放射線透過写真観察器
- JISZ4606:2007
- 工業用X線装置