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ISO 17862:2013 表面化学分析—二次イオン質量分析—シングルイオンカウンティング飛行時間型質量分析計の強度スケールの直線性

ISO 17862:2013の概要

ISO17862:2013の規格概要

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Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

ISO 17862:2014は、スペクトルの同位体比に基づくテストを使用して、シングルイオンカウンティング飛行時間型 (TOF) 二次イオン質量分析計の強度スケールの直線性からの発散の許容限界の最大カウント率を決定する方法を指定しますポリ（テトラフルオロエチレン） (PTFE) から。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO17862:2013 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 17862:2013
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — 二次イオン質量分析 — 単一イオンカウント飛行時間型質量分析計の強度スケールの直線性
発行日 (Publication date)
2013-12-10
更新日：確認日 (Update date,Date confirmed)
2020-01-09
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
25
TC（専門委員会）:Technical Committee
ISO/TC 201/SC 6：二次イオン質量分析法 (Secondary ion mass spectrometry)
ICS：International Classification for Standards（国際規格分類）
71.040.40：化学分析 (Chemical analysis)
ISO 対応 JIS 規格
JIS K 0155:2018 (MOD),
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40

ISO 17862:2013 関連規格 履歴一覧

ISO17862:2013 対応 JIS 規格一覧

ISO17862:2013 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71：化学技術  > 71.040：分析化学  > 71.040.40：化学分析

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。