ISO 23830:2008 表面化学分析—二次イオン質量分析—静的二次イオン質量分析における相対強度スケールの再現性と不変性

ISO 23830:2008の概要

ISO23830:2008の規格概要

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Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

ISO 23830:2008 は、一般的な分析目的で、静的二次イオン質量分析計の陽イオン相対強度スケールの再現性と一定性を確認する方法を指定しています。

電荷中和用の電子銃を組み込んだ機器にのみ適用されます。

強度/質量応答関数のキャリブレーションを意図したものではありません。

その校正は、機器の製造元または別の組織によって行われる場合があります。

本方法は、器具の使用による相対強度の一定性を確認するためのデータを提供します。

この恒常性に影響を与える可能性のある機器設定のいくつかについてガイダンスが提供されます。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO23830:2008 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 23830:2008
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 — 二次イオン質量分析 — 静的二次イオン質量分析における相対強度スケールの再現性と恒常性
発行日 (Publication date)
2008-11
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2022-12-09
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
12
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 201/SC 6:二次イオン質量分析法 (Secondary ion mass spectrometry)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
71.040.40:化学分析 (Chemical analysis)
ISO 対応 JIS 規格
JIS K 0153:2015 (IDT),
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40

ISO 23830:2008 関連規格 履歴一覧

ISO23830:2008 対応 JIS 規格一覧

ISO23830:2008 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71:化学技術  > 71.040:分析化学  > 71.040.40:化学分析

正誤表/修正 一覧 (Corrigenda/Amendments)

改訂 一覧 (Revised)

SDGs 情報

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。